No campo da tecnologia moderna, muitos produtos de alta tecnologia — de substratos para telas de smartphones a componentes essenciais de geradores de laser — dependem de um material fundamental: monocristais sintéticos. A precisão do ângulo de corte desses cristais determina diretamente o desempenho e o rendimento dos produtos finais. O Analisador de Orientação de Raios X é um instrumento indispensável na fabricação de precisão de dispositivos de cristal. Utilizando o princípio da difração de raios X, ele mede com precisão e rapidez os ângulos de corte de monocristais naturais e sintéticos, incluindo cristais piezoelétricos, cristais ópticos, cristais de laser e cristais semicondutores. A Dandong Tongda Science and Technology Co., Ltd. oferece uma gama de analisadores de orientação de raios X confiáveis, adaptados às necessidades de pesquisa, processamento e fabricação da indústria de materiais cristalinos. 01 Máquina versátil para diversas necessidades de orientação de cristais Os analisadores de orientação de raios X da Dandong Tongda incluem principalmente modelos como o TYX-200 e o TYX-2H8. O modelo TYX-200 apresenta uma precisão de medição de ± 30″, com um visor digital e uma leitura mínima de 10″. O modelo TYX-2H8 é uma versão aprimorada do TYX-200, apresentando melhorias na estrutura do goniômetro, na pista de suporte de carga, na luva do tubo de raios X, no corpo de suporte e na plataforma de amostra elevada. Essas melhorias permitem que o TYX-2H8 manipule amostras pesando de 1 a 30 kg com diâmetros de 2 a 8 polegadas. Ele mantém um visor digital de ângulo e uma precisão de medição de ± 30″. 02 Recursos técnicos avançados para operação amigável Os Analisadores de Orientação de Raios X da Dandong Tongda são projetados com praticidade e confiabilidade em mente. Sua operação intuitiva não requer conhecimento especializado ou habilidades avançadas do operador. O instrumento possui um visor digital de ângulo, garantindo medições intuitivas e fáceis de ler, minimizando o risco de erros de leitura. O visor pode ser zerado em qualquer posição, permitindo a leitura direta do desvio do ângulo do wafer. Alguns modelos são equipados com goniômetros duplos para operação simultânea, melhorando significativamente a eficiência da detecção. Um integrador especial com amplificação de pico aumenta a precisão da medição. O tubo de raios X e o cabo de alta tensão adotam um design integrado, melhorando a confiabilidade da alta tensão. O sistema de detecção de alta tensão utiliza um módulo CC de alta tensão, e o estágio de sucção a vácuo da amostra aumenta ainda mais a precisão e a velocidade da medição. 03 Projetos de estágios de amostra dedicados para diversas necessidades de teste Para atender aos requisitos de medição de amostras com diferentes formatos e tamanhos, a Dandong Tongda oferece uma variedade de estágios de amostra especializados: Plataforma de Amostragem TA: Projetada para cristais em formato de bastão, possui uma pista de suporte de carga e pode testar bastões de cristal pesando de 1 a 30 kg com diâmetros de 5 a 15 cm (expansível para 20 cm). Esta plataforma pode medir superfícies de referência de cristais em formato de bastão, bem como superfícies de cristais em formato de wafer. Plataforma de Amostragem TB: Também projetada para cristais em formato de bastão, inclui uma pista de suporte e trilhos de suporte em forma de V. Pode testar bastões de cristal pesando de 1 a 30 kg, com diâmetros de 2 a 6 polegadas (expansível para 8 polegadas) e comprimentos de até 500 mm. Mede faces finais de cristais em formato de bastão e superfícies de cristais em formato de wafer. Platina de Amostragem TC: Utilizada principalmente para detectar as superfícies de referência externas de wafers monocristalinos, como silício e safira. Sua placa de sucção de design aberto evita obstruções por raios X e imprecisões de posicionamento. A bomba de sucção da platina segura com segurança wafers de 5 a 20 cm, garantindo uma detecção precisa. ​ Plataforma de Amostragem TD: Projetada para medições multipontos de wafers, como silício e safira. Os wafers podem ser girados manualmente na plataforma (por exemplo, 0°, 90°, 180°, 270°) para atender às necessidades específicas de medição do cliente. 04 Modelo de alto desempenho para desafios de grandes amostras Para detecção de amostras grandes e desafiadoras, os Analisadores de Orientação de Raios X da Dandong Tongda demonstram desempenho excepcional. O modelo TYX-2H8, por exemplo, é particularmente adequado para orientar lingotes e bastões de cristal de safira. Este instrumento permite medições de orientações de cristais de safira A, C, M e R, com uma faixa de medição ajustável de 0 a 45° por meio de automação elétrica. Suas especificações técnicas são impressionantes: Tubo de raios X com alvo de cobre, ânodo aterrado e resfriamento forçado por ar. Corrente do tubo ajustável: 0–4 mA; tensão do tubo: 30 kV. Operação via computador ou controle por tela sensível ao toque. Movimento sincronizado do tubo de raios X e do detector; mesa rotativa acionada eletricamente. Consumo total de energia: ≤2 kW. Mais notavelmente, sua capacidade de manuseio de amostras inclui lingotes de cristal pesando até 30–180 kg, com dimensões máximas de 350 mm de diâmetro e 480 mm de comprimento. Essas capacidades o tornam adequado para a detecção de grandes amostras na maioria dos cenários industriais. 05 Aplicações Amplas que Oferecem Suporte a Múltiplos Setores Os analisadores de orientação de raios X da Dandong Tongda são amplamente utilizados em vários setores envolvidos na pesquisa, processamento e fabricação de materiais cristalinos. Na indústria de semicondutores, eles permitem o corte de orientação precisa de wafers de silício. No campo da optoeletrônica, eles são usados ​​para processamento de precisão de substratos de safira, cristais ópticos e cristais de laser. No setor de materiais piezoelétricos, eles garantem medições precisas do ângulo de corte para um desempenho estável do produto final. Os instrumentos são particularmente adequados para materiais de safira, muito procurados devido à sua dureza, alta transmitância de luz e excelente estabilidade físico-química. A safira é amplamente utilizada em substratos de LED, telas de eletrônicos de consumo e janelas ópticas. Os analisadores de orientação de raios X da Dandong Tongda se tornaram ferramentas essenciais nos campos de pesquisa e fabricação de materiais de cristal da China, graças ao seu desempenho confiável, configurações diversas e forte adaptabilidade. Seu design modular e a variedade de opções de estágio de amostra permitem que os usuários selecionem configurações que atendam a necessidades específicas, garantindo alta precisão de detecção e melhorando a eficiência do trabalho. Seja para instituições de pesquisa ou para controle de qualidade de fabricação e otimização de processos, esses instrumentos fornecem suporte técnico robusto, capacitando os usuários a alcançar avanços na fabricação de precisão.

O Analisador de Cristais de Raios X da Dandong Tongda adota tecnologia avançada de difração de raios X, permitindo a detecção não destrutiva de informações microestruturais em diversos materiais. Seja para orientação de cristais individuais, inspeção de defeitos, medição de parâmetros de rede ou análise de tensão residual, este instrumento fornece dados de teste precisos e confiáveis, oferecendo suporte sólido para pesquisa de materiais e controle de qualidade. O instrumento é equipado com um gerador de raios X altamente estável que proporciona um desempenho excepcional. A tensão do tubo pode ser ajustada com precisão na faixa de 10 a 60 kV, e a corrente do tubo pode ser regulada de 2 a 60 mA, com estabilidade de no máximo ± 0,005%. Isso garante resultados de teste altamente repetíveis e precisos, proporcionando aos pesquisadores garantia de dados confiáveis. O Analisador de Cristais de Raios-X da Dandong Tongda integra controle inteligente e proteção de segurança abrangente. Ele possui um sistema de controle automático PLC importado, permitindo medições automáticas temporizadas sem supervisão. O sistema de proteção de segurança multinível inclui proteções contra ausência de pressão, ausência de corrente, sobretensão, sobrecorrente, sobrecarga de energia, ausência de água e superaquecimento do tubo de raios-X, garantindo a segurança dos operadores. O analisador de cristais de raios-X da série TDF adota um invólucro de tubo vertical com quatro janelas que podem ser usadas simultaneamente. Ele utiliza tecnologia de controle PLC importada, que oferece alta precisão e fortes capacidades antiparasitárias, garantindo a operação confiável do sistema. O PLC controla a comutação e o ajuste de alta tensão e inclui uma função de treinamento automático para o tubo de raios-X, estendendo efetivamente a vida útil do tubo de raios-X e do instrumento. O invólucro de proteção contra radiação do instrumento é construído com vidro de chumbo de alta densidade e alta transparência, com vazamento de radiação externa muito abaixo dos padrões nacionais de segurança, permitindo que os pesquisadores conduzam estudos experimentais em um ambiente seguro. Como uma empresa nacional de alta tecnologia, a Dandong Tongda Technology Co., Ltd. possui um sistema abrangente de gestão da qualidade e uma equipe técnica de P&D. Seus produtos não apenas atendem às demandas do mercado interno, mas também são exportados para diversos países e regiões, demonstrando a força e a capacidade da fabricação de instrumentos científicos da China. O Analisador de Cristais de Raios X da Dandong Tongda, com seu excelente desempenho e qualidade confiável, tornou-se um poderoso auxiliar na área de análise de materiais. Ele auxilia pesquisadores e engenheiros a desvendar as camadas do mundo material e explorar possibilidades ainda mais desconhecidas.

O analisador de cristais por raios X opera com base na lei de Bragg, medindo padrões de difração para determinar a estrutura cristalina. Os principais componentes incluem tubo de raios X (2,4 kW, múltiplos alvos), cristal espectroscópico, detector e goniômetro. A série TDF apresenta operação com 4 janelas, controle PLC e alinhamento automático do tubo. É amplamente utilizada em ciência dos materiais, química, biologia e geologia para análise estrutural.

O analisador de cristais de raios X da série TDF é um instrumento analítico de larga escala e instrumento de raios X usado para estudar a microestrutura interna de materiais. É usado principalmente para orientação de cristal único, inspeção de defeitos, determinação de parâmetros de rede, determinação de tensão residual, estudo da estrutura de placas e hastes, estudo da estrutura de substâncias desconhecidas e deslocamentos de cristal único.

O analisador de cristais por raios X da série TDF oferece desempenho excepcional em análises de microestrutura, suportando orientação de monocristais, detecção de defeitos e medição de tensões. Com um design de tubo vertical, operação em múltiplas janelas e controle PLC importado, garante alta precisão e conformidade com as normas de segurança (radiação).<0.1 µSv/h), and adaptability across industries. Backed by ISO certification and global exports, this instrument empowers scientific and industrial advancements worldwide

Confiável mundialmente: o analisador de orientação de raios X da Dandong Tongda recebe certificações multinacionais No atual cenário global em rápida evolução de semicondutores, dispositivos ópticos e ciência dos materiais, a medição precisa da orientação de cristais tornou-se crucial para aprimorar a qualidade do produto e a eficiência da produção. Como desenvolvedora e fabricante especializada na área de instrumentos de análise de raios X, a Dandong Tongda Technology Co., Ltd. anuncia o lançamento de seu Analisador de Orientação de Raios X de alto desempenho. Este instrumento integra tecnologia avançada de difração de raios X com algoritmos inteligentes, fornecendo soluções de medição de orientação rápidas e precisas para indústrias relacionadas a cristais em todo o mundo. Princípio técnico: a integração perfeita da difração de raios X e da medição de precisão O Analisador de Orientação de Raios X opera com base na lei de difração de Bragg. Quando os raios X incidem na superfície do cristal, os planos atômicos regularmente dispostos dentro do cristal geram fenômenos de difração em ângulos específicos. Ao capturar esses sinais de difração com detectores de precisão e calcular os ângulos de difração, o instrumento pode determinar com precisão a orientação do cristal, fornecendo dados confiáveis ​​para corte e processamento subsequentes. Comparada aos métodos tradicionais de orientação, a tecnologia de orientação de cristais por raios X oferece vantagens significativas por ser não destrutiva, de alta precisão e altamente eficiente, garantindo resultados de medição confiáveis ​​sem danificar a amostra. O instrumento atinge uma precisão de medição de ± 30 segundos de arco (± 30″), com uma leitura mínima de 10 segundos de arco, atendendo aos requisitos de orientação da grande maioria dos materiais cristalinos. Série de produtos: Soluções abrangentes para diversas necessidades de aplicação Os analisadores de orientação de raios X da Dandong Tongda Technology incluem principalmente dois modelos básicos: o TYX-200 e o TYX-2H8. O modelo TYX-200, como versão base, apresenta um display digital com leitura mínima de 10″ e precisão de medição de ±30″, tornando-o adequado para necessidades rotineiras de orientação de materiais cristalinos. O modelo TYX-2H8 é uma atualização abrangente do TYX-200, apresentando uma estrutura de goniômetro aprimorada, trilhos de suporte de carga aprimorados e um estágio de amostra elevado. O TYX-2H8 pode medir amostras pesando de 1 a 30 kg com diâmetros de 2 a 8 polegadas. Certas configurações podem até ser estendidas para lidar com amostras pesando de 30 a 180 kg, com diâmetros de até 350 mm e comprimentos de até 480 mm. Para requisitos de pesquisa mais complexos, a empresa também oferece os Analisadores de Orientação de Raios X da série TDF, que utilizam tecnologia de controle PLC importada, oferecem uma faixa de tensão de tubo de 10 a 60 kV e permitem funcionalidades mais amplas, incluindo orientação de cristal único, detecção de defeitos e determinação de parâmetros de rede. Aplicações funcionais: uma ferramenta essencial para o processamento de cristais em vários setores O Analisador de Orientação de Raios X pode determinar com precisão e rapidez os ângulos de corte de monocristais naturais e sintéticos e, em coordenação com máquinas de corte, realizar o corte orientado. É um instrumento indispensável para a usinagem de precisão e fabricação de dispositivos de cristal. Na indústria de semicondutores, o instrumento é amplamente utilizado para inspecionar lingotes, wafers e chips, controlando processos como corte, retificação e polimento para garantir o desempenho consistente de dispositivos semicondutores. Para processamento de cristais ópticos e cristais a laser, o instrumento pode determinar com precisão a orientação dos cristais, garantindo que o desempenho óptico dos dispositivos ópticos atenda aos requisitos de projeto e melhorando o rendimento do produto. Particularmente na área de processamento de cristais de safira, o instrumento pode atender simultaneamente aos requisitos de medição para as orientações dos cristais de safira A, C, M e R, com uma faixa de medição ajustável eletricamente de 0 a 45°, adaptando-se a necessidades complexas de processamento. Na indústria de joias e pedras preciosas, o instrumento auxilia na orientação precisa de pedras preciosas, aumentando a precisão do corte e o valor dos produtos acabados, ajudando os fabricantes a maximizar os efeitos ópticos e o valor comercial das pedras preciosas. Características do produto: Design inovador que aprimora a experiência do usuário Os analisadores de orientação de raios X da Dandong Tongda Technology incorporam vários recursos inovadores que melhoram significativamente a praticidade e a confiabilidade do instrumento. Fácil operação: o instrumento pode ser operado sem conhecimento profissional ou habilidade extensa, diminuindo a barreira de uso e reduzindo o tempo de treinamento de pessoal. Visor digital: o visor digital de ângulo proporciona observação intuitiva, reduz erros de leitura e pode ser zerado em qualquer posição, facilitando a exibição direta do desvio do ângulo do wafer. Design eficiente: alguns modelos são equipados com goniômetros duplos que podem operar simultaneamente, melhorando muito a eficiência da inspeção. Precisão aprimorada: um integrador especial com amplificação de pico melhora a precisão da detecção, e uma placa de amostra de sucção a vácuo garante um posicionamento estável da amostra. Confiabilidade e durabilidade: O design integrado do tubo de raios X e do cabo de alta tensão aumenta a confiabilidade da alta tensão. O detector de alta tensão utiliza um módulo de alta tensão CC, garantindo uma operação estável a longo prazo. Proteção de Segurança: O instrumento utiliza vidro de chumbo de alta densidade e alta transmitância como escudo protetor contra raios X. A dose de radiação externa não excede 0,1 µSv/h, atendendo aos padrões internacionais de segurança. Configuração de palco de amostra: adaptação flexível a diversas necessidades de medição Para atender aos requisitos de medição de amostras de diferentes formatos e tamanhos, a Dandong Tongda Technology oferece várias configurações de estágio de amostra: Plataforma de Amostragem Tipo TA: Projetada especificamente para hastes de cristal cilíndricas, equipada com trilhos de suporte de carga. Pode medir hastes de cristal pesando de 1 a 30 kg com diâmetros de 2 a 6 polegadas (expansível para 8 polegadas) e pode medir a superfície de referência de cristais em forma de haste ou a superfície de wafers de cristal em forma de folha. Platina de amostra tipo TB: Também projetada para hastes de cristal cilíndricas, ela incorpora trilhos de suporte em forma de V e pode medir hastes de cristal de até 500 mm de comprimento, tornando-a particularmente adequada para medir as faces finais de cristais em forma de haste. Platina de Amostragem Tipo TC: Utilizada principalmente para detectar a superfície de referência da circunferência externa de wafers de cristal único, como silício e safira. Seu design aberto supera problemas de obstrução de raios X e imprecisões de posicionamento causadas por placas de sucção. Plataforma de Amostragem Tipo TD: Projetada especificamente para medições multipontos de wafers como silício e safira. A lâmina pode ser girada manualmente na plataforma (por exemplo, 0°, 90°, 180°, 270°) para atender aos requisitos específicos de medição do cliente. Mercado global: capacitando clientes internacionais a alcançar avanços tecnológicos Os produtos da Dandong Tongda Technology Co., Ltd. entraram com sucesso no mercado internacional, exportando para diversos países e regiões, incluindo Estados Unidos, Coreia do Sul, Irã, Azerbaijão, Iraque e Jordânia. Seguindo os princípios de "Cliente em Primeiro Lugar, Produto em Primeiro Lugar, Serviço em Primeiro Lugar", a empresa oferece aos usuários globais produtos de alta tecnologia e alta qualidade, além de suporte técnico abrangente. Para clientes no exterior, a empresa oferece consultoria técnica completa e serviço pós-venda, incluindo treinamento operacional, suporte de manutenção e fornecimento de peças de reposição, garantindo que os usuários não tenham preocupações. Atendendo às necessidades de clientes em diferentes regiões, a empresa também pode fornecer soluções personalizadas, incluindo projeto especial de estágio de amostra e ajustes de software de medição, garantindo que o instrumento se adapte perfeitamente a cenários de aplicação específicos. Interfaces de operação multilíngues e documentação técnica detalhada em inglês reduzem ainda mais a barreira de uso para clientes no exterior e aprimoram a experiência do usuário internacional. O Analisador de Orientação de Raios X da Dandong Tongda Technology não é apenas uma ferramenta de medição, mas um parceiro estratégico para aumentar a competitividade corporativa. Ele pode reduzir significativamente o ciclo de P&D de materiais cristalinos, otimizar os processos de produção, garantir a qualidade do produto e criar valor tangível para a indústria global de fabricação de cristais. Seja na fabricação de chips semicondutores, no processamento de componentes ópticos ou na pesquisa de novos materiais, escolher a Dandong Tongda Technology significa optar por uma solução de orientação de cristais confiável, eficiente e precisa.

Destaque do produto: Soluções de análise de cristais por raios X da Dandong Tongda A Dandong Tongda Science and Technology apresenta seu avançado equipamento de análise de cristais por raios X, oferecendo precisão e confiabilidade para aplicações industriais. O analisador de cristais por raios X da série TDF combina recursos analíticos avançados com confiabilidade de nível industrial. Com quatro janelas operacionais e tecnologia de controle PLC, ele atende a setores de manufatura de ponta, incluindo inspeção de wafers semicondutores, avaliação de tensão em componentes aeroespaciais e processamento de cristais a laser. Nossos Orientadores de Cristal por Raios X (TYX-200/TYX-2H8) permitem a medição rápida e precisa dos ângulos de corte de cristais com exatidão de até ±30 segundos de arco. Capazes de manusear amostras de até 30 kg, esses instrumentos suportam o corte direcional de cristais piezoelétricos, ópticos, a laser e semicondutores. Ambas as linhas de produtos utilizam tecnologia de difração de raios X não destrutiva, substituindo os métodos radioativos tradicionais e, ao mesmo tempo, melhorando a eficiência e a precisão do processamento para pesquisa e fabricação de materiais cristalinos.

O difratômetro de raios X TD-3500 oferece precisão excepcional com repetibilidade de 0,0001° e controle PLC avançado. Este instrumento versátil realiza análises abrangentes de materiais em pós, filmes e amostras a granel, garantindo máxima segurança por meio de mecanismos de dupla proteção. Adotado por laboratórios internacionais, ele estabelece novos padrões em desempenho analítico e confiabilidade para aplicações de pesquisa em todo o mundo.

A Dandong Tongda lança o TD-Mini, um analisador de tensão por raios X portátil. Ele integra uma fonte de microfoco e um detector de área para fornecer precisão de nível laboratorial para testes em campo. Ideal para os setores de manufatura industrial, aeroespacial e de energia, oferece medições rápidas e confiáveis.

A Dandong Tongda lança seu novo Analisador de Tensões Residuais TD-RSD. Este instrumento avançado de raios X garante medições de alta precisão e eficiência, além de conformidade global, para maior segurança e qualidade nos processos de fabricação em todo o mundo.

O analisador de cristais por raios X da série TDF da Dandong Tongda representa um avanço significativo da China em instrumentos analíticos de alta tecnologia, desenvolvidos internamente. Ele oferece análises de estrutura cristalina precisas, seguras e confiáveis ​​para pesquisa e desenvolvimento em ciência de materiais e produtos farmacêuticos em todo o mundo.

Os orientadores de cristal por raios X da Dandong Tongda (precisão de ±30 segundos de arco, capacidade de carga de 30 kg) proporcionam orientação precisa para cristais piezoelétricos, ópticos, laser e semicondutores. Com modelos e plataformas de amostra especializados, esses sistemas dão suporte à pesquisa e fabricação de cristais em todo o mundo, consolidando o reconhecimento internacional dos instrumentos de precisão chineses.