As condições de potência dependem do tubo de raios X como material alvo e tipo de foco. Embora os alvos de Cu sejam amplamente utilizados para difração, o uso de alvos de Cu para análise de austenita residual não é recomendado devido à forte fluorescência dos materiais à base de ferro.
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Pela difração de raios X do material e análise do seu padrão de difração, são obtidas informações como a composição do material, a estrutura ou morfologia dos átomos ou moléculas internas.
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A difração de raios X (XRD) é um meio de pesquisa para obter informações como a composição de um material, a estrutura ou forma de um átomo ou molécula interna, analisando seu padrão de difração por meio da difração de raios X.
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Usando o princípio da difração de raios X, o ângulo de corte de monocristais naturais e artificiais é determinado com precisão e rapidez, e a máquina de corte é equipada para corte direcional dos referidos cristais.
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A fluorescência de raios X de reflexão total (TXRF) é uma técnica de análise de elementos de superfície comumente usada para analisar partículas, resíduos e impurezas em superfícies lisas.
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O analisador de cristal de raios X é um tipo de grande instrumento analítico para estudar a microestrutura interna de substâncias, usado principalmente na orientação de cristal único, detecção de defeitos, determinação de tensão residual, deslocamento de cristal único e assim por diante.
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