Nas áreas de ciência dos materiais e testes industriais, a análise precisa de amostras depende de instrumentos confiáveis. O estágio rotativo de amostra produzido pela Dandong Tongda Technology Co., Ltd. é precisamente um acessório essencial, dedicado a aprimorar a qualidade da análise de difração de raios X (XRD). Na análise de difração de raios X, as características da própria amostra frequentemente representam desafios. Por exemplo, quando os grãos são excessivamente grosseiros, o material apresenta textura significativa (ou "orientação preferencial", ou seja, os grãos não estão dispostos aleatoriamente) ou a amostra possui hábitos cristalinos específicos (padrões de crescimento cristalino), torna-se difícil obter dados de difração estatisticamente representativos e que reflitam verdadeiramente as propriedades gerais do material. Ao medir tais amostras com platinas de amostra estáticas tradicionais, a intensidade da difração pode ser distorcida devido aos fatores mencionados acima, afetando a precisão da identificação de fase, análise de textura e outras avaliações. A filosofia central de design da platina de amostra rotativa da Tongda Technology é abordar esses desafios, permitindo a rotação suave da amostra dentro de seu próprio plano. Função principal: Eliminar erros de orientação e aumentar a confiabilidade dos dados O princípio de funcionamento deste estágio rotativo de amostra é intuitivo e eficaz. Ao fazer a amostra girar continuamente ou em etapas, ele garante que o feixe de raios X abranja mais grãos com diferentes orientações na amostra durante a irradiação. As principais vantagens desta abordagem são: Redução eficaz de erros de medição: por meio do efeito de rotação média, ele atenua significativamente os desvios de medição causados ​​por grãos grossos ou orientação preferencial, tornando os dados de difração mais representativos das propriedades gerais do material. Garantindo a reprodutibilidade dos resultados: independentemente de a amostra ter textura ou não, ela garante boa reprodutibilidade da intensidade de difração em múltiplas medições ou entre diferentes laboratórios, aumentando a confiabilidade e a comparabilidade dos dados. Requisitos simplificados de preparação de amostras: reduz as rigorosas exigências de preparação perfeita de amostras até certo ponto, melhorando a eficiência da análise. Especificações técnicas: Controle de precisão e adaptabilidade flexível O estágio de amostra rotativo da Dandong Tongda Technology oferece os seguintes parâmetros técnicos principais para atender às rigorosas demandas de pesquisa científica e testes industriais: Descrição do parâmetro Método de rotação eixo β (a amostra gira dentro de seu próprio plano) Faixa de velocidade de rotação 1 ~ 60 RPM (rotações por minuto) Ajustável com base em requisitos experimentais Precisão do passo Largura mínima do passo: 0,1º Suporta varredura de posicionamento de alta precisão Modos de operação Rotação de velocidade constante (para varredura de amostra), passo a passo, contínuo e outros modos Adapta-se a vários fluxos de trabalho de teste e necessidades de aquisição de dados Aplicações típicas Controle de qualidade e P&D em indústrias como proteção ambiental e eletrônica Compatibilidade Usado principalmente como acessório para espectrômetros de difração de raios X (XRD) Cenários de aplicação: atendendo às indústrias de proteção ambiental e eletrônica Este estágio de amostra rotativo não é apenas uma "peça de exibição" no laboratório; ele atende diretamente a indústrias com altos requisitos para análise de materiais, como proteção ambiental e eletrônica. Em áreas como controle de qualidade, desenvolvimento de novos produtos e análise de falhas nesses campos, ele auxilia engenheiros e pesquisadores a conduzir análises de fase mais precisas em amostras de várias formas, incluindo pós, materiais a granel e filmes finos, garantindo a autenticidade e a confiabilidade dos dados.

A instrumentação de difração de raios X de mesa TDM-10 é um instrumento usado para analisar a estrutura de fase de materiais, que pode ser equipado com detectores de cintilação/proporcionais/lineares. 1. O princípio de funcionamento da instrumentação de difração de raios X de mesa TDM-10: Com base na lei de Bragg, quando um feixe de raios X monocromático incide em um cristal, se a condição de difração de Bragg for satisfeita (n λ=2dsin θ, onde λ é o comprimento de onda do raio X, d é o espaçamento interplanar e θ é o ângulo de incidência), átomos ou moléculas no cristal se espalharão e interferirão no raio X, formando um padrão de difração específico. Ao medir a intensidade de difração em diferentes ângulos, as informações estruturais do cristal podem ser obtidas. 2. Características da instrumentação de difração de raios X de mesa TDM-10: A alta resolução de uma instrumentação de difração de raios X de mesa permite a medição precisa da estrutura cristalina de substâncias, o que é crucial para estudar misturas complexas ou procurar fases policristalinas e traços de baixo teor. Análise não destrutiva de instrumentação de difração de raios X de mesa: durante o processo de teste, não causará danos à amostra, e a amostra pode permanecer em seu estado original para testes ou uso posteriores. A operação do equipamento de difração de raios X de mesa é simples: os modernos equipamentos de difração de raios X de mesa geralmente têm funções de automação e inteligência, tornando a operação mais conveniente e reduzindo os requisitos de conhecimento e habilidades profissionais do operador. A versatilidade do equipamento de difração de raios X em pó de mesa: o equipamento de difração de raios X em pó pode realizar várias análises, como análise qualitativa e quantitativa de fase, análise de constante de rede, análise de tensão, etc. 3. Parâmetros técnicos do equipamento de difração de raios X em pó de mesa TDM-10: A máquina de difração de raios X de mesa tem um pequeno volume; A fonte de alimentação de alta frequência e alta tensão reduz o consumo geral de energia da máquina; Pode calibrar e testar amostras rapidamente; Controle de circuito simples, fácil de depurar e instalar; A precisão da medição da posição do pico de difração é de 0,001 °; Detector: cintilação, proporcional, matriz linear; Faixa de 2 θ:- 10°~150° Potência: 600W; Tensão máxima: 40kV; Corrente máxima: 15mA; Tubos de raios X: tubos cerâmicos corrugados, tubos metalocerâmicos, tubos de vidro. 4. Áreas de aplicação da máquina de difração de raios X de mesa TDM-10: Ciência dos Materiais: Usada para estudar a estrutura cristalina, composição de fases, tamanho de grão, cristalinidade, etc. de metais, cerâmicas, semicondutores e outros materiais, ajudando cientistas de materiais a entender as propriedades e características dos materiais. No campo da química, a máquina de difração de raios X pode ser usada na indústria de fabricação de catalisadores, cimento, produtos farmacêuticos e outros produtos para identificar fases em amostras desconhecidas, bem como para analisar quantitativamente fases conhecidas em amostras mistas. Geologia: Realização de análises de fase em minérios, rochas, etc. para determinar sua composição mineral e estrutura. Ciência ambiental: usada para analisar a composição mineral e formas poluentes em amostras ambientais, como solo e sedimentos. Indústria alimentícia: detecção de componentes de cristais, aditivos, etc. em alimentos. A máquina de difração de raios X de mesa TDM-10 é um poderoso instrumento analítico com importante valor de aplicação em vários campos.

Os acessórios de fibra são testados quanto à sua estrutura cristalina única usando o método de difração de raios X (transmissão). Teste a orientação da amostra com base em dados como textura da fibra e largura de meio pico.

Os acessórios de fibra são testados quanto à sua estrutura cristalina única usando o método de difração de raios X (transmissão). Teste a orientação da amostra com base na cristalinidade da fibra e na largura de meio pico das fibras. Este tipo de acessório é geralmente instalado em um difratômetro de grande angular e é usado principalmente para estudar a textura de filmes finos no substrato, executar detecção de fase cristalina, orientação, teste de estresse e outros testes.

O acessório de medição de filme óptico paralelo é uma ferramenta especializada para análise de difração de raios X, que filtra mais linhas dispersas aumentando o comprimento da placa de grade, reduzindo assim a influência do sinal do substrato nos resultados e aumentando a intensidade do sinal do filme fino. No campo da ciência dos materiais, o acessório de medição de filme óptico paralelo é comumente usado para estudar a estrutura cristalina, o comportamento de transição de fase e o estado de tensão de materiais de filme fino. Com o desenvolvimento da nanotecnologia, o acessório de medição de filme óptico paralelo também tem sido amplamente usado em testes de espessura e análise de difração de pequeno ângulo de filmes nano multicamadas. O design e a fabricação do acessório de medição de filme óptico paralelo buscam alta precisão para atender aos requisitos de pesquisa científica e produção industrial para precisão de dados. Durante o uso, o acessório de medição de filme óptico paralelo precisa manter um alto grau de estabilidade para garantir a confiabilidade dos resultados do teste. Com o avanço da tecnologia e o desenvolvimento da indústria, a demanda por instrumentos analíticos de alta precisão e alta estabilidade está aumentando constantemente. O acessório de medição de filme óptico paralelo, como um componente importante, também está experimentando um crescimento sustentado da demanda do mercado. Para atender à demanda do mercado e melhorar o desempenho do produto, a tecnologia do acessório de medição de filme óptico paralelo está constantemente inovando e melhorando. Por exemplo, melhorar o material e o design das placas de grade, otimizar o sistema óptico e outros meios podem aumentar o efeito de filtragem e a capacidade de aprimoramento do sinal. Em resumo, o acessório de medição de filme óptico paralelo desempenha um papel crucial na análise de difração de raios X. Com o avanço da tecnologia e o desenvolvimento da indústria, suas perspectivas de aplicação se tornarão ainda mais amplas.

Os acessórios de fibra são testados quanto à sua estrutura cristalina única usando o método de difração de raios X (transmissão). Teste a orientação da amostra com base em dados como cristalinidade da fibra e largura de meio pico. Os acessórios de fibra têm uma ampla gama de aplicações em vários campos, incluindo ciência de materiais, biomedicina, engenharia química, nanotecnologia, exploração geológica, monitoramento ambiental e muito mais.

Usando o método de difração de raios X (transmissão) para testar a estrutura cristalina única das fibras. Teste a orientação da amostra com base em dados como textura de fibra e largura de meio pico.

O uso do detector de pixel híbrido pode atingir a melhor qualidade de dados, garantindo baixo consumo de energia e baixo resfriamento. Este detector combina as principais tecnologias de contagem de fótons únicos e pixels híbridos, e é aplicado em vários campos, como radiação síncrotron e fontes de luz de laboratório convencionais, eliminando efetivamente a interferência de ruído de leitura e corrente escura. A tecnologia de pixel híbrido pode detectar raios X diretamente, facilitando a distinção de sinais, e o detector pode fornecer dados de alta qualidade com eficiência.

O padrão de difração de raios X serve como a base mais confiável para determinar padrões policristalinos, e o padrão de difração de raios X é frequentemente considerado como a "impressão digital" de padrões cristalinos.

A estrutura cristalina dos filmes de perovskita modificados pelo líquido iônico (ILs) BMIMAc sob vários tempos de recozimento foi caracterizada por difração de raios X.