



O acessório para filmes finos permite análises de difração de raios X (DRX) precisas em filmes de nanômetros/micrômetros, sendo ideal para semicondutores, revestimentos e polímeros. Ele aprimora o sinal, reduz a interferência do substrato e suporta varreduras de alta velocidade, sendo amplamente utilizado em pesquisa e desenvolvimento e controle de qualidade com difratômetros da série TD.
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