A Fiber Accessories utiliza o método de difração de raios X (transmissão) para analisar a estrutura cristalina única das fibras. Parâmetros como cristalinidade e largura total na metade do máximo (FWHM) são usados ​​para determinar o grau de orientação da amostra. ​ Principais funções e características dos acessórios de fibra: Manutenção da Orientação das Fibras: Este é o aspecto mais crítico. As fibras normalmente apresentam alta anisotropia, com cristais preferencialmente alinhados ao longo do eixo da fibra. Os Acessórios de Fibra podem endireitar e fixar feixes de fibras, preservando sua orientação original para medir o grau de orientação e a distribuição. Adaptação a diferentes formulários de amostra: Fibra única: Extremamente fina, exigindo grampos ou armações especiais para fixação. Feixe de fibras: Várias fibras dispostas em paralelo; os acessórios de fibra devem alinhá-las e tensioná-las uniformemente. Tecido de fibra: materiais como o tecido exigem uma estrutura plana para serem esticados. Habilitando modos de teste especiais: Modo de Transmissão: Adequado para feixes de fibras finas ou fibras individuais. Os acessórios de fibra incluem uma estrutura dedicada para tensionar a fibra, permitindo que os raios X penetrem diretamente na amostra. Modo de Reflexão: Usado para feixes de fibras ou tecidos mais espessos. Os Acessórios de Fibra fornecem uma superfície de amostra plana para este modo. Suporte para amostras de fibra: Trata-se de uma estrutura simples de metal ou plástico equipada com ranhuras ou botões. Durante a operação, ambas as extremidades do feixe de fibras são fixadas ao suporte, e os botões são girados para tensionar a fibra, mantendo-a reta e paralela. O suporte inteiro pode ser colocado no goniômetro de XRD para teste, semelhante a uma amostra padrão. Em resumo, os Acessórios de Fibra para XRD são dispositivos especializados de fixação de amostras, projetados para testar amostras fibrosas com estruturas anisotrópicas. Sua principal função é manter e regular a orientação das fibras, enquanto versões avançadas podem suportar alongamento in situ e outras funcionalidades, fornecendo insights cruciais sobre a orientação das estruturas cristalinas nas fibras.

O analisador de tensão residual multifuncional desenvolvido pela Dandong Tongda Technology Co., Ltd. foi projetado para atender às necessidades de medições rápidas e precisas em ambientes de laboratório e de campo. Baseado principalmente no princípio de difração de raios X, ele permite ensaios não destrutivos do estado de tensão residual no interior dos materiais. Análise versátil tudo-em-um Este analisador integra múltiplas funções de análise de materiais, melhorando significativamente a utilidade e a eficiência do equipamento: Análise de tensão residual: suporta vários modos de medição, como inclinação ômega padrão, inclinação psi padrão e oscilação padrão, capazes de determinar tensões principais e tensões de cisalhamento para uma avaliação abrangente do estado de tensão. Análise de austenita retida: emprega o método de quatro picos para testes de austenita retida, com cálculo de dados totalmente automatizado para resultados rápidos. Análise de fase de difração: usada para analisar estruturas cristalinas, conteúdo de composição química e distribuição, ajudando pesquisadores a obter insights mais profundos sobre a constituição do material. Análise de tamanho de grão: suporta avaliação de tamanho de grão desde nanoescala até escala submicrônica, particularmente adequada para grãos finos ≤200 nm. Características técnicas e desempenho Este instrumento possui múltiplas características técnicas que visam garantir precisão, estabilidade e facilidade de uso: Medição e controle de alta precisão: utiliza um sistema servo de acionamento vetorial de malha totalmente fechada de alta precisão para garantir precisão e repetibilidade da medição. Aquisição de dados eficiente: equipado com um detector de matriz linear de tira de silício multicanal, que fornece desempenho sem ruído, medição de alta intensidade e coleta rápida de dados para aumentar a eficiência da detecção. Design portátil: apresenta uma construção leve, tornando-o adequado não apenas para ambientes de laboratório, mas também para medições rápidas no local, adaptando-se a vários cenários de teste. Operação fácil de usar: integra o sistema operacional Windows ou funções de automação, suportando testes de um clique e exibição de resultados em tempo real, reduzindo a barreira operacional. Modularidade e Segurança: Utiliza um sistema de controle PLC com design modular para facilidade de operação e desempenho estável. Em termos de segurança, seu design de raios X de baixa potência atende aos padrões de segurança relevantes, com níveis de radiação significativamente abaixo do limite anual de dose pública. Amplos campos de aplicação O analisador de tensão residual multifuncional da Dandong Tongda tem amplas aplicações, cobrindo quase todos os setores industriais e instituições de pesquisa que exigem avaliação de propriedades mecânicas de materiais: Controle de qualidade de fabricação: usado para detectar tensões residuais em peças estampadas, fundidas e laminadas durante o processamento. Indústria automotiva: testa tensões residuais em componentes críticos, como eixos de comando e bielas, para garantir confiabilidade e durabilidade. Aeroespacial: Avalia cargas de trabalho em áreas críticas de materiais aeroespaciais para avaliar a segurança. Pesquisa em Ciência de Materiais: Aplicável a vários materiais metálicos (por exemplo, aço carbono, aço de liga, liga de titânio, materiais à base de níquel), vidro e materiais compostos para análise de tensão residual, austenita retida, fase e tamanho de grão. O analisador de tensão residual multifuncional da Dandong Tongda Technology Co., Ltd. demonstra a expertise técnica da empresa na área de testes de materiais, integrando diversas funções analíticas. Este instrumento fornece a engenheiros e pesquisadores uma visão do estado de tensão intrínseca dos materiais, ajudando a controlar a qualidade do produto na fonte, otimizar os parâmetros do processo e, assim, aumentar a confiabilidade e a durabilidade do produto.

A difração de raios X é um método para estudar a fase e a estrutura cristalina de uma substância usando o fenômeno de difração dos raios X em um cristal.

A técnica de difração de raios X é frequentemente usada para detectar a qualidade do cristal de wafers e wafers epitaxiais.

A detecção qualitativa XRD é conveniente, rápida e com menos interferência. Com a inovação contínua dos meios técnicos, a tecnologia de difração de raios X tem uma perspectiva de aplicação mais ampla no campo da análise de materiais.

Difração de raios X, através da difração de raios X de um material, a análise de seu padrão de difração, para obter a composição do material, a estrutura ou forma dos átomos ou moléculas dentro do material e outros meios de pesquisa.

De acordo com as mudanças de posição e intensidade dos picos de difração de XRD in situ, os intermediários gerados durante o ciclo podem ser inferidos, e o mecanismo de reação pode ser derivado ainda mais desses intermediários.

Recentemente, um novo estudo fundiu com sucesso óxidos metálicos com zeólito A e revelou o mistério deste processo através da tecnologia XRD e FTIR.

XRD, é a abreviação de difração de raios X, como pessoa material, não importa qual material seja feito, XRD é o meio mais comumente usado, o meio mais básico de caracterização.

XRD in-situ é uma das técnicas de caracterização avançada mais populares e desenvolvidas para estudar sistemas de baterias de íons de lítio e íons de sódio em processos eletroquímicos.

A tecnologia XRD desempenha um papel importante na pesquisa e desenvolvimento de materiais cerâmicos. Ele fornece uma base científica confiável para a síntese, otimização do processo de preparação, melhoria de desempenho e popularização de aplicações de materiais cerâmicos.

É difícil quantificar as fases amorfa e cristalina dos materiais cimentícios devido à complexidade das fases minerais na mistura e aos picos sobrepostos significativos. Excelentes resultados podem ser obtidos pelo refinamento Rietveld da amostra medida usando configurações de medição padrão.