O espectro de estrutura fina de absorção de raios X (XAFS) é uma ferramenta poderosa para estudar a estrutura atômica ou eletrônica local de materiais, amplamente utilizada em campos populares como catálise, energia e nanotecnologia. O princípio do espectro de estrutura fina de absorção de raios X (XAFS): Estrutura fina de absorção de raios X O espectro se refere a espectros de alta resolução perto das bordas características dos elétrons do núcleo atômico que absorvem raios X. Quando a energia dos raios X é a mesma que a energia de excitação dos elétrons da camada interna do elemento medido, eles serão fortemente absorvidos, resultando em um limite de absorção (ou borda de absorção). Perto da borda de absorção, devido a múltiplas razões de espalhamento e outras, o coeficiente de absorção dos raios X exibirá fenômenos oscilatórios, ou seja, estrutura fina. 2. Principais vantagens do espectro de estrutura fina de absorção de raios X (XAFS): (1) O produto de fluxo luminoso mais alto, com um fluxo de fótons superior a 1.000.000 de fótons/segundo/eV e uma eficiência espectral várias vezes superior à de outros produtos; Obter qualidade de dados equivalente à radiação síncrotron (2) Excelente estabilidade, a estabilidade da intensidade da luz monocromática da fonte de luz é melhor que 0,1% e o desvio de energia repetido é menor que 50 meV (3) Limite de detecção de 1%, alto fluxo de luz, excelente otimização do caminho óptico e excelente estabilidade da fonte de luz garantem que dados EXAFS de alta qualidade ainda possam ser obtidos quando o conteúdo do elemento medido for> 1%. 3. Áreas de aplicação do XAFS: Catálise industrial, materiais de armazenamento de energia, nanomateriais, toxicologia ambiental, análise qualitativa, análise de elementos pesados, etc. 4. Principais características do XAFS: (1) Ordenação de curto alcance: EXAFS depende de interações de curto alcance e não depende de ordenação de longo alcance. XAFS pode ser usado para estudar a estrutura de sistemas desordenados, como centros amorfos, líquidos, fundidos e ativos de catalisadores. (2) Especificidade do elemento: O método de fluorescência pode ser usado para medir amostras de elementos com concentrações tão baixas quanto um milionésimo. Ajustando a energia de raios X incidente, as estruturas vizinhas de átomos de diferentes elementos no mesmo composto podem ser estudadas. (3) Características de polarização: Raios X polarizados podem ser usados ​​para medir ângulos de ligação atômica e estruturas de superfície em amostras orientadas. O espectro de estrutura fina de absorção de raios X, com seus princípios únicos, características significativas e amplos campos de aplicação, tornou-se uma ferramenta indispensável e importante em vários campos, como ciência de materiais, química catalítica e pesquisa energética, fornecendo forte suporte para exploração aprofundada de microestruturas de materiais e estados eletrônicos.

O espectrômetro de estrutura fina de absorção de raios X (XAFS) é uma ferramenta poderosa para estudar a estrutura atômica ou eletrônica local de materiais, amplamente utilizada em campos populares como catálise, energia e nanotecnologia.

O espectro de estrutura fina de absorção de raios X (XAFS) é uma ferramenta analítica usada para estudar a estrutura e as propriedades de substâncias. O XAFS obtém informações sobre átomos e moléculas em uma amostra medindo a absorção de raios X da amostra dentro de uma faixa de energia específica. O XAFS é uma ferramenta poderosa para estudar a estrutura atômica ou eletrônica local de materiais. A tecnologia XAFS é amplamente usada em ciência de materiais, química, biologia e outros campos, especialmente em áreas de pesquisa como catálise, baterias, sensores, etc. O XAFS tem um importante valor de aplicação. Por meio da tecnologia XAFS, os pesquisadores podem obter uma compreensão mais profunda da microestrutura e das propriedades das amostras, fornecendo suporte poderoso para o design e a otimização de novos materiais.

O espectrômetro de estrutura fina de absorção de raios X é uma ferramenta poderosa para estudar a estrutura atômica ou eletrônica local de materiais, amplamente utilizada em campos populares como catálise, energia e nanotecnologia. Principais vantagens do XAFS: Produto de maior fluxo luminoso: Fluxo de fótons superior a 1.000.000 fótons/segundo/eV, com eficiência espectral várias vezes maior que outros produtos; Obtenha qualidade de dados equivalente à radiação síncrotron Excelente estabilidade: A estabilidade da intensidade da luz monocromática da fonte de luz é melhor que 0,1%, e o desvio de energia durante a coleta repetida é menor que 50 meV Limite de detecção de 1%: High luminous flux, excellent optical path optimization, and excellent light source stability ensure high-quality EXAFS data is obtained even when the measured element content is>1%。