Um difratômetro de raios X de monocristal revela a estrutura atômica 3D através da análise de padrões de difração de raios X (Lei de Bragg). Por meio da coleta de dados, transformada de Fourier e refinamento de modelos, ele gera mapas de densidade eletrônica para determinar configurações moleculares.

Um cristal único de qualidade para difração de raios X requer a escolha ideal do solvente (solubilidade/volatilidade moderada), um método de crescimento adequado (evaporação/difusão), alta pureza da amostra e um ambiente livre de vibrações para garantir uma morfologia bem definida e defeitos mínimos.

Este artigo detalha uma estratégia abrangente de três frentes para eliminar a interferência de difração de ordem superior na análise de monocristais por raios X. Os métodos envolvem filtragem de hardware na fonte usando monocromadores e fendas, otimização de parâmetros durante a coleta de dados para suprimir a detecção e algoritmos de correção de software para efeitos residuais no processamento de dados. Essa abordagem combinada garante a determinação de alta precisão da estrutura cristalina, controlando os erros de intensidade.

Os analisadores de difração de raios X (XRD) utilizam a Lei de Bragg para medir os ângulos de difração, permitindo a decodificação não destrutiva de fases cristalinas, constantes de rede, tamanho de grão e tensão a partir de mudanças no espaçamento interplanar.

A manutenção de equipamentos de difração de raios X segue o princípio de "Prevenção em Primeiro Lugar, Inspeção Regular". Os protocolos de segurança exigem "Proteção como Prioridade, Procedimentos Padronizados". As principais práticas incluem controle ambiental, cuidado com os componentes, verificações de segurança rigorosas e desligamento adequado. A adesão a esses princípios garante a longevidade do instrumento, a segurança do operador e a confiabilidade dos dados.

Um analisador de cristais por raios X de última geração que permite a exploração precisa de microestruturas de materiais. Seu controle PLC avançado, design modular e potência robusta de 5 kW garantem alta confiabilidade para aplicações globais de P&D e controle de qualidade industrial.

A Dandong Tongda Technology Co., Ltd. é uma empresa chinesa de alta tecnologia especializada em análise por raios X e equipamentos de END (Ensaios Não Destrutivos). Com foco em difração de raios X (DRX), fornecemos ferramentas de precisão para pesquisa e indústria em todo o mundo.

A eficiência de um difratômetro de pó pode ser duplicada otimizando-se a preparação da amostra (moagem, carregamento), os parâmetros do instrumento (faixa/velocidade de varredura) e adotando-se o processamento em lote e a manutenção de rotina. Essas etapas garantem dados de alta qualidade, reduzindo significativamente o tempo experimental e a necessidade de retrabalho.

Nas áreas de ciência dos materiais e testes industriais, a análise precisa de amostras depende de instrumentos confiáveis. O estágio rotativo de amostra produzido pela Dandong Tongda Technology Co., Ltd. é precisamente um acessório essencial, dedicado a aprimorar a qualidade da análise de difração de raios X (XRD). Na análise de difração de raios X, as características da própria amostra frequentemente representam desafios. Por exemplo, quando os grãos são excessivamente grosseiros, o material apresenta textura significativa (ou "orientação preferencial", ou seja, os grãos não estão dispostos aleatoriamente) ou a amostra possui hábitos cristalinos específicos (padrões de crescimento cristalino), torna-se difícil obter dados de difração estatisticamente representativos e que reflitam verdadeiramente as propriedades gerais do material. Ao medir tais amostras com platinas de amostra estáticas tradicionais, a intensidade da difração pode ser distorcida devido aos fatores mencionados acima, afetando a precisão da identificação de fase, análise de textura e outras avaliações. A filosofia central de design da platina de amostra rotativa da Tongda Technology é abordar esses desafios, permitindo a rotação suave da amostra dentro de seu próprio plano. Função principal: Eliminar erros de orientação e aumentar a confiabilidade dos dados O princípio de funcionamento deste estágio rotativo de amostra é intuitivo e eficaz. Ao fazer a amostra girar continuamente ou em etapas, ele garante que o feixe de raios X abranja mais grãos com diferentes orientações na amostra durante a irradiação. As principais vantagens desta abordagem são: Redução eficaz de erros de medição: por meio do efeito de rotação média, ele atenua significativamente os desvios de medição causados ​​por grãos grossos ou orientação preferencial, tornando os dados de difração mais representativos das propriedades gerais do material. Garantindo a reprodutibilidade dos resultados: independentemente de a amostra ter textura ou não, ela garante boa reprodutibilidade da intensidade de difração em múltiplas medições ou entre diferentes laboratórios, aumentando a confiabilidade e a comparabilidade dos dados. Requisitos simplificados de preparação de amostras: reduz as rigorosas exigências de preparação perfeita de amostras até certo ponto, melhorando a eficiência da análise. Especificações técnicas: Controle de precisão e adaptabilidade flexível O estágio de amostra rotativo da Dandong Tongda Technology oferece os seguintes parâmetros técnicos principais para atender às rigorosas demandas de pesquisa científica e testes industriais: Descrição do parâmetro Método de rotação eixo β (a amostra gira dentro de seu próprio plano) Faixa de velocidade de rotação 1 ~ 60 RPM (rotações por minuto) Ajustável com base em requisitos experimentais Precisão do passo Largura mínima do passo: 0,1º Suporta varredura de posicionamento de alta precisão Modos de operação Rotação de velocidade constante (para varredura de amostra), passo a passo, contínuo e outros modos Adapta-se a vários fluxos de trabalho de teste e necessidades de aquisição de dados Aplicações típicas Controle de qualidade e P&D em indústrias como proteção ambiental e eletrônica Compatibilidade Usado principalmente como acessório para espectrômetros de difração de raios X (XRD) Cenários de aplicação: atendendo às indústrias de proteção ambiental e eletrônica Este estágio de amostra rotativo não é apenas uma "peça de exibição" no laboratório; ele atende diretamente a indústrias com altos requisitos para análise de materiais, como proteção ambiental e eletrônica. Em áreas como controle de qualidade, desenvolvimento de novos produtos e análise de falhas nesses campos, ele auxilia engenheiros e pesquisadores a conduzir análises de fase mais precisas em amostras de várias formas, incluindo pós, materiais a granel e filmes finos, garantindo a autenticidade e a confiabilidade dos dados.

Os acessórios para fibras ópticas de XRD e FTIR oferecem soluções completas para a caracterização de materiais. As unidades de XRD analisam a estrutura e a orientação cristalina, enquanto os sistemas FTIR identificam a composição por meio de microimagem e tecnologia ATR. Os acessórios incluem difração de pequenos ângulos, feixe paralelo para filmes finos e estágios de temperatura in situ para análises em nanoescala. O manuseio automatizado de amostras aumenta a eficiência. As aplicações abrangem pesquisa de materiais, controle de qualidade industrial e estudos científicos do dicroísmo de polímeros. Essas ferramentas continuam a evoluir, impulsionando inovações na ciência das fibras e em aplicações industriais.

A instrumentação de difração de raios X de mesa TDM-10 é um instrumento usado para analisar a estrutura de fase de materiais, que pode ser equipado com detectores de cintilação/proporcionais/lineares. 1. O princípio de funcionamento da instrumentação de difração de raios X de mesa TDM-10: Com base na lei de Bragg, quando um feixe de raios X monocromático incide em um cristal, se a condição de difração de Bragg for satisfeita (n λ=2dsin θ, onde λ é o comprimento de onda do raio X, d é o espaçamento interplanar e θ é o ângulo de incidência), átomos ou moléculas no cristal se espalharão e interferirão no raio X, formando um padrão de difração específico. Ao medir a intensidade de difração em diferentes ângulos, as informações estruturais do cristal podem ser obtidas. 2. Características da instrumentação de difração de raios X de mesa TDM-10: A alta resolução de uma instrumentação de difração de raios X de mesa permite a medição precisa da estrutura cristalina de substâncias, o que é crucial para estudar misturas complexas ou procurar fases policristalinas e traços de baixo teor. Análise não destrutiva de instrumentação de difração de raios X de mesa: durante o processo de teste, não causará danos à amostra, e a amostra pode permanecer em seu estado original para testes ou uso posteriores. A operação do equipamento de difração de raios X de mesa é simples: os modernos equipamentos de difração de raios X de mesa geralmente têm funções de automação e inteligência, tornando a operação mais conveniente e reduzindo os requisitos de conhecimento e habilidades profissionais do operador. A versatilidade do equipamento de difração de raios X em pó de mesa: o equipamento de difração de raios X em pó pode realizar várias análises, como análise qualitativa e quantitativa de fase, análise de constante de rede, análise de tensão, etc. 3. Parâmetros técnicos do equipamento de difração de raios X em pó de mesa TDM-10: A máquina de difração de raios X de mesa tem um pequeno volume; A fonte de alimentação de alta frequência e alta tensão reduz o consumo geral de energia da máquina; Pode calibrar e testar amostras rapidamente; Controle de circuito simples, fácil de depurar e instalar; A precisão da medição da posição do pico de difração é de 0,001 °; Detector: cintilação, proporcional, matriz linear; Faixa de 2 θ:- 10°~150° Potência: 600W; Tensão máxima: 40kV; Corrente máxima: 15mA; Tubos de raios X: tubos cerâmicos corrugados, tubos metalocerâmicos, tubos de vidro. 4. Áreas de aplicação da máquina de difração de raios X de mesa TDM-10: Ciência dos Materiais: Usada para estudar a estrutura cristalina, composição de fases, tamanho de grão, cristalinidade, etc. de metais, cerâmicas, semicondutores e outros materiais, ajudando cientistas de materiais a entender as propriedades e características dos materiais. No campo da química, a máquina de difração de raios X pode ser usada na indústria de fabricação de catalisadores, cimento, produtos farmacêuticos e outros produtos para identificar fases em amostras desconhecidas, bem como para analisar quantitativamente fases conhecidas em amostras mistas. Geologia: Realização de análises de fase em minérios, rochas, etc. para determinar sua composição mineral e estrutura. Ciência ambiental: usada para analisar a composição mineral e formas poluentes em amostras ambientais, como solo e sedimentos. Indústria alimentícia: detecção de componentes de cristais, aditivos, etc. em alimentos. A máquina de difração de raios X de mesa TDM-10 é um poderoso instrumento analítico com importante valor de aplicação em vários campos.

Os acessórios de fibra são testados quanto à sua estrutura cristalina única usando o método de difração de raios X (transmissão). Teste a orientação da amostra com base em dados como textura da fibra e largura de meio pico.