Os cristais, embora há muito admirados pela sua regularidade e simetria, não foram estudados cientificamente até o século XVII. Vamos dar uma olhada no início da história da cristalografia.
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Usando o princípio da difração de raios X, o ângulo de corte de monocristais naturais e artificiais é determinado com precisão e rapidez, e a máquina de corte é equipada para corte direcional dos referidos cristais.
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O método de auxiliar o estresse interno sem energia adicional proposto neste artigo fornece uma nova estratégia econômica e conveniente para melhorar a dinâmica da reação da bateria.
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O XRD pode medir amostras a granel e em pó e tem requisitos diferentes para diferentes tamanhos e propriedades de amostras.
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O difratômetro global de raios X (XRD) tem se desenvolvido continuamente nos últimos anos e a China é um mercado com grandes perspectivas de desenvolvimento.
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Tomando a escala de deposição como exemplo, este artigo apresenta como usar o difratômetro de raios X para fase qualitativa e análise quantitativa.
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A aplicação de novas tecnologias e novos produtos, como 5G, big data e inteligência artificial, trará uma enorme demanda ao mercado de semicondutores, e os gastos globais com equipamentos de semicondutores entraram em um ciclo ascendente.
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XRD de alta resolução (HR-XRD) é um método comum para medir a composição e espessura de semicondutores compostos, como SiGe, AlGaAs, InGaAs, etc.
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XRD é um meio de pesquisa que consiste na difração por difração de raios X de um material para analisar seu padrão de difração para obter informações como a composição do material, a estrutura ou forma dos átomos ou moléculas dentro do material.
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A difração de raios X de incidência pastosa (GI-XRD) é um tipo de técnica de difração de raios X, que se diferencia do experimento XRD tradicional, principalmente por alterar o ângulo de incidência dos raios X e a orientação da amostra.
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