Nas áreas de ciência dos materiais e testes industriais, a análise precisa de amostras depende de instrumentos confiáveis. O estágio rotativo de amostra produzido pela Dandong Tongda Technology Co., Ltd. é precisamente um acessório essencial, dedicado a aprimorar a qualidade da análise de difração de raios X (XRD). Na análise de difração de raios X, as características da própria amostra frequentemente representam desafios. Por exemplo, quando os grãos são excessivamente grosseiros, o material apresenta textura significativa (ou "orientação preferencial", ou seja, os grãos não estão dispostos aleatoriamente) ou a amostra possui hábitos cristalinos específicos (padrões de crescimento cristalino), torna-se difícil obter dados de difração estatisticamente representativos e que reflitam verdadeiramente as propriedades gerais do material. Ao medir tais amostras com platinas de amostra estáticas tradicionais, a intensidade da difração pode ser distorcida devido aos fatores mencionados acima, afetando a precisão da identificação de fase, análise de textura e outras avaliações. A filosofia central de design da platina de amostra rotativa da Tongda Technology é abordar esses desafios, permitindo a rotação suave da amostra dentro de seu próprio plano. Função principal: Eliminar erros de orientação e aumentar a confiabilidade dos dados O princípio de funcionamento deste estágio rotativo de amostra é intuitivo e eficaz. Ao fazer a amostra girar continuamente ou em etapas, ele garante que o feixe de raios X abranja mais grãos com diferentes orientações na amostra durante a irradiação. As principais vantagens desta abordagem são: Redução eficaz de erros de medição: por meio do efeito de rotação média, ele atenua significativamente os desvios de medição causados ​​por grãos grossos ou orientação preferencial, tornando os dados de difração mais representativos das propriedades gerais do material. Garantindo a reprodutibilidade dos resultados: independentemente de a amostra ter textura ou não, ela garante boa reprodutibilidade da intensidade de difração em múltiplas medições ou entre diferentes laboratórios, aumentando a confiabilidade e a comparabilidade dos dados. Requisitos simplificados de preparação de amostras: reduz as rigorosas exigências de preparação perfeita de amostras até certo ponto, melhorando a eficiência da análise. Especificações técnicas: Controle de precisão e adaptabilidade flexível O estágio de amostra rotativo da Dandong Tongda Technology oferece os seguintes parâmetros técnicos principais para atender às rigorosas demandas de pesquisa científica e testes industriais: Descrição do parâmetro Método de rotação eixo β (a amostra gira dentro de seu próprio plano) Faixa de velocidade de rotação 1 ~ 60 RPM (rotações por minuto) Ajustável com base em requisitos experimentais Precisão do passo Largura mínima do passo: 0,1º Suporta varredura de posicionamento de alta precisão Modos de operação Rotação de velocidade constante (para varredura de amostra), passo a passo, contínuo e outros modos Adapta-se a vários fluxos de trabalho de teste e necessidades de aquisição de dados Aplicações típicas Controle de qualidade e P&D em indústrias como proteção ambiental e eletrônica Compatibilidade Usado principalmente como acessório para espectrômetros de difração de raios X (XRD) Cenários de aplicação: atendendo às indústrias de proteção ambiental e eletrônica Este estágio de amostra rotativo não é apenas uma "peça de exibição" no laboratório; ele atende diretamente a indústrias com altos requisitos para análise de materiais, como proteção ambiental e eletrônica. Em áreas como controle de qualidade, desenvolvimento de novos produtos e análise de falhas nesses campos, ele auxilia engenheiros e pesquisadores a conduzir análises de fase mais precisas em amostras de várias formas, incluindo pós, materiais a granel e filmes finos, garantindo a autenticidade e a confiabilidade dos dados.

O Analisador de Cristais de Raios X da Dandong Tongda adota tecnologia avançada de difração de raios X, permitindo a detecção não destrutiva de informações microestruturais em diversos materiais. Seja para orientação de cristais individuais, inspeção de defeitos, medição de parâmetros de rede ou análise de tensão residual, este instrumento fornece dados de teste precisos e confiáveis, oferecendo suporte sólido para pesquisa de materiais e controle de qualidade. O instrumento é equipado com um gerador de raios X altamente estável que proporciona um desempenho excepcional. A tensão do tubo pode ser ajustada com precisão na faixa de 10 a 60 kV, e a corrente do tubo pode ser regulada de 2 a 60 mA, com estabilidade de no máximo ± 0,005%. Isso garante resultados de teste altamente repetíveis e precisos, proporcionando aos pesquisadores garantia de dados confiáveis. O Analisador de Cristais de Raios-X da Dandong Tongda integra controle inteligente e proteção de segurança abrangente. Ele possui um sistema de controle automático PLC importado, permitindo medições automáticas temporizadas sem supervisão. O sistema de proteção de segurança multinível inclui proteções contra ausência de pressão, ausência de corrente, sobretensão, sobrecorrente, sobrecarga de energia, ausência de água e superaquecimento do tubo de raios-X, garantindo a segurança dos operadores. O analisador de cristais de raios-X da série TDF adota um invólucro de tubo vertical com quatro janelas que podem ser usadas simultaneamente. Ele utiliza tecnologia de controle PLC importada, que oferece alta precisão e fortes capacidades antiparasitárias, garantindo a operação confiável do sistema. O PLC controla a comutação e o ajuste de alta tensão e inclui uma função de treinamento automático para o tubo de raios-X, estendendo efetivamente a vida útil do tubo de raios-X e do instrumento. O invólucro de proteção contra radiação do instrumento é construído com vidro de chumbo de alta densidade e alta transparência, com vazamento de radiação externa muito abaixo dos padrões nacionais de segurança, permitindo que os pesquisadores conduzam estudos experimentais em um ambiente seguro. Como uma empresa nacional de alta tecnologia, a Dandong Tongda Technology Co., Ltd. possui um sistema abrangente de gestão da qualidade e uma equipe técnica de P&D. Seus produtos não apenas atendem às demandas do mercado interno, mas também são exportados para diversos países e regiões, demonstrando a força e a capacidade da fabricação de instrumentos científicos da China. O Analisador de Cristais de Raios X da Dandong Tongda, com seu excelente desempenho e qualidade confiável, tornou-se um poderoso auxiliar na área de análise de materiais. Ele auxilia pesquisadores e engenheiros a desvendar as camadas do mundo material e explorar possibilidades ainda mais desconhecidas.

O acessório de difração de pequeno ângulo é um componente especializado usado em instrumentos de difração de raios X, principalmente para a análise da estrutura e espessura de materiais em nanoescala. 1. Funções principais dos acessórios de difração de pequeno ângulo (1) Faixa de ângulo de difração: cobrindo uma pequena faixa de ângulo de 0 ° -5 °, adequada para análise de difração de materiais em nanoescala. (2) Aplicação principal: pode testar com precisão a espessura de filmes nano multicamadas e dar suporte ao estudo da superfície do material ou estrutura da interface. 2. Dispositivos compatíveis para acessórios de difração de ângulo pequeno Este acessório é geralmente usado em conjunto com difratômetros de raios X (como TD-3500, TD-3700, TDM-20, etc.). 3. Cenários de aplicação de acessórios de difração de pequeno ângulo (1) Ciência dos Materiais: Caracterização de Estruturas de Nanofilmes e Filmes Multicamadas. (2) Química e Engenharia Química: Tratamento de Superfície de Materiais, Teste de Espessura de Revestimento. (3) Outros campos: Análise em nanoescala de materiais como geologia, minerais, cerâmicas e produtos farmacêuticos. 4. Informações do fabricante A Dandong Tongda Technology Co., Ltd. é a principal fabricante deste tipo de acessório, e seus instrumentos analíticos da série TD têm sido mencionados como aproximando-se ou alcançando os padrões internacionais, sendo exportados para países como os Estados Unidos e o Azerbaijão. Em geral, os acessórios de difração de pequeno ângulo são ferramentas essenciais para análise de nanomateriais e medição de espessura de filmes finos, e precisam ser utilizados em conjunto com instrumentos especializados de difração de raios X. Seus cenários de aplicação concentram-se em áreas de ponta, como ciência dos materiais e engenharia química.

A instrumentação de difração de raios X de mesa TDM-10 é um instrumento usado para analisar a estrutura de fase de materiais, que pode ser equipado com detectores de cintilação/proporcionais/lineares. 1. O princípio de funcionamento da instrumentação de difração de raios X de mesa TDM-10: Com base na lei de Bragg, quando um feixe de raios X monocromático incide em um cristal, se a condição de difração de Bragg for satisfeita (n λ=2dsin θ, onde λ é o comprimento de onda do raio X, d é o espaçamento interplanar e θ é o ângulo de incidência), átomos ou moléculas no cristal se espalharão e interferirão no raio X, formando um padrão de difração específico. Ao medir a intensidade de difração em diferentes ângulos, as informações estruturais do cristal podem ser obtidas. 2. Características da instrumentação de difração de raios X de mesa TDM-10: A alta resolução de uma instrumentação de difração de raios X de mesa permite a medição precisa da estrutura cristalina de substâncias, o que é crucial para estudar misturas complexas ou procurar fases policristalinas e traços de baixo teor. Análise não destrutiva de instrumentação de difração de raios X de mesa: durante o processo de teste, não causará danos à amostra, e a amostra pode permanecer em seu estado original para testes ou uso posteriores. A operação do equipamento de difração de raios X de mesa é simples: os modernos equipamentos de difração de raios X de mesa geralmente têm funções de automação e inteligência, tornando a operação mais conveniente e reduzindo os requisitos de conhecimento e habilidades profissionais do operador. A versatilidade do equipamento de difração de raios X em pó de mesa: o equipamento de difração de raios X em pó pode realizar várias análises, como análise qualitativa e quantitativa de fase, análise de constante de rede, análise de tensão, etc. 3. Parâmetros técnicos do equipamento de difração de raios X em pó de mesa TDM-10: A máquina de difração de raios X de mesa tem um pequeno volume; A fonte de alimentação de alta frequência e alta tensão reduz o consumo geral de energia da máquina; Pode calibrar e testar amostras rapidamente; Controle de circuito simples, fácil de depurar e instalar; A precisão da medição da posição do pico de difração é de 0,001 °; Detector: cintilação, proporcional, matriz linear; Faixa de 2 θ:- 10°~150° Potência: 600W; Tensão máxima: 40kV; Corrente máxima: 15mA; Tubos de raios X: tubos cerâmicos corrugados, tubos metalocerâmicos, tubos de vidro. 4. Áreas de aplicação da máquina de difração de raios X de mesa TDM-10: Ciência dos Materiais: Usada para estudar a estrutura cristalina, composição de fases, tamanho de grão, cristalinidade, etc. de metais, cerâmicas, semicondutores e outros materiais, ajudando cientistas de materiais a entender as propriedades e características dos materiais. No campo da química, a máquina de difração de raios X pode ser usada na indústria de fabricação de catalisadores, cimento, produtos farmacêuticos e outros produtos para identificar fases em amostras desconhecidas, bem como para analisar quantitativamente fases conhecidas em amostras mistas. Geologia: Realização de análises de fase em minérios, rochas, etc. para determinar sua composição mineral e estrutura. Ciência ambiental: usada para analisar a composição mineral e formas poluentes em amostras ambientais, como solo e sedimentos. Indústria alimentícia: detecção de componentes de cristais, aditivos, etc. em alimentos. A máquina de difração de raios X de mesa TDM-10 é um poderoso instrumento analítico com importante valor de aplicação em vários campos.

Os acessórios de fibra são testados quanto à sua estrutura cristalina única usando o método de difração de raios X (transmissão). Teste a orientação da amostra com base em dados como textura da fibra e largura de meio pico.

Os acessórios de fibra são testados quanto à sua estrutura cristalina única usando o método de difração de raios X (transmissão). Teste a orientação da amostra com base na cristalinidade da fibra e na largura de meio pico das fibras. Este tipo de acessório é geralmente instalado em um difratômetro de grande angular e é usado principalmente para estudar a textura de filmes finos no substrato, executar detecção de fase cristalina, orientação, teste de estresse e outros testes.

O acessório de medição de filme óptico paralelo é uma ferramenta especializada para análise de difração de raios X, que filtra mais linhas dispersas aumentando o comprimento da placa de grade, reduzindo assim a influência do sinal do substrato nos resultados e aumentando a intensidade do sinal do filme fino. No campo da ciência dos materiais, o acessório de medição de filme óptico paralelo é comumente usado para estudar a estrutura cristalina, o comportamento de transição de fase e o estado de tensão de materiais de filme fino. Com o desenvolvimento da nanotecnologia, o acessório de medição de filme óptico paralelo também tem sido amplamente usado em testes de espessura e análise de difração de pequeno ângulo de filmes nano multicamadas. O design e a fabricação do acessório de medição de filme óptico paralelo buscam alta precisão para atender aos requisitos de pesquisa científica e produção industrial para precisão de dados. Durante o uso, o acessório de medição de filme óptico paralelo precisa manter um alto grau de estabilidade para garantir a confiabilidade dos resultados do teste. Com o avanço da tecnologia e o desenvolvimento da indústria, a demanda por instrumentos analíticos de alta precisão e alta estabilidade está aumentando constantemente. O acessório de medição de filme óptico paralelo, como um componente importante, também está experimentando um crescimento sustentado da demanda do mercado. Para atender à demanda do mercado e melhorar o desempenho do produto, a tecnologia do acessório de medição de filme óptico paralelo está constantemente inovando e melhorando. Por exemplo, melhorar o material e o design das placas de grade, otimizar o sistema óptico e outros meios podem aumentar o efeito de filtragem e a capacidade de aprimoramento do sinal. Em resumo, o acessório de medição de filme óptico paralelo desempenha um papel crucial na análise de difração de raios X. Com o avanço da tecnologia e o desenvolvimento da indústria, suas perspectivas de aplicação se tornarão ainda mais amplas.

Os acessórios de difratômetro de ângulo pequeno são dispositivos especiais usados ​​em experimentos de difração de raios X (XRD), principalmente para medir picos de difração na faixa de ângulo baixo para estudar a microestrutura e as propriedades dos materiais. Os acessórios de difratômetro de ângulo pequeno são dispositivos especializados para difratômetros de raios X que permitem medições de difração precisas dentro de uma faixa de ângulo 2θ inferior (tipicamente de 0° a 5° ou menos). Esta tecnologia é de grande importância para estudar nanoestruturas, materiais mesoporosos, filmes multicamadas e outros materiais. Ao configurar acessórios de difratômetro de ângulo pequeno correspondentes, a espessura de filmes nano multicamadas pode ser medida com precisão. No geral, os acessórios de difratômetro de ângulo pequeno são um componente indispensável e importante dos difratômetros de raios X, com amplas perspectivas de aplicação em ciência de materiais, química, física e outros campos.

Os acessórios de fibra são testados quanto à sua estrutura cristalina única usando o método de difração de raios X (transmissão). Teste a orientação da amostra com base em dados como cristalinidade da fibra e largura de meio pico. Os acessórios de fibra têm uma ampla gama de aplicações em vários campos, incluindo ciência de materiais, biomedicina, engenharia química, nanotecnologia, exploração geológica, monitoramento ambiental e muito mais.

O difratômetro de raios X de alta resolução TD-3700, com todas as vantagens do difratômetro de raios X TD-3500, é equipado com um detector de matriz de alto desempenho. Comparado a detectores de cintilação ou detectores proporcionais, a intensidade do cálculo de difração pode ser aumentada em várias dezenas de vezes, e padrões de difração completos de alta sensibilidade e alta resolução e maior intensidade de contagem podem ser obtidos em um período de amostragem mais curto. O difratômetro de raios X de alta resolução TD-3700 suporta tanto métodos convencionais de varredura de dados de difração quanto métodos de varredura de dados de transmissão. A resolução do modo de transmissão é muito maior do que a do modo de difração, o que é adequado para análise estrutural e outros campos. O modo de difração tem sinais de difração fortes e é mais adequado para identificação de fase de rotina no laboratório. Além disso, no modo de transmissão, a amostra de pó pode estar em quantidades vestigiais, o que é adequado para aquisição de dados em casos em que o tamanho da amostra é relativamente pequeno e não atende aos requisitos do método de difração para preparação de amostra.

Usando o método de difração de raios X (transmissão) para testar a estrutura cristalina única das fibras. Teste a orientação da amostra com base em dados como textura de fibra e largura de meio pico.

O uso da técnica de quatro círculos concêntricos garante que o centro do instrumento de medição de ângulo permaneça inalterado independentemente de qualquer rotação, atingindo o objetivo de obter os dados mais precisos e maior completude. Quatro círculos concêntricos são uma condição necessária para a varredura convencional de cristal único.