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O espectrômetro de estrutura fina de absorção de raios X (XAFS) é uma ferramenta poderosa para estudar a estrutura atômica ou eletrônica local de materiais, amplamente utilizada em campos populares como catálise, energia e nanotecnologia.

O espectro de estrutura fina de absorção de raios X (XAFS) é uma ferramenta analítica usada para estudar a estrutura e as propriedades de substâncias. O XAFS obtém informações sobre átomos e moléculas em uma amostra medindo a absorção de raios X da amostra dentro de uma faixa de energia específica. O XAFS é uma ferramenta poderosa para estudar a estrutura atômica ou eletrônica local de materiais. A tecnologia XAFS é amplamente usada em ciência de materiais, química, biologia e outros campos, especialmente em áreas de pesquisa como catálise, baterias, sensores, etc. O XAFS tem um importante valor de aplicação. Por meio da tecnologia XAFS, os pesquisadores podem obter uma compreensão mais profunda da microestrutura e das propriedades das amostras, fornecendo suporte poderoso para o design e a otimização de novos materiais.

O espectrômetro de estrutura fina de absorção de raios X é uma ferramenta poderosa para estudar a estrutura atômica ou eletrônica local de materiais, amplamente utilizada em campos populares como catálise, energia e nanotecnologia. Principais vantagens do XAFS: Produto de maior fluxo luminoso: Fluxo de fótons superior a 1.000.000 fótons/segundo/eV, com eficiência espectral várias vezes maior que outros produtos; Obtenha qualidade de dados equivalente à radiação síncrotron Excelente estabilidade: A estabilidade da intensidade da luz monocromática da fonte de luz é melhor que 0,1%, e o desvio de energia durante a coleta repetida é menor que 50 meV Limite de detecção de 1%: High luminous flux, excellent optical path optimization, and excellent light source stability ensure high-quality EXAFS data is obtained even when the measured element content is>1%。