O acessório de difração de pequeno ângulo é um componente especializado usado em instrumentos de difração de raios X, principalmente para a análise da estrutura e espessura de materiais em nanoescala. 1. Funções principais dos acessórios de difração de pequeno ângulo (1) Faixa de ângulo de difração: cobrindo uma pequena faixa de ângulo de 0 ° -5 °, adequada para análise de difração de materiais em nanoescala. (2) Aplicação principal: pode testar com precisão a espessura de filmes nano multicamadas e dar suporte ao estudo da superfície do material ou estrutura da interface. 2. Dispositivos compatíveis para acessórios de difração de ângulo pequeno Este acessório é geralmente usado em conjunto com difratômetros de raios X (como TD-3500, TD-3700, TDM-20, etc.). 3. Cenários de aplicação de acessórios de difração de pequeno ângulo (1) Ciência dos Materiais: Caracterização de Estruturas de Nanofilmes e Filmes Multicamadas. (2) Química e Engenharia Química: Tratamento de Superfície de Materiais, Teste de Espessura de Revestimento. (3) Outros campos: Análise em nanoescala de materiais como geologia, minerais, cerâmicas e produtos farmacêuticos. 4. Informações do fabricante A Dandong Tongda Technology Co., Ltd. é a principal fabricante deste tipo de acessório, e seus instrumentos analíticos da série TD têm sido mencionados como aproximando-se ou alcançando os padrões internacionais, sendo exportados para países como os Estados Unidos e o Azerbaijão. Em geral, os acessórios de difração de pequeno ângulo são ferramentas essenciais para análise de nanomateriais e medição de espessura de filmes finos, e precisam ser utilizados em conjunto com instrumentos especializados de difração de raios X. Seus cenários de aplicação concentram-se em áreas de ponta, como ciência dos materiais e engenharia química.

O acessório de medição de filme óptico paralelo é um componente especializado usado em difratômetros de raios X, principalmente para melhorar a intensidade do sinal e a precisão de detecção de amostras de filme fino. 1. Principais funções dos acessórios de medição de filme óptico paralelo Suprimindo a interferência de espalhamento: aumentando o comprimento da grade, filtrando mais raios dispersos, reduzindo a interferência do sinal do substrato nos resultados de difração do filme fino e, assim, melhorando a intensidade do sinal do filme fino. Melhorando a precisão da análise de filmes finos: Adequado para testes de espessura e outros cenários de filmes finos nano multicamadas, combinados com acessórios de difração de pequeno ângulo, é possível obter análises de difração de baixo ângulo na faixa de 0°~5°. 2. Características estruturais dos acessórios de medição de filmes ópticos paralelos Projeto da grade: estendendo o comprimento da grade, otimizando o caminho do raio X, melhorando a capacidade de filtragem dos raios dispersos e garantindo a pureza do sinal de difração do filme fino. 3. Âmbito de aplicação do acessório de medição de filme óptico paralelo Pesquisa em materiais de filmes finos: análise da estrutura cristalina de filmes nano multicamadas e filmes ultrafinos. Testes de semicondutores e revestimentos: usados ​​para avaliar a uniformidade, qualidade cristalina e outras características de filmes finos. 4. Equipamento compatível para acessório de medição de filme óptico paralelo Este acessório pode ser adaptado a vários modelos de difratômetro de raios X, incluindo: Difratômetro de raios X TD-3500 Difratômetro de cristal único de raios X TD-5000 Difratômetro de raios X de alta resolução TD-3700 Difratômetro de raios X de mesa TDM-20 No geral, o acessório de medição de filme óptico paralelo melhora significativamente a qualidade do sinal de difração de amostras de filme fino por meio da otimização estrutural e supressão de espalhamento, e é amplamente utilizado em ciência de materiais, fabricação de semicondutores e outros campos, especialmente adequado para necessidades de análise de alta precisão de filmes finos em nanoescala.

Acessórios para média e baixa temperatura in situ são acessórios de equipamentos experimentais utilizados para análise de materiais, principalmente para testes in situ em ambientes de baixa ou média baixa temperatura. Combinados com ambiente de vácuo, controle de temperatura e design de material de janela especial, são amplamente utilizados em áreas como química, ciência dos materiais e pesquisa catalítica. 1. Funções principais e parâmetros técnicos de acessórios de média e baixa temperatura in-situ (1) Faixa de temperatura e precisão de controle Suporta uma faixa de temperatura de -196 °C a 500 °C em ambiente de vácuo (como refrigeração com nitrogênio líquido), com precisão de controle de temperatura de ± 0,5 °C. Alguns modelos podem cobrir temperaturas de -150 °C a 600 °C, adequados para uma gama mais ampla de necessidades experimentais. (2) Método de refrigeração e sistema de resfriamento Utilizando refrigeração com nitrogênio líquido, com consumo de nitrogênio líquido inferior a 4 L/h, e mantendo uma temperatura estável por meio de um sistema de resfriamento por circulação de água deionizada. Sistema de resfriamento com nitrogênio líquido de baixa temperatura opcional (como a série Cryostream). (3) Materiais de janela e projeto estrutural O material da janela é principalmente filme de poliéster (como a série TD), e algumas configurações de infravermelho usam janelas de KBr ou SiO2. A estrutura inclui um design resistente a alta pressão (como 133 kPa) e é equipada com múltiplas entradas/saídas de gás, adequadas para reações in situ ou controle de atmosfera. 2. Campos de aplicação de acessórios in-situ de média e baixa temperatura (1) Pesquisa de materiais Utilizado para testes in situ de difratômetros de raios X (como o TD-3500) para estudar mudanças na estrutura cristalina e processos de transição de fase em baixas temperaturas. Apoia pesquisas sobre catálise heterogênea, interações gás-sólido, reações fotoquímicas, etc. (2) Pesquisa Eletroquímica e de Baterias Ele pode ser estendido para acessórios de bateria in-situ para testar compósitos em sistemas eletroquímicos (como carbono, oxigênio, nitrogênio, enxofre, etc.), com resistência à temperatura de até 400 ℃. (3) Aplicações Industriais Os produtos da Dandong Tongda Technology (série TD) foram aplicados nas áreas de química, engenharia química, geologia, metalurgia, etc., e exportados para países como Estados Unidos e Azerbaijão. 3. Produtos e marcas típicas de acessórios para médias e baixas temperaturas in situ Tecnologia Dandong Tongda (Série TD) Os acessórios para difratômetros de raios X, como o TD-3500 e o TD-3700, enfatizam o controle de temperatura de alta precisão (± 0,5 ℃) e a refrigeração eficiente com nitrogênio líquido. Adequados para medição de espectroscopia de refletância difusa, possuem câmara de reação de aço inoxidável, configuração multijanela (compatível com FTIR ou UV-Vis) e suportam alto vácuo até 133 kPa. De modo geral, acessórios in situ para médias e baixas temperaturas tornaram-se uma ferramenta importante para a análise de materiais in situ, por meio do controle preciso da temperatura, ambiente de vácuo e projeto de janelas adaptado a diferentes instrumentos. Eles desempenham um papel insubstituível no estudo de estruturas cristalinas de baixa temperatura e na exploração de mecanismos de reações catalíticas.

Compreender as mudanças na estrutura cristalina de amostras durante o aquecimento em alta temperatura e as mudanças na dissolução mútua de várias substâncias durante o aquecimento em alta temperatura. A fixação in situ em alta temperatura é um dispositivo experimental utilizado para a caracterização in situ de materiais sob condições de alta temperatura, principalmente para estudar processos dinâmicos, como mudanças na estrutura cristalina, transições de fase e reações químicas de materiais durante o aquecimento em alta temperatura. A seguir, uma introdução detalhada sobre os aspectos de parâmetros técnicos, cenários de aplicação e precauções: Parâmetros técnicos de fixações de alta temperatura in-situ 1. Faixa de temperatura de acessórios de alta temperatura in-situ Ambiente de gás inerte/vácuo: A temperatura máxima pode atingir 1600 ℃. Ambiente padrão: temperatura ambiente de até 1200 ℃ (conforme fornecido no acessório TD-3500 XRD). 2. Precisão do controle de temperatura de acessórios de alta temperatura in-situ: geralmente ± 0,5 ℃ (como acessórios de alta temperatura in-situ), e a precisão de alguns equipamentos acima de 1000 ℃ é de ± 0,5 ℃. 3. Materiais de janela e métodos de resfriamento para fixações de alta temperatura in-situ Material da janela: Filme de poliéster (resistente à temperatura de 400 ℃) ou folha de berílio (espessura de 0,1 mm), usado para penetração de raios X. Método de resfriamento: O resfriamento por circulação de água deionizada garante a operação estável do equipamento sob condições de alta temperatura. 4. Controle de atmosfera e pressão de acessórios de alta temperatura in situ: Suporta gases inertes (como Ar, N₂), vácuo ou ambientes atmosféricos, e alguns modelos podem suportar pressões menores que 10 bar. A vazão de gás atmosférico pode ser ajustada (0,7-2,5 L/min), adequada para ambientes de gases corrosivos. Cenários de aplicação de acessórios de alta temperatura in-situ 1. Pesquisa de materiais sobre fixações de alta temperatura in-situ Analisar as mudanças na estrutura cristalina (como a transição de fase da platina) e os processos de transição de fase (como fusão e sublimação) em altas temperaturas. Estudar as reações químicas de materiais em altas temperaturas, como dissolução e oxidação. 2. Adaptabilidade do equipamento de acessórios de alta temperatura in-situ Usado principalmente em difratômetros de raios X (XRD), como TD-3500, TD-3700, etc. Também pode ser usado para testes de tração in situ usando microscopia eletrônica de varredura (MEV), com conexões de flange personalizadas necessárias. 3. Precauções para o uso de acessórios de alta temperatura no local 1. Requisitos de amostra para fixações de alta temperatura in situ É necessário testar previamente a estabilidade química da amostra na faixa de temperatura alvo para evitar a decomposição em ácidos/bases fortes ou a formação de ligações cerâmicas. O formato da amostra deve atender aos requisitos do acessório (como espessura de 0,5 a 4,5 mm e diâmetro de 20 mm). 2. Procedimentos operacionais experimentais para fixações de alta temperatura in situ A taxa de aquecimento precisa ser controlada (por exemplo, máximo de 200 ℃/min a 100 ℃) para evitar superaquecimento e danos ao equipamento. Após o experimento, a amostra precisa ser resfriada à temperatura ambiente para evitar danos estruturais.

O estágio de amostra multifuncional é um equipamento experimental altamente integrado usado principalmente nas áreas de ciência de materiais, fabricação de semicondutores, análise de microscopia eletrônica, etc. Suas principais características são design modular, integração multifuncional e controle de alta precisão. Primeiro, as principais funções e características estruturais do estágio de amostra multifuncional 1. Design modular do estágio de amostra multifuncional: Várias funções são alcançadas por meio de diferentes combinações de módulos, como módulo de acoplamento de autorrotação (velocidade de 0 a 20 revoluções por minuto, com limite de zero), módulo de elevação (curso padrão de 50 mm/100 mm, personalizável), módulo de aquecimento (temperatura máxima de até 1100 ℃), etc. Suporte à conexão de alimentação CC/RF para atender às necessidades de crescimento de filme fino, limpeza de amostras ou formação de filme auxiliar. 2. Controle de alta precisão e sensores para estágio de amostra multifuncional: Equipado com sensores de temperatura, pressão e outros, monitoramento em tempo real dos parâmetros ambientais da amostra e ajuste de aquecimento, resfriamento e outras operações por meio do sistema de controle. Alguns modelos integram módulos defletores pneumáticos para facilitar a operação. 3. Compatibilidade e adaptabilidade do estágio de amostra multifuncional: Adequado para testar amostras irregulares, como pós residuais, materiais em folhas e amostras de grande porte, evitando danos causados ​​por cortes ou triturações tradicionais. Suporta tamanhos de amostra abaixo de 6 polegadas e interfaces de flange personalizáveis. Campos de aplicação do suporte de amostra multifuncional 1. Tecnologia de filme fino para estágio de amostra multifuncional: usada para tecnologias avançadas de crescimento de filme fino, como MBE (epitaxia de feixe molecular), PLD (deposição de laser pulsado), pulverização catódica por magnetron, bem como recozimento de substrato, desgaseificação de alta temperatura e outros processos. 2. Análise por microscopia eletrônica do estágio de amostra multifuncional: Microscópio eletrônico de varredura de campo frio: fixe a amostra com parafusos longos e ajuste a condutividade com arruelas de latão compatíveis. Sistema TEM/FIB: integra delaminação in situ, testes de nanosonda e análise TEM para evitar contaminação ou danos causados ​​pela transferência de amostra. 3. Análise de falhas do estágio de amostra multifuncional: integração de processos de remoção de sítio atômico, testes elétricos e análise em sistemas FIB e TEM para melhorar a taxa de sucesso e a eficiência. 3. Vantagens técnicas do estágio de amostra multifuncional 1. Integração e automação do estágio de amostra multifuncional: reduz a complexidade da operação manual por meio do design modular, suporta movimento geral e posicionamento preciso em ambiente de vácuo. 2. Alta confiabilidade do estágio de amostra multifuncional: usando interfaces de flange padrão (como CF50/CF40) para garantir vedação e compatibilidade. 3. Personalização da mesa de amostra multifuncional: o material de aquecimento, o comprimento do curso e o tipo de suporte de amostra (como tipo baioneta de 3 garras, tipo garfo inferior) podem ser selecionados de acordo com as necessidades. De modo geral, o estágio de amostra multifuncional é um equipamento essencial para pesquisa de materiais e microanálise, comumente utilizado em instrumentos de difração de raios X. Seu valor reside na integração funcional, flexibilidade operacional e adaptabilidade a requisitos experimentais complexos. A seleção específica precisa corresponder aos módulos e parâmetros de desempenho correspondentes, de acordo com os cenários reais de aplicação (como tecnologia de filmes finos, análise por microscopia eletrônica ou análise de falhas).

Primeiro, principais funções e cenários de aplicação de acessórios originais de bateria Posicionamento funcional dos acessórios originais da bateria: 1. Implemente testes em tempo real durante os processos de carga e descarga da bateria (como XRD, observação óptica, etc.) para evitar perda de dados ou contaminação de amostras causada pela desmontagem tradicional. 2. Simule o ambiente de trabalho de baterias reais, suporte ao controle de temperatura, adição de eletrólito e garantia de vedação. Cenários típicos de aplicação de acessórios originais de bateria: 1. Teste in-situ de XRD: analise as mudanças de fase do cristal de materiais de eletrodo (como LiFePO4) durante os processos de carga e descarga. 2. Observação óptica in situ: Observe a reação da superfície do eletrodo através de uma janela de berílio (filme de poliéster). 3. Triagem de alto rendimento: oferece suporte à pesquisa de desempenho da bateria em diversas condições (temperatura, pressão, eletrólito). 4. Amplamente utilizado em sistemas eletroquímicos contendo carbono, oxigênio, nitrogênio, enxofre, complexos metálicos incorporados, etc.    Composição estrutural e propriedades dos materiais dos acessórios originais da bateria 1. Componentes principais dos acessórios originais da bateria: Tampa de isolamento inferior: feita principalmente de cerâmica de alumina ou material de politetrafluoretileno, incluindo câmara de instalação e canal de fluxo de refrigerante, suportando o controle de temperatura. Tampa condutora superior: projetada com furos passantes, aparafusados ​​à tampa isolante inferior para formar um caminho de corrente. Eletrodo inferior: incluindo placa superior e coluna de suporte, fixados por compressão de mola borboleta, simplificando o processo de montagem. Janela de berílio (filme de poliéster): diâmetro 15 mm (personalizável), espessura 0,1 mm (personalizável), usada para penetração de raios X ou observação óptica. 2. Melhoria técnica dos acessórios originais da bateria: Montagem formal: substitui métodos invertidos tradicionais, simplifica o processo de operação e reduz o impacto da compressão nos materiais do separador e do eletrodo positivo. Resfriamento e aquecimento: a tampa de isolamento inferior integra um canal de refrigeração ou tubulação de fio de resistência, suportando controle de temperatura de -400℃. Design de vedação: A mola borboleta comprime e fixa o eletrodo inferior e coopera com o fluxo de ar do assento de instalação para soprar e evitar a formação de gelo e geada. Próxima、Vantagens técnicas dos acessórios de bateria originais 1. Operação conveniente de acessórios de bateria originais: A estrutura formal reduz o tempo de operação dentro do porta-luvas e diminui a complexidade da montagem. O design modular dos componentes (como janelas de berílio substituíveis e mangas de isolamento) melhora a eficiência da manutenção. 2. Parâmetros de desempenho: Faixa de teste: Faixa de temperatura de 0,5-160 ℃, resistência à temperatura de até 400 ℃. Vedação: Suporta armazenamento estável de eletrólito a longo prazo para evitar vazamentos. Compatibilidade: Adequado para difratômetros de raios X e outros equipamentos.

1、 Principais funções e aplicações dos acessórios de fibra: Acessórios de fibra do difratômetro de raios X: usando o método de difração de raios X (transmissão), a orientação e a estrutura cristalina da amostra são testadas analisando a cristalinidade, a largura de meio pico e outros dados da fibra. Acessórios de fibra para espectrômetro infravermelho de transformada de Fourier: incluindo microscópio, reflectância difusa, reflectância total atenuada (ATR) e outros acessórios, usados ​​para identificação de composição de fibra, determinação de taxa de mistura, análise de fibra única, etc. Por exemplo, o microinfravermelho pode identificar fibras únicas de dois componentes, e os acessórios ATR são adequados para análise de estrutura de superfície sem a necessidade de preparação de amostra. 2. Tipos e características comuns de acessórios de fibra: Acessórios específicos para difratômetros de raios X: como acessórios para difração de pequeno ângulo, acessórios para filme fino de luz paralela, acessórios para alta/média baixa temperatura in situ, etc., adequados para diferentes requisitos de teste. Alguns instrumentos suportam funções como trocadores automáticos de amostras e mesas de amostra rotativas para melhorar a eficiência do teste. Acessórios para espectrômetro infravermelho: incluindo ferramentas de amostragem de transmissão (como dispositivo de compressão de brometo de potássio), acessórios microinfravermelhos (para análise de fibra única), andaimes de reflexão difusa (adequados para fibras opacas) e acessórios ATR (para testes rápidos não destrutivos), etc. 3、 Cenários típicos de aplicação de acessórios de fibra: Pesquisa de materiais: Analisar a estrutura cristalina e a orientação molecular de fibras naturais (algodão, linho, etc.) e fibras químicas (poliéster, acrílico, etc.). Inspeção de qualidade industrial: usada para determinar a proporção de mistura de têxteis e otimizar a tecnologia de processamento de fibras (como monitoramento de orientação de tração). Área de pesquisa: Estudo do dicroísmo de polímeros, orientação de estiramento de microáreas de fibras, etc. Em resumo, os acessórios de fibra são ferramentas indispensáveis ​​na análise de materiais e nos testes de fibras, e seu desenvolvimento depende de avanços na tecnologia de instrumentos (como XRD e FTIR) e da inovação no design de acessórios. A seleção específica depende dos requisitos de teste (como estrutura cristalina, identificação da composição) e do modelo do instrumento.

O acessório de medição integrado multifuncional é usado para analisar filmes em placas, blocos e substratos, e pode realizar testes como detecção de fase cristalina, orientação, textura, estresse e estrutura no plano de filmes finos. Características funcionais dos acessórios de medição integrados multifuncionais: Realizar testes de diagrama polar utilizando métodos de transmissão ou reflexão; O teste de estresse pode ser conduzido usando o método de inclinação paralela ou o mesmo método de inclinação; Teste de filme fino (rotação de amostras no plano) Áreas de aplicação de acessórios de medição integrados multifuncionais: Avaliação de estruturas metálicas de montagem, como chapas laminadas; Avaliação da orientação da cerâmica; Avaliação da orientação de prioridade de cristais em amostras de filmes finos; Ensaios de tensão residual de vários materiais metálicos e cerâmicos (avaliação da resistência ao desgaste, resistência ao corte, etc.); Teste de estresse residual de filmes multicamadas (avaliação de descascamento de filme, etc.); Análise de oxidação superficial e filmes de nitreto em materiais supercondutores de alta temperatura, como filmes finos e placas metálicas; Vidro Si、 Análise de filmes multicamadas em substratos metálicos (filmes finos magnéticos, filmes de endurecimento de superfície metálica, etc.); Análise de materiais de galvanoplastia, como materiais macromoleculares, papel e lentes. Especificações técnicas para acessórios de medição integrados multifuncionais: Eixo alfa (inclinação) distância mínima do passo: 0,001 °/passo, faixa dinâmica: - 45°-90° Passo mínimo do eixo β (rotação): 0,001 °/passo, faixa dinâmica: 0 ° -360 ° Distância mínima do passo no eixo z: 0,001 °/passo, faixa dinâmica: 0-10 mm Tamanho da amostra: diâmetro máximo de 100 mm, espessura ajustável

O espectrômetro de estrutura fina de absorção de raios X (XAFS) é uma ferramenta poderosa para estudar a estrutura atômica ou eletrônica local de materiais, amplamente utilizada em campos populares como catálise, energia e nanotecnologia. O princípio básico do espectrômetro de estrutura fina de absorção de raios X (XAFS) é que, quando a energia dos raios X ressoa com a energia de uma camada eletrônica interna de um elemento na amostra, um aumento repentino de elétrons é excitado para formar um espectro contínuo, que é chamado de borda de absorção. Próximo à borda de absorção, conforme a energia dos raios X aumenta, a taxa de absorção diminui monotonicamente conforme a profundidade de penetração dos raios X aumenta. Quando o espectro é estendido além de uma borda específica, estruturas finas podem ser observadas, onde regiões de estruturas de absorção de raios X próximas à borda (XANES) aparecem assim que picos e ombros com uma largura superior a 20 a 30 elétron-volts passam pelo ponto inicial da borda. A estrutura fina localizada no lado de alta energia da borda, onde a energia decai para várias centenas de elétron-volts, é chamada de Estrutura Fina de Absorção de Raios X (XAFS). As principais características do espectrômetro de estrutura fina de absorção de raios X (XAFS) são: Sensibilidade à ordenação de curto alcance: Depende da ordenação de curto alcance e não depende da ordenação de longo alcance, possibilitando a medição de uma ampla gama de amostras. Pode ser usada para materiais amorfos, líquidos, fundidos, centros ativos de catalisadores, proteínas metálicas, etc., bem como para estudos estruturais de átomos de impurezas em cristais. Características elementares fortes: A borda de absorção de raios X tem características elementares e, para átomos de diferentes elementos na amostra, a estrutura atômica vizinha de diferentes elementos no mesmo composto pode ser estudada ajustando a energia incidente dos raios X. Alta sensibilidade: o método de fluorescência pode ser usado para medir amostras de elementos com concentrações tão baixas quanto um milionésimo. Aquisição abrangente de informações estruturais: capaz de fornecer parâmetros que determinam a estrutura local, como a distância entre átomos absorventes e átomos vizinhos, o número e o tipo desses átomos e o estado de oxidação dos elementos absorventes. A preparação da amostra é simples: não é necessário um único cristal e, nas condições experimentais, o tempo de coleta de dados é relativamente curto. Usar uma fonte de raios X síncrotron geralmente leva apenas alguns minutos para medir uma linha espectral. As principais vantagens do espectrômetro de estrutura fina de absorção de raios X (XAFS) são: Vantagem principal: produto com maior fluxo luminoso Fluxo de fótons superior a 1.000.000 de fótons/segundo/eV, com eficiência espectral várias vezes superior à de outros produtos; Obtenção de qualidade de dados equivalente à radiação síncrotron Excelente estabilidade: A estabilidade da intensidade da luz monocromática da fonte de luz é melhor que 0,1% e a deriva de energia durante a coleta repetida é inferior a 50 meV Limite de detecção de 1%: Alto fluxo luminoso, excelente otimização do caminho óptico e excelente estabilidade da fonte de luz garantem que dados EXAFS de alta qualidade ainda possam ser obtidos quando o conteúdo do elemento medido for >1%. 4. Áreas de aplicação do espectrômetro de estrutura fina de absorção de raios X (XAFS): Campo de energia: como pesquisa sobre baterias de lítio e outros materiais de baterias secundárias, pesquisa sobre células de combustível, pesquisa sobre materiais de armazenamento de hidrogênio, etc. O XAFS pode ser usado para obter a concentração, o estado de valência, o ambiente de coordenação e as mudanças dinâmicas dos átomos do núcleo durante os ciclos de carga e descarga e reações eletroquímicas. Campo de catálise: usado para pesquisas sobre catálise de nanopartículas, catálise de átomo único, etc. Obtenha a morfologia do catalisador no suporte, a forma de interação com o suporte e suas alterações durante o processo catalítico por meio de XAFS, bem como as estruturas vizinhas de íons metálicos com conteúdo extremamente baixo. No campo da ciência dos materiais, o espectrômetro de estrutura fina de absorção de raios X (XAFS) é usado para a caracterização de vários materiais, o estudo de sistemas complexos e materiais estruturais desordenados, a pesquisa de isótopos radioativos, o estudo de propriedades relacionadas de materiais de superfície e interface, e o estudo de mudanças dinâmicas em materiais. No campo da geologia, o espectrômetro de estrutura fina de absorção de raios X (XAFS) pode ser usado para análise do estado de valência de elementos de materiais de minério em pesquisas geológicas. Campo ambiental: XES pode ser usado para análise de estado de valência de elementos Cr/As, etc. No campo da radioquímica, o espectrômetro de estrutura fina de absorção de raios X (XAFS) pode ser usado para análise do estado de valência de elementos Ce, U, etc. O espectrômetro de estrutura fina de absorção de raios X (XAFS) desempenha um papel importante na pesquisa científica moderna devido ao seu princípio de funcionamento único, características significativas e amplos campos de aplicação. Ele fornece um meio poderoso para que as pessoas obtenham uma compreensão mais profunda da microestrutura e do estado químico da matéria, promovendo o desenvolvimento e o progresso de múltiplos campos disciplinares.

O objetivo principal da máquina de teste de soldagem por raios X portátil NDT é inspecionar a qualidade do processamento e da soldagem de materiais e componentes, como cascos de navios, oleodutos, vasos de alta pressão, caldeiras, aeronaves, veículos e pontes em setores industriais como defesa nacional, construção naval, petróleo, químico, mecânico, aeroespacial e construção, bem como defeitos internos e a qualidade inerente de vários metais leves, borracha, cerâmica, etc. Princípio e aplicação da máquina portátil de teste de soldagem por raios X NDT: A máquina portátil para teste de soldagem por raios X (END) utiliza as propriedades acústicas, ópticas, magnéticas e elétricas dos materiais para detectar a presença de defeitos ou irregularidades no objeto testado sem danificar ou afetar seu desempenho. Ela fornece informações como tamanho, localização, natureza e quantidade do defeito. Comparado ao teste destrutivo, ele possui as seguintes características. A primeira é não destrutiva, pois não compromete o desempenho do objeto detectado durante o teste; a segunda é abrangente, pois a detecção é não destrutiva, sendo necessário realizar uma detecção 100% abrangente do objeto testado, o que não pode ser alcançado pela detecção destrutiva; a terceira é abrangente, e o teste destrutivo geralmente é aplicável apenas ao teste de matérias-primas, como tração, compressão, flexão, etc., comumente usados ​​em engenharia mecânica. O teste destrutivo é realizado em matérias-primas de fabricação e, para produtos acabados e itens em uso, o teste destrutivo não pode ser realizado a menos que não se pretenda continuar a servir. Por outro lado, não prejudica o desempenho do objeto testado. Portanto, ele não só pode executar testes de processo completos em matérias-primas de fabricação, processos intermediários e até mesmo produtos finais, mas também testar equipamentos em serviço. Características da máquina portátil para teste de soldagem por raios X NDT: O gerador de raios X tem um volume pequeno, com ânodo aterrado e resfriamento forçado por um ventilador; ◆ Leve, fácil de transportar e simples de operar; Trabalhar e descansar na proporção de 1:1; Bela aparência e estrutura razoável; ◆ Exposição retardada para garantir a segurança do operador; Faixa de inspeção visual da máquina portátil de teste de soldagem por raios X NDT 1. Inspeção de defeitos superficiais em soldas. Verifique a qualidade da soldagem, como rachaduras superficiais, penetração incompleta e vazamentos na costura de solda. 2. Verificação do estado. Verifique se há rachaduras na superfície, descascamento, puxões, arranhões, amassados, saliências, manchas, corrosão e outros defeitos. 3. Inspeção da cavidade interna. Quando determinados produtos (como bombas de engrenagem helicoidal, motores, etc.) estiverem em funcionamento, realize testes endoscópicos de acordo com os requisitos técnicos especificados. 4. Inspeção da montagem. Quando houver requisitos e necessidades, utilize o mesmo videoendoscópio industrial 3D para inspecionar a qualidade da montagem. Após a conclusão da montagem ou de um determinado processo, verifique cada componente. Se a posição de montagem dos componentes atende aos requisitos dos desenhos ou especificações técnicas; Se há algum defeito de montagem. 5. Inspeção de itens excedentes. Verifique se há resíduos, objetos estranhos e outros detritos dentro da cavidade do produto.

O irradiador de raios X WBK-01 gera raios X de alta energia para irradiar células ou pequenos animais. O irradiador de raios X é utilizado em diversas pesquisas básicas e aplicadas. Ao longo da história, irradiadores de isótopos radioativos têm sido utilizados, exigindo o transporte de amostras para uma instalação central de irradiação. Hoje, irradiadores de raios X menores, mais seguros, mais simples e de menor custo podem ser instalados em laboratórios para irradiação rápida e conveniente de células. Diversas amostras podem ser irradiadas diretamente no laboratório sem afetar a fertilidade ou a segurança. O irradiador de raios X é fácil de usar para profissionais sem treinamento profissional em raios X, e não há pedidos de licença caros ou custos de segurança ou manutenção da fonte de radiação. Este dispositivo é fácil de operar, seguro, confiável e econômico, podendo substituir fontes de isótopos radioativos. 1. Princípio do irradiador de raios X: O tubo de raios X no irradiador de raios X gera elétrons de alta energia, que produzem raios X ao colidir com o material alvo (geralmente tungstênio). Os elétrons são acelerados através de um campo elétrico de alta voltagem para obter energia suficiente para gerar o comprimento de onda e a intensidade de raios X necessários. Em seguida, os raios X são ajustados e otimizados por meio de uma série de colimadores, filtros e outros dispositivos e, finalmente, irradiados na amostra. Os principais componentes de um irradiador de raios X são: O irradiador de raios X inclui principalmente tubos de raios X, geradores de alta tensão, circuitos de controle, sistemas de resfriamento, dispositivos de proteção de segurança e salas de amostra. Entre eles, o tubo de raios X é o componente principal responsável pela geração de raios X; o gerador de alta tensão fornece a alta tensão e corrente necessárias para o tubo de raios X; o circuito de controle é usado para controlar parâmetros como a geração, a intensidade e o tempo de irradiação dos raios X; o sistema de resfriamento garante que o equipamento não seja danificado devido ao superaquecimento durante a operação; o dispositivo de proteção de segurança garante a segurança dos operadores e do ambiente de uso. 3. Áreas de aplicação do irradiador de raios X: O irradiador de raios X pode ser usado no campo da biologia: pode ser usado para cultura de células e pesquisa de inibição de divisão, indução de mudança genética, pesquisa com células-tronco, irradiação de pequenos animais, pesquisa com células de tuberculose, pesquisa com células sanguíneas, irradiação de transplante de medula óssea, imunidade de transplante, terapia imunossupressora, pesquisa de sensibilidade à radiação, pesquisa de danos ao DNA, etc. O irradiador de raios X pode ser usado na área médica: no tratamento de tumores, ele pode ser usado para irradiar localmente o local do tumor, matar células cancerígenas ou inibir seu crescimento; O irradiador de raios X também pode ser usado como um diagnóstico auxiliar para certas doenças, como ajudar a determinar a condição observando as alterações de imagem de tecidos e órgãos por meio de raios X. O irradiador de raios X pode ser usado na indústria alimentícia: ele pode ser usado para preservação de alimentos por irradiação, matando microrganismos em alimentos por meio da irradiação de raios X, inibindo a atividade enzimática, estendendo assim a vida útil dos alimentos, mantendo seu sabor original e conteúdo nutricional. O irradiador de raios X pode ser usado no campo industrial: pode ser usado para testes de desempenho e modificação de materiais, como tratamento de reticulação de materiais poliméricos para melhorar sua resistência e estabilidade; também pode ser usado para testes não destrutivos para detectar defeitos e rachaduras dentro dos materiais. Em resumo, o irradiador de raios X é um importante dispositivo científico e industrial com amplas perspectivas de aplicação e valor.

O orientador de cristais de raios X é um instrumento indispensável para usinagem de precisão e fabricação de dispositivos de cristal. O orientador de cristais de raios X utiliza o princípio da difração de raios X para determinar com precisão e rapidez o ângulo de corte de monocristais naturais e artificiais (cristais piezoelétricos, cristais ópticos, cristais de laser, cristais semicondutores) e está equipado com uma máquina de corte para corte direcional dos cristais mencionados. O orientador de cristais de raios X é amplamente utilizado nas indústrias de pesquisa, processamento e fabricação de materiais cristalinos. 1. Princípio do orientador de cristal de raios X: O orientador de cristais de raios X utiliza o princípio da difração de raios X para determinar com precisão e rapidez o ângulo de corte de monocristais naturais e artificiais (cristais piezoelétricos, cristais ópticos, cristais de laser e cristais semicondutores). Equipado com uma máquina de corte, o orientador de cristais de raios X pode ser usado para corte direcional dos cristais mencionados acima, sendo um instrumento indispensável para usinagem de precisão e fabricação de dispositivos de cristal. O instrumento de orientação de cristais de raios X possui uma precisão de medição de ± 30 polegadas, com modo de exibição digital e uma leitura menor de 10 polegadas. Pode medir amostras com diâmetros de 1 a 30 kg e 2 a 8 polegadas. Exibição de ângulo: modo digital, precisão de medição de ± 30 polegadas. 2. Características do orientador de cristal de raios X: Fácil de operar, sem necessidade de conhecimento profissional ou habilidades avançadas. O ângulo do visor digital é fácil de observar e reduz erros de leitura. O monitor pode ser zerado em qualquer posição para facilitar a exibição dos valores de desvio do ângulo do chip. O instrumento de medição de ângulo duplo pode trabalhar simultaneamente, aumentando a eficiência. O orientador de cristal de raios X possui um integrador especial com amplificação de pico, o que melhora a precisão da detecção. A integração do tubo de raios X e do cabo de alta tensão aumenta a confiabilidade da alta tensão. O detector de alta tensão adota um módulo de alta tensão CC e uma placa de amostra de sucção a vácuo, o que melhora a precisão e a velocidade da medição do ângulo. Os principais componentes de um orientador de cristal de raios X são: Tubo de radiação: Normalmente, um alvo de cobre é usado como ânodo e aterrado, enquanto o resfriamento por ar forçado é empregado para resfriamento. Fonte de alimentação de alta tensão: fornece alta tensão e corrente estáveis ​​para tubos de raios X e é um dos principais componentes de todo o sistema. Detector: usado para receber fótons de raios X difratados e convertê-los em sinais elétricos para processamento e análise subsequentes. Goniômetro: usado para medir com precisão o ângulo de rotação de amostras de cristal, determinando assim as informações de orientação do plano de difração. Sistema de processamento de dados: processa, analisa e armazena os sinais emitidos pelo detector para obter informações sobre a estrutura cristalina. 4. Áreas de aplicação do orientador de cristal de raios X: Ciência dos Materiais: Usada para estudar as estruturas cristalinas de vários materiais, incluindo metais, cerâmicas, semicondutores, etc. Geologia: usada para identificar tipos de minerais, analisar estruturas rochosas, etc. Química: usada para estudar a estrutura e as mudanças dos cristais moleculares. Física: usada para explorar a microestrutura e as propriedades físicas da matéria. Em resumo, com o progresso contínuo e a inovação da ciência e da tecnologia, acredita-se que haverá mais novos materiais e tecnologias aplicados em vários campos no futuro, promovendo o desenvolvimento contínuo da sociedade humana.