O XAFS, como uma técnica avançada de caracterização para a análise da estrutura local de materiais, pode fornecer informações de coordenação da estrutura atômica mais precisas na faixa de estrutura de curto alcance do que a difração de cristal de raios X.

A Estrutura Fina de Absorção de Raios X (XAFS) é uma ferramenta poderosa para estudar a estrutura atômica ou eletrônica local de materiais baseados na fonte de luz de radiação síncrotron.

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A espectroscopia de difração de raios X analisa principalmente o estado cristalino e a microestrutura dos materiais, e existem dois métodos de medição de difração de raios X para análise de cristal.

O instrumento automático de orientação de raios X é um instrumento indispensável para processamento de precisão e fabricação de dispositivos de cristal. É amplamente utilizado na pesquisa, processamento e fabricação de materiais cristalinos.

A composição do padrão de difração é principalmente a posição e intensidade do pico de difração, e nossa análise do padrão XRD é baseada nas mudanças na intensidade e posição para explicar as mudanças no micro e macro do material.

Um difratômetro de raios X é um instrumento de precisão usado para estudar a estrutura cristalina, morfologia e propriedades da matéria. Durante o processo de embalagem e transporte, certas medidas precisam ser tomadas para garantir que a segurança e o desempenho do instrumento não sejam afetados.

Como um dos meios importantes de caracterização da estrutura de materiais, o XRD é amplamente utilizado em materiais, física, química, medicina e outros campos.

O difratômetro de raios X é usado principalmente para caracterização de fase, análise quantitativa, análise de estrutura cristalina, análise de estrutura de material, análise de orientação cristalina de amostras de pó, bloco ou filme fino, etc.