O espectro de difração de raios X analisa principalmente o estado cristalino e a microestrutura do material, porque o comprimento de onda do Raio Xé semelhante à constante de rede do cristal, irradiada sobre o material cristalino, e o padrão de difração gerado pela análise pode determinar a estrutura atômica e o tipo de cristal. Existem duas medições de difração de raios X paraanálise de cristal.
1. Método do espectro de difração de raios X,Difratômetro de raios Xa estrutura básica tem três partes: fonte de raios X, goniômetro, detector.
Normalmente, a fonte de raios X é produzida usando um feixe de elétrons para atingir um alvo de cobre. Os raios X característicos de Ka são medidos por um único seletor de frequência. O comprimento de onda óptico Cu-KaX é 1.542A, resultando em umDifração de raios Xespectro. Pegue o padrão de difração de cristal único conforme mostrado na figura à direita. A direção do plano do produto (400) é obtida a partir do ângulo da crista de difração em comparação com o gráfico padrão de difração de cristal de pó. Quanto mais forte for a intensidade da crista e mais estreita for a largura de meia altura, melhores serão as características do produto.
2. Método Laue de retrorreflexão de raios X
O método Laue de reflexão de raios X é um espectro obtido usandoIrradiação de raios X de cristais. A irradiação de raios X em um wafer único de silício fixo produzirá fenômeno de difração em certos ângulos de acordo com a lei de Bragg, conforme mostrado na figura à esquerda, e o padrão de difração de (100) reflexão de cristal único Laue é mostrado na figura do certo. Este método pode ser usado para distinguir a direção do cristal de um único cristal.
