Difração de raios Xé uma técnica poderosa para analisar a estrutura cristalina dos materiais. Ele usa o fenômeno de difração gerado pela interação dos raios X com os planos atômicos dispostos regularmente no cristal para inferir a estrutura cristalina, os parâmetros da rede, o arranjo atômico e a composição de fases do material.
Raio Xdifração processo Quando o raio X passa através do cristal, porque os átomos dentro do cristal estão dispostos de acordo com uma certa lei para formar uma rede, o raio X como uma onda eletromagnética irá interagir com os átomos. Cada átomo atuará como uma pequena fonte de espalhamento, mas devido à periodicidade da rede, os raios X espalhados por cada átomo irão interferir.
Análise da estrutura cristalina
Tomando o cristal único de silício como exemplo, o silício pertence à estrutura cúbica de face centrada, e seu padrão típico de difração de raios X aparecerá vários conjuntos de picos de difração característicos, como (111), (220), (311) e outros cristal enfrenta picos correspondentes. Medindo as posições desses picos, usando a lei de Bragg para calcular o espaçamento correspondente do plano cristalino, combinado com os parâmetros de rede do silício, a exatidão doestrutura de cristalpode ser verificado.
A tecnologia de difração de raios X fornece uma janela para a microestrutura dos materiais, capturando e analisando o sinal de difração dos cristais, e é um meio de pesquisa indispensável em muitos campos.