Um difratômetro de raios X de monocristal revela a estrutura atômica 3D através da análise de padrões de difração de raios X (Lei de Bragg). Por meio da coleta de dados, transformada de Fourier e refinamento de modelos, ele gera mapas de densidade eletrônica para determinar configurações moleculares.

Um cristal único de qualidade para difração de raios X requer a escolha ideal do solvente (solubilidade/volatilidade moderada), um método de crescimento adequado (evaporação/difusão), alta pureza da amostra e um ambiente livre de vibrações para garantir uma morfologia bem definida e defeitos mínimos.

Este artigo detalha uma estratégia abrangente de três frentes para eliminar a interferência de difração de ordem superior na análise de monocristais por raios X. Os métodos envolvem filtragem de hardware na fonte usando monocromadores e fendas, otimização de parâmetros durante a coleta de dados para suprimir a detecção e algoritmos de correção de software para efeitos residuais no processamento de dados. Essa abordagem combinada garante a determinação de alta precisão da estrutura cristalina, controlando os erros de intensidade.

Os analisadores de difração de raios X (XRD) utilizam a Lei de Bragg para medir os ângulos de difração, permitindo a decodificação não destrutiva de fases cristalinas, constantes de rede, tamanho de grão e tensão a partir de mudanças no espaçamento interplanar.

A manutenção de equipamentos de difração de raios X segue o princípio de "Prevenção em Primeiro Lugar, Inspeção Regular". Os protocolos de segurança exigem "Proteção como Prioridade, Procedimentos Padronizados". As principais práticas incluem controle ambiental, cuidado com os componentes, verificações de segurança rigorosas e desligamento adequado. A adesão a esses princípios garante a longevidade do instrumento, a segurança do operador e a confiabilidade dos dados.

Um analisador de cristais por raios X de última geração que permite a exploração precisa de microestruturas de materiais. Seu controle PLC avançado, design modular e potência robusta de 5 kW garantem alta confiabilidade para aplicações globais de P&D e controle de qualidade industrial.

A Dandong Tongda Technology Co., Ltd. é uma empresa chinesa de alta tecnologia especializada em análise por raios X e equipamentos de END (Ensaios Não Destrutivos). Com foco em difração de raios X (DRX), fornecemos ferramentas de precisão para pesquisa e indústria em todo o mundo.

A eficiência de um difratômetro de pó pode ser duplicada otimizando-se a preparação da amostra (moagem, carregamento), os parâmetros do instrumento (faixa/velocidade de varredura) e adotando-se o processamento em lote e a manutenção de rotina. Essas etapas garantem dados de alta qualidade, reduzindo significativamente o tempo experimental e a necessidade de retrabalho.

Nas áreas de ciência dos materiais e testes industriais, a análise precisa de amostras depende de instrumentos confiáveis. O estágio rotativo de amostra produzido pela Dandong Tongda Technology Co., Ltd. é precisamente um acessório essencial, dedicado a aprimorar a qualidade da análise de difração de raios X (XRD). Na análise de difração de raios X, as características da própria amostra frequentemente representam desafios. Por exemplo, quando os grãos são excessivamente grosseiros, o material apresenta textura significativa (ou "orientação preferencial", ou seja, os grãos não estão dispostos aleatoriamente) ou a amostra possui hábitos cristalinos específicos (padrões de crescimento cristalino), torna-se difícil obter dados de difração estatisticamente representativos e que reflitam verdadeiramente as propriedades gerais do material. Ao medir tais amostras com platinas de amostra estáticas tradicionais, a intensidade da difração pode ser distorcida devido aos fatores mencionados acima, afetando a precisão da identificação de fase, análise de textura e outras avaliações. A filosofia central de design da platina de amostra rotativa da Tongda Technology é abordar esses desafios, permitindo a rotação suave da amostra dentro de seu próprio plano. Função principal: Eliminar erros de orientação e aumentar a confiabilidade dos dados O princípio de funcionamento deste estágio rotativo de amostra é intuitivo e eficaz. Ao fazer a amostra girar continuamente ou em etapas, ele garante que o feixe de raios X abranja mais grãos com diferentes orientações na amostra durante a irradiação. As principais vantagens desta abordagem são: Redução eficaz de erros de medição: por meio do efeito de rotação média, ele atenua significativamente os desvios de medição causados ​​por grãos grossos ou orientação preferencial, tornando os dados de difração mais representativos das propriedades gerais do material. Garantindo a reprodutibilidade dos resultados: independentemente de a amostra ter textura ou não, ela garante boa reprodutibilidade da intensidade de difração em múltiplas medições ou entre diferentes laboratórios, aumentando a confiabilidade e a comparabilidade dos dados. Requisitos simplificados de preparação de amostras: reduz as rigorosas exigências de preparação perfeita de amostras até certo ponto, melhorando a eficiência da análise. Especificações técnicas: Controle de precisão e adaptabilidade flexível O estágio de amostra rotativo da Dandong Tongda Technology oferece os seguintes parâmetros técnicos principais para atender às rigorosas demandas de pesquisa científica e testes industriais: Descrição do parâmetro Método de rotação eixo β (a amostra gira dentro de seu próprio plano) Faixa de velocidade de rotação 1 ~ 60 RPM (rotações por minuto) Ajustável com base em requisitos experimentais Precisão do passo Largura mínima do passo: 0,1º Suporta varredura de posicionamento de alta precisão Modos de operação Rotação de velocidade constante (para varredura de amostra), passo a passo, contínuo e outros modos Adapta-se a vários fluxos de trabalho de teste e necessidades de aquisição de dados Aplicações típicas Controle de qualidade e P&D em indústrias como proteção ambiental e eletrônica Compatibilidade Usado principalmente como acessório para espectrômetros de difração de raios X (XRD) Cenários de aplicação: atendendo às indústrias de proteção ambiental e eletrônica Este estágio de amostra rotativo não é apenas uma "peça de exibição" no laboratório; ele atende diretamente a indústrias com altos requisitos para análise de materiais, como proteção ambiental e eletrônica. Em áreas como controle de qualidade, desenvolvimento de novos produtos e análise de falhas nesses campos, ele auxilia engenheiros e pesquisadores a conduzir análises de fase mais precisas em amostras de várias formas, incluindo pós, materiais a granel e filmes finos, garantindo a autenticidade e a confiabilidade dos dados.

O Analisador de Cristais de Raios X da Dandong Tongda adota tecnologia avançada de difração de raios X, permitindo a detecção não destrutiva de informações microestruturais em diversos materiais. Seja para orientação de cristais individuais, inspeção de defeitos, medição de parâmetros de rede ou análise de tensão residual, este instrumento fornece dados de teste precisos e confiáveis, oferecendo suporte sólido para pesquisa de materiais e controle de qualidade. O instrumento é equipado com um gerador de raios X altamente estável que proporciona um desempenho excepcional. A tensão do tubo pode ser ajustada com precisão na faixa de 10 a 60 kV, e a corrente do tubo pode ser regulada de 2 a 60 mA, com estabilidade de no máximo ± 0,005%. Isso garante resultados de teste altamente repetíveis e precisos, proporcionando aos pesquisadores garantia de dados confiáveis. O Analisador de Cristais de Raios-X da Dandong Tongda integra controle inteligente e proteção de segurança abrangente. Ele possui um sistema de controle automático PLC importado, permitindo medições automáticas temporizadas sem supervisão. O sistema de proteção de segurança multinível inclui proteções contra ausência de pressão, ausência de corrente, sobretensão, sobrecorrente, sobrecarga de energia, ausência de água e superaquecimento do tubo de raios-X, garantindo a segurança dos operadores. O analisador de cristais de raios-X da série TDF adota um invólucro de tubo vertical com quatro janelas que podem ser usadas simultaneamente. Ele utiliza tecnologia de controle PLC importada, que oferece alta precisão e fortes capacidades antiparasitárias, garantindo a operação confiável do sistema. O PLC controla a comutação e o ajuste de alta tensão e inclui uma função de treinamento automático para o tubo de raios-X, estendendo efetivamente a vida útil do tubo de raios-X e do instrumento. O invólucro de proteção contra radiação do instrumento é construído com vidro de chumbo de alta densidade e alta transparência, com vazamento de radiação externa muito abaixo dos padrões nacionais de segurança, permitindo que os pesquisadores conduzam estudos experimentais em um ambiente seguro. Como uma empresa nacional de alta tecnologia, a Dandong Tongda Technology Co., Ltd. possui um sistema abrangente de gestão da qualidade e uma equipe técnica de P&D. Seus produtos não apenas atendem às demandas do mercado interno, mas também são exportados para diversos países e regiões, demonstrando a força e a capacidade da fabricação de instrumentos científicos da China. O Analisador de Cristais de Raios X da Dandong Tongda, com seu excelente desempenho e qualidade confiável, tornou-se um poderoso auxiliar na área de análise de materiais. Ele auxilia pesquisadores e engenheiros a desvendar as camadas do mundo material e explorar possibilidades ainda mais desconhecidas.

A Dandong Tongda Technology é especializada no desenvolvimento de acessórios de difração de baixo ângulo, componentes dedicados para difratômetros de raios X. Abrangendo uma faixa de ângulo de difração de 0° a 5°, esses acessórios permitem a medição precisa da espessura de filmes multicamadas em nanoescala e auxiliam na análise estrutural de nanomateriais. Projetados para perfeita compatibilidade com os difratômetros das séries TD-3500, TD-3700 e outras, são amplamente utilizados para a caracterização de materiais em nanoescala em áreas como ciência dos materiais, engenharia química, geologia e mineralogia. Incorporando tecnologia de controle PLC importada e design modular, esses acessórios aprimoram significativamente a automação e a estabilidade operacional dos equipamentos. Os instrumentos da série TD agora atendem aos padrões internacionais e foram exportados com sucesso para países como Estados Unidos e Azerbaijão, fornecendo suporte técnico crucial para a pesquisa global de nanomateriais.

Os acessórios para fibras ópticas de XRD e FTIR oferecem soluções completas para a caracterização de materiais. As unidades de XRD analisam a estrutura e a orientação cristalina, enquanto os sistemas FTIR identificam a composição por meio de microimagem e tecnologia ATR. Os acessórios incluem difração de pequenos ângulos, feixe paralelo para filmes finos e estágios de temperatura in situ para análises em nanoescala. O manuseio automatizado de amostras aumenta a eficiência. As aplicações abrangem pesquisa de materiais, controle de qualidade industrial e estudos científicos do dicroísmo de polímeros. Essas ferramentas continuam a evoluir, impulsionando inovações na ciência das fibras e em aplicações industriais.