Os acessórios de fibra são testados quanto à sua estrutura cristalina única usando o método de difração de raios X (transmissão). Teste a orientação da amostra com base em dados como textura da fibra e largura de meio pico.

O analisador de cristais de raios X da série TDF é um instrumento analítico de larga escala e instrumento de raios X usado para estudar a microestrutura interna de materiais. É usado principalmente para orientação de cristal único, inspeção de defeitos, determinação de parâmetros de rede, determinação de tensão residual, estudo da estrutura de placas e hastes, estudo da estrutura de substâncias desconhecidas e deslocamentos de cristal único.

O difratômetro de cristal único de raios X TD-5000 é usado principalmente para determinar a estrutura espacial tridimensional e a densidade de nuvem de elétrons de substâncias cristalinas, como complexos inorgânicos, orgânicos e metálicos, e para analisar a estrutura de materiais especiais, como cristais gêmeos, não proporcionais, quasicristais, etc. Determine o espaço tridimensional preciso (incluindo comprimento de ligação, ângulo de ligação, configuração, conformação e até mesmo densidade de elétrons de ligação) de novas moléculas compostas (cristalinas) e o arranjo real de moléculas na rede; Ele pode fornecer informações sobre os parâmetros da célula cristalina, grupo espacial, estrutura molecular do cristal, ligação de hidrogênio intermolecular e interações fracas, bem como informações estruturais, como configuração e conformação molecular. O difratômetro de cristal único de raios X é amplamente usado em pesquisas analíticas em cristalografia química, biologia molecular, farmacologia, mineralogia e ciência dos materiais. O difratômetro de raios X de cristal único é um produto de alta tecnologia do Projeto Nacional de Desenvolvimento de Equipamentos e Instrumentos Científicos do Ministério da Ciência e Tecnologia, liderado pela Dandong Tongda Technology Co., Ltd., preenchendo a lacuna no desenvolvimento e produção de difratômetro de raios X de cristal único na China.

O difratômetro de raios X de pó é usado principalmente para análise qualitativa e quantitativa de fase, análise de estrutura de cristal, análise de estrutura de material, análise de orientação de cristal, determinação de tensão macroscópica ou microscópica, determinação de tamanho de grão, determinação de cristalinidade, etc. de amostras de pó, bloco ou filme. O difratômetro de raios X TD-3500 produzido pela Dandong Tongda Technology Co., Ltd. adota controle PLC Siemens importado, o que faz com que o difratômetro de raios X TD-3500 tenha as características de alta precisão, alta precisão, boa estabilidade, longa vida útil, fácil atualização, fácil operação e inteligência, e pode se adaptar flexivelmente a análises de teste e pesquisa em vários setores!

O difratômetro de raios X TD-3700 é um difratômetro de raios X multifuncional e de alto desempenho produzido pela Dandong Tongda Technology Co., Ltd. As principais características são detectores de alto desempenho, diversos métodos de varredura, operação conveniente e segura, desempenho estável e confiável. Para detalhes específicos, consulte o site da Dandong Tongda Technology Co., Ltd.

O acessório de média e baixa temperatura foi projetado para entender as mudanças na estrutura cristalina durante o processo de refrigeração de baixa temperatura.

O acessório de medição de filme óptico paralelo aumenta o comprimento da placa de grade para filtrar mais linhas dispersas, o que é benéfico para reduzir a influência do sinal do substrato nos resultados e aumentar a intensidade do sinal do filme.

O irradiador de raios X pode gerar raios X de alta energia para irradiar células ou pequenos animais. Usado para várias pesquisas básicas e aplicadas. Ao longo da história, irradiadores de isótopos radioativos foram usados, o que requer o transporte de amostras para uma instalação de irradiação central. Hoje, equipamentos de irradiação de raios X menores, mais seguros, mais simples e de menor custo podem ser instalados em laboratórios para irradiação conveniente e rápida de células.

Os acessórios de alta temperatura são projetados para entender as mudanças na estrutura cristalina das amostras durante o aquecimento em alta temperatura, bem como as mudanças na dissolução mútua de várias substâncias durante o aquecimento em alta temperatura.

O espectrômetro de estrutura fina de absorção de raios X (XAFS) é uma ferramenta poderosa para estudar a estrutura atômica ou eletrônica local de materiais, amplamente utilizada em campos populares como catálise, energia e nanotecnologia.

O Difratômetro de Raios X de Cristal TD-5000 é um instrumento de alto desempenho desenvolvido pela Dandong Tongda Technology. Aprovado no âmbito do Projeto Nacional de Desenvolvimento de Instrumentos e Equipamentos Científicos Chave da China, ele preenche uma lacuna crítica no mercado doméstico neste campo. Sua principal função é determinar a estrutura espacial tridimensional e a distribuição da densidade eletrônica de substâncias cristalinas — incluindo compostos inorgânicos, compostos orgânicos e complexos metálicos —, além de analisar estruturas de materiais especiais, como cristais geminados, estruturas moduladas incomensuravelmente e quasicristais. Ele mede com precisão a estrutura espacial tridimensional precisa de novos compostos cristalinos (incluindo comprimentos de ligação, ângulos de ligação, configuração, conformação e densidade eletrônica de ligação) e o arranjo real das moléculas dentro da rede cristalina. O sistema fornece informações estruturais abrangentes, como parâmetros de célula unitária, grupo espacial, estrutura molecular, ligações de hidrogênio intermoleculares e interações fracas, e configuração/conformação molecular. É amplamente utilizado em pesquisas analíticas em cristalografia química, biologia molecular, farmacologia, mineralogia e ciência dos materiais. Tecnologia de núcleo: uma dupla revolução em precisão e inteligência (1) O “Olho Mecânico” com Posicionamento em Nível Atômico Difratômetro concêntrico de quatro círculos: supera as limitações tradicionais de deslocamento mecânico, mantendo um centro rotacional constante para garantir que os erros de coordenadas do ponto de difração permaneçam abaixo do nível nanométrico. Detector PILATUS: Combina tecnologia de contagem de fótons individuais com pixels ultrafinos de 172 μm. Alcança taxas de quadros de até 20 Hz, com capacidade de supressão de ruído 3 vezes maior do que os detectores CCD convencionais. (2) Fluxo de trabalho de circuito fechado totalmente inteligente Controle PLC One-Touch: automatiza todo o processo, do posicionamento do cristal à aquisição de dados, reduzindo o tempo de operação manual em 90%. Sistema de aprimoramento criogênico: possui controle de temperatura de precisão de ±0,3 K (100K–300K), aumentando a intensidade do sinal para cristais de difração fraca em 50% com consumo de nitrogênio líquido de apenas 1,1–2 L/h. (3) Dupla Garantia: Segurança e Expansibilidade Intertravamento de porta de chumbo + proteção contra vazamento (≤0,12 µSv/h), excedendo os padrões nacionais de segurança. Óptica de Foco Multicamadas Opcional (Alvo Duplo Mo/Cu), permitindo análise em larga escala, desde produtos farmacêuticos de pequenas moléculas até minerais com grandes células unitárias. O advento do Difratômetro de Cristal Único de Raios X TD-5000 representa mais do que um avanço instrumental — marca a era em que os equipamentos de pesquisa científica de ponta da China alcançam oficialmente a definição de precisão autônoma. Até 2025, este sistema já havia atendido mais de 30 instituições líderes em áreas como química, ciência dos materiais e aeroespacial. À medida que os cristais revelam os segredos da vida sob o olhar investigativo de instrumentos desenvolvidos internamente, o "olho científico que discerne a essência da matéria" da China agora brilha com uma clareza impressionante.

O analisador de cristais de raios X da série TDF é um instrumento analítico de larga escala usado para estudar a microestrutura interna de substâncias. É usado principalmente para orientação de cristais simples, inspeção de defeitos, determinação de parâmetros de rede, determinação de tensões residuais, estudo da estrutura de placas e hastes, estudo da estrutura de substâncias desconhecidas e deslocamentos de cristais simples.