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    Difratômetro
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    Analisador de Cristal de Raios X em Série
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    Um difratômetro de raios X 2D
    Vantagens: Profundidade de penetração de raios X continuamente ajustável Capacidade de observar a distribuição de planos cristalinos com diferentes orientações. Análise da distribuição de orientação em amostras como fibras, filmes finos e pós. Análise de características estruturais como distorção da rede cristalina e tamanho do cristalito.
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Software de análise poderoso para instrumentos de difração

2024-09-27

Descrição do recurso de software:

Este programa é um programa autodesenvolvido. Ele contém vários métodos quantitativos desenvolvidos independentemente, de acordo com a teoria da difração, e calculados inteiramente usando intensidade integrada.Função de análise. Se este programa contiver a função de ajuste de pico de espectro total, separação e quantificação que ainda pode ser quantificada com precisão sob diferentes larguras de linha de fase;como

A função do método de quantificação de intensidade integrada, que pode eliminar convenientemente e automaticamente a interferência de picos sobrepostos desta fase e de outras fases, e não é afetada pelas diferentes larguras de linha de cada fase, como

Cálculo de arquivo PDF completo, combinação de espectro, método de ajuste de espectro total, cálculo de arquivo de cartão personalizado, combinação de espectro, método de ajuste de espectro total, etc. Todos os métodos acima usam integração.

O conceito de intensidade pode ser quantificado por ajuste de espectro completo sem envolver estrutura e com diferentes larguras de linha de fase. Pode excluir picos sobrepostos.A interferência pode reduzir ou eliminar a influência da orientação preferida.


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