Difratômetro de raios X de bancada

Vantagens do difratômetro de raios X TDM-10:

• A combinação perfeita entre o sistema de hardware e o sistema de software do equipamento de difração de raios X em pó atende às necessidades de acadêmicos e pesquisadores em diferentes áreas de aplicação.

• O equipamento de difração de raios X em pó possui um sistema de medição de ângulo de difração de alta precisão para obter resultados de medição mais exatos.

• Sistema de controle do gerador de raios X de alta estabilidade, proporcionando maior precisão nas medições repetidas.

• Diversos acessórios funcionais para equipamentos de difração de raios X em pó atendem às necessidades de diferentes finalidades de teste.

• O difratômetro de raios X TDM-10 possui operação programada e design de estrutura integrada, sendo fácil de operar e com uma aparência mais elegante.

Objetivo e princípio do difratômetro de raios X TDM-10:

O difratômetro de raios X é utilizado principalmente para determinação de fases, análise quantitativa, análise de estrutura cristalina, análise de estrutura de materiais, análise de orientação cristalina, medição de tensão macroscópica ou microscópica em amostras de pó, sólidos, pastas similares ou filmes finos. Também é utilizado para medição de tamanho de partículas, cristalinidade, etc. De acordo com o princípio geométrico de Debye-Xiele, resultados de alta precisão podem ser obtidos. Os equipamentos de difração de raios X são amplamente utilizados em laboratórios de geologia, ciências marinhas, biologia, química, usinas nucleares, laboratórios de controle industrial e laboratórios de ensino, instituições de ensino superior, etc.

O princípio básico de um difratômetro de raios X:

Um feixe de raios X monocromáticos incide sobre um pequeno número de microcristais completamente orientados aleatoriamente, com dimensões entre 1 e 10 μm. Para reduzir a orientação preferencial, as amostras policristalinas são geralmente rotacionadas. Assumindo que existe uma faceta (hkl) no cristal que satisfaz a condição de reflexão de Bragg, o raio incidente forma um ângulo θ com a superfície da rede (hkl), e o ângulo entre o raio refletido e o raio incidente é 2θ. Como a orientação dos microcristais é arbitrária, as linhas de difração de cada grupo de planos (hkl) formam uma superfície cônica, e o ângulo de incidência corresponde a 4θ para a luz incidente. Para o grupo de planos cristalinos que satisfaz a condição de reflexão de Bragg, o espaçamento entre os planos cristalinos é maior que λ/2 (ou seja, senθ < 1), e o cone de linhas de difração correspondente é obtido. Todos os métodos experimentais de difração de raios X em pó incluem a fonte de raios X e a configuração experimental para registrar corretamente as linhas de difração do cristal, satisfazendo a lei de Bragg.

Sobre nós

A empresa é uma empresa nacional de alta tecnologia, uma empresa de dupla certificação na província de Liaoning, uma empresa com certificação ISO de sistema de qualidade e detentora de diversas patentes de invenção e de modelo de utilidade. É uma empresa de alta tecnologia apoiada pelo Governo Provincial de Liaoning e pelo Governo Municipal de Dandong, e em 15 de maio de 2013, foi criado um centro de pesquisa para especialistas acadêmicos. A empresa é uma fabricante profissional de instrumentos analíticos de raios X e instrumentos de ensaio não destrutivo. Foi uma das empresas contempladas com o projeto do Ministério Nacional da Ciência e Tecnologia [Projeto Nacional de Desenvolvimento de Grandes Instrumentos e Equipamentos Científicos] em 2013.