



Este acessório para filmes finos em difratômetros de raios X permite análises de alta precisão de filmes sobre substratos. Sua óptica otimizada suprime a interferência do substrato, amplificando sinais fracos do filme para dados confiáveis em escalas de nanômetros a micrômetros. Essencial para pesquisa e desenvolvimento em eletrônica, semicondutores e novas energias.
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