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Princípios técnicos, estado de desenvolvimento e aplicações de espectrômetros de absorção de raios X: uma revisão.

2026-04-07

I. Princípios Técnicos

Espectrômetros de absorção de raios XA espectroscopia de absorção de raios X opera com base no efeito fotoelétrico, medindo a variação do coeficiente de absorção de raios X de um material em função da energia do fóton incidente para revelar a estrutura atômica local e informações sobre o estado eletrônico de elementos específicos na amostra. Quando a energia dos raios X atinge a energia de ligação dos elétrons do nível de caroço, esses elétrons são excitados para estados desocupados ou de contínuo, causando uma mudança abrupta no coeficiente de absorção e formando uma borda de absorção. A estrutura fina dentro de aproximadamente 50 eV da borda de absorção é chamada de estrutura fina de absorção de raios X próxima à borda (XANES), que fornece informações sobre a valência elementar, a simetria de coordenação e a hibridização orbital. Os sinais oscilatórios na faixa de energia de 50 a 1000 eV acima da borda de absorção são denominados estrutura fina de absorção de raios X estendida (EXAFS). Através da transformada de Fourier, a EXAFS pode extrair parâmetros estruturais como comprimentos de ligações de coordenação, números de coordenação e graus de desordem.

 

II. Situação atual de desenvolvimento

Nos últimos anos,Espectrômetro de absorção de raios XA tecnologia tem apresentado duas grandes tendências. Primeiro, as fontes de luz de radiação síncrotron estão sendo atualizadas para anéis de armazenamento de quarta geração com resolução limitada pela difração, com brilho aumentado em várias ordens de magnitude e resolução energética atingindo ΔE/E ≤ 10⁻⁴. Segundo, avanços significativos em instrumentos de bancada foram alcançados — por exemplo, a série Easy XAFS, resultado de 20 anos de miniaturização de síncrotrons, concentrou a funcionalidade de um acelerador de anel com 432 metros de circunferência em um instrumento de laboratório convencional, preenchendo uma lacuna no mercado nacional. Em 2024, o mercado global de instrumentos de bancada atingiu US$ 113 milhões e a expectativa é que cresça para US$ 152 milhões até 2031, com uma taxa de crescimento anual composta (CAGR) de 4,2%. Empresas nacionais como a Anhui Chuangpu Instrument e a Guochuang Scientific Instrument lançaram produtos que foram incluídos em catálogos de produtos industriais de alta qualidade em nível provincial, acelerando significativamente o ritmo de nacionalização da produção.

 XAFS

III. Campos de Aplicação

Essa tecnologia permeou diversos campos, incluindo ciência dos materiais, energia, meio ambiente e biomedicina. Em catálise, permite o monitoramento em tempo real das mudanças no estado de valência em centros ativos de catalisadores. Na pesquisa de materiais para baterias, possibilita a análise da evolução estrutural durante os processos de carga/descarga de materiais de eletrodo. No monitoramento ambiental, analisa o ambiente de coordenação de metais pesados ​​no solo. Em biomedicina, fornece dados cruciais para a determinação da estrutura de metaloproteínas e o desenvolvimento de fármacos. Sua natureza não destrutiva, especificidade elementar e alta sensibilidade (limite de detecção de até 0,5% em peso) a tornam uma ferramenta essencial para a investigação da estrutura local de sistemas complexos.


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