A difração de raios X é um método para estudar a fase e a estrutura cristalina de uma substância usando o fenômeno de difração dos raios X em um cristal.

A técnica de difração de raios X é frequentemente usada para detectar a qualidade do cristal de wafers e wafers epitaxiais.

A detecção qualitativa XRD é conveniente, rápida e com menos interferência. Com a inovação contínua dos meios técnicos, a tecnologia de difração de raios X tem uma perspectiva de aplicação mais ampla no campo da análise de materiais.

Difração de raios X, através da difração de raios X de um material, a análise de seu padrão de difração, para obter a composição do material, a estrutura ou forma dos átomos ou moléculas dentro do material e outros meios de pesquisa.

De acordo com as mudanças de posição e intensidade dos picos de difração de XRD in situ, os intermediários gerados durante o ciclo podem ser inferidos, e o mecanismo de reação pode ser derivado ainda mais desses intermediários.

Recentemente, um novo estudo fundiu com sucesso óxidos metálicos com zeólito A e revelou o mistério deste processo através da tecnologia XRD e FTIR.

XRD, é a abreviação de difração de raios X, como pessoa material, não importa qual material seja feito, XRD é o meio mais comumente usado, o meio mais básico de caracterização.

XRD in-situ é uma das técnicas de caracterização avançada mais populares e desenvolvidas para estudar sistemas de baterias de íons de lítio e íons de sódio em processos eletroquímicos.

A tecnologia XRD desempenha um papel importante na pesquisa e desenvolvimento de materiais cerâmicos. Ele fornece uma base científica confiável para a síntese, otimização do processo de preparação, melhoria de desempenho e popularização de aplicações de materiais cerâmicos.

É difícil quantificar as fases amorfa e cristalina dos materiais cimentícios devido à complexidade das fases minerais na mistura e aos picos sobrepostos significativos. Excelentes resultados podem ser obtidos pelo refinamento Rietveld da amostra medida usando configurações de medição padrão.

A composição do padrão de difração é principalmente a posição e intensidade do pico de difração, e nossa análise do padrão XRD é baseada nas mudanças na intensidade e posição para explicar as mudanças no micro e macro do material.

SBA-15 é uma espécie de peneira molecular mesoporosa, e sua síntese é outra importante tecnologia química emergente nos últimos anos.