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A espectroscopia de difração de raios X analisa principalmente o estado cristalino e a microestrutura dos materiais, e existem dois métodos de medição de difração de raios X para análise de cristal.

O instrumento automático de orientação de raios X é um instrumento indispensável para processamento de precisão e fabricação de dispositivos de cristal. É amplamente utilizado na pesquisa, processamento e fabricação de materiais cristalinos.

A composição do padrão de difração é principalmente a posição e intensidade do pico de difração, e nossa análise do padrão XRD é baseada nas mudanças na intensidade e posição para explicar as mudanças no micro e macro do material.

Um difratômetro de raios X é um instrumento de precisão usado para estudar a estrutura cristalina, morfologia e propriedades da matéria. Durante o processo de embalagem e transporte, certas medidas precisam ser tomadas para garantir que a segurança e o desempenho do instrumento não sejam afetados.

Como um dos meios importantes de caracterização da estrutura de materiais, o XRD é amplamente utilizado em materiais, física, química, medicina e outros campos.

O difratômetro de raios X é usado principalmente para caracterização de fase, análise quantitativa, análise de estrutura cristalina, análise de estrutura de material, análise de orientação cristalina de amostras de pó, bloco ou filme fino, etc.

Na análise de raios X, um instrumento usado para medir o ângulo entre um feixe de raios X incidente e um feixe de raios X difratado. O difratômetro mapeia automaticamente a variação da intensidade de difração com o ângulo 2θ.

O difratômetro de raios X policristalino, também conhecido como difratômetro de pó, é geralmente usado para medir materiais em pó, metal policristalino ou polímero.

O nome completo de XRD é difração de raios X, que usa o fenômeno de difração de raios X no cristal para obter as características do sinal de raios X após a difração e obtém o padrão de difração após o processamento.