Fundada em 2002, Dandong Tongda Technology Co., Ltd. é uma empresa nacional de alta tecnologia com instrumentos de análise de raios X e instrumentos de teste não destrutivos de raios X como seus principais produtos

Recentemente, o Ministério da Ciência e Tecnologia anunciou a lista do segundo lote de projetos-chave no âmbito do Plano Nacional de Pesquisa e Desenvolvimento de 2023 "Condições básicas de pesquisa científica e pesquisa e desenvolvimento de principais instrumentos e equipamentos científicos".

O XAFS, como uma técnica avançada de caracterização para a análise da estrutura local de materiais, pode fornecer informações de coordenação da estrutura atômica mais precisas na faixa de estrutura de curto alcance do que a difração de cristal de raios X.

A Estrutura Fina de Absorção de Raios X (XAFS) é uma ferramenta poderosa para estudar a estrutura atômica ou eletrônica local de materiais baseados na fonte de luz de radiação síncrotron.

Feliz Dia da Mulher! Neste feliz festival, você pode ter um feriado feliz e agradável! Aproveite, tenha calma e descanse! Espero que você possa ser feliz todos os dias, tenha sempre um bom humor!

A fim de mostrar o bom estilo de desenvolvimento vigoroso da Dandong Tongda Company, aumentar a amizade e aumentar a coesão, a empresa organizou uma atividade de construção de grupo de 30 a 31 de janeiro de 2024.

A espectroscopia de difração de raios X analisa principalmente o estado cristalino e a microestrutura dos materiais, e existem dois métodos de medição de difração de raios X para análise de cristal.

O instrumento automático de orientação de raios X é um instrumento indispensável para processamento de precisão e fabricação de dispositivos de cristal. É amplamente utilizado na pesquisa, processamento e fabricação de materiais cristalinos.

A composição do padrão de difração é principalmente a posição e intensidade do pico de difração, e nossa análise do padrão XRD é baseada nas mudanças na intensidade e posição para explicar as mudanças no micro e macro do material.

Um difratômetro de raios X é um instrumento de precisão usado para estudar a estrutura cristalina, morfologia e propriedades da matéria. Durante o processo de embalagem e transporte, certas medidas precisam ser tomadas para garantir que a segurança e o desempenho do instrumento não sejam afetados.