A difração de raios X é um método para estudar a fase e a estrutura cristalina de uma substância usando o fenômeno de difração dos raios X em um cristal.Difratômetro de raios Xé um tipo de instrumento para realizar a tecnologia de difração de raios X, composta principalmente por fonte de raios X, sistema de mecanismo de ajuste de orientação de posição de amostra e amostra, detector de raios X e sistema de processamento e análise de padrão de difração.
Na pesquisa científica,Difração de raios Xnão pode apenas caracterizar a estrutura e fase dos materiais. Na verdade, o padrão XRD também inclui informações cristalográficas, como grupo espacial, comprimento de ligação, tamanho de grão e tensão de rede do material sintético.
DRXo refinamento pode verificar a exatidão da análise estrutural. Quando um elemento do material cristalino é substituído ou parcialmente substituído, também podemos utilizar a estrutura isomórfica para realizar o refinamento e obter a estrutura cristalina do material substituto.
A análise de refinamento da estrutura XRD consiste em substituir a quantidade de espalhamento único hkl pela quantidade total de espalhamento e usar o modelo matemático para ajustar os dados experimentais, separar a quantidade de espalhamento de cada fase e realizar a análise quantitativa da fase. O processo de ajuste consiste em ajustar continuamente os valores dos parâmetros no modelo e, finalmente, alcançar a melhor concordância entre os dados experimentais e os valores calculados do modelo.