Tomando a escala de deposição como exemplo, este artigo apresenta como usar o difratômetro de raios X para fase qualitativa e análise quantitativa.

A aplicação de novas tecnologias e novos produtos, como 5G, big data e inteligência artificial, trará uma enorme demanda ao mercado de semicondutores, e os gastos globais com equipamentos de semicondutores entraram em um ciclo ascendente.

A anterior introdução detalhada e completa do serviço de pré-venda, venda e pós-venda da empresa, hoje apresentada, é o conteúdo relacionado ao treinamento de produtos da nossa empresa.

XRD de alta resolução (HR-XRD) é um método comum para medir a composição e espessura de semicondutores compostos, como SiGe, AlGaAs, InGaAs, etc.

O difratômetro de raios X (XRD) pode ser dividido em difratômetro de pó de raios X e difratômetro de cristal único de raios X, o princípio físico básico dos dois é o mesmo.

A fluorescência de raios X de reflexão total (TXRF) é uma técnica de análise de elementos de superfície comumente usada para analisar partículas, resíduos e impurezas em superfícies lisas.

XRD é um meio de pesquisa que consiste na difração por difração de raios X de um material para analisar seu padrão de difração para obter informações como a composição do material, a estrutura ou forma dos átomos ou moléculas dentro do material.

A difração de raios X de incidência pastosa (GI-XRD) é um tipo de técnica de difração de raios X, que se diferencia do experimento XRD tradicional, principalmente por alterar o ângulo de incidência dos raios X e a orientação da amostra.

Nos últimos anos, a técnica de espalhamento de raios X de pequeno ângulo de macromoléculas biológicas tem recebido ampla atenção. Este artigo apresentará principalmente o progresso relevante da combinação de pequeno ângulo biológico e outras técnicas nos últimos anos.

É necessário reduzir a tensão residual prejudicial e prever a tendência de distribuição e o valor da tensão residual. Neste artigo, é introduzido o método de teste não destrutivo de teste de tensão residual.

Os testes não destrutivos baseiam-se no desenvolvimento da ciência e da tecnologia modernas. Com o desenvolvimento da indústria moderna, a aplicação de testes não destrutivos é cada vez mais popular.

A difração de raios X (XRD) é atualmente um método poderoso para estudar a estrutura cristalina (como o tipo e distribuição de localização de átomos ou íons e seus grupos, formato e tamanho das células, etc.).