Primeiro, principais funções e cenários de aplicação de acessórios originais de bateria Posicionamento funcional dos acessórios originais da bateria: 1. Implemente testes em tempo real durante os processos de carga e descarga da bateria (como XRD, observação óptica, etc.) para evitar perda de dados ou contaminação de amostras causada pela desmontagem tradicional. 2. Simule o ambiente de trabalho de baterias reais, suporte ao controle de temperatura, adição de eletrólito e garantia de vedação. Cenários típicos de aplicação de acessórios originais de bateria: 1. Teste in-situ de XRD: analise as mudanças de fase do cristal de materiais de eletrodo (como LiFePO4) durante os processos de carga e descarga. 2. Observação óptica in situ: Observe a reação da superfície do eletrodo através de uma janela de berílio (filme de poliéster). 3. Triagem de alto rendimento: oferece suporte à pesquisa de desempenho da bateria em diversas condições (temperatura, pressão, eletrólito). 4. Amplamente utilizado em sistemas eletroquímicos contendo carbono, oxigênio, nitrogênio, enxofre, complexos metálicos incorporados, etc.    Composição estrutural e propriedades dos materiais dos acessórios originais da bateria 1. Componentes principais dos acessórios originais da bateria: Tampa de isolamento inferior: feita principalmente de cerâmica de alumina ou material de politetrafluoretileno, incluindo câmara de instalação e canal de fluxo de refrigerante, suportando o controle de temperatura. Tampa condutora superior: projetada com furos passantes, aparafusados ​​à tampa isolante inferior para formar um caminho de corrente. Eletrodo inferior: incluindo placa superior e coluna de suporte, fixados por compressão de mola borboleta, simplificando o processo de montagem. Janela de berílio (filme de poliéster): diâmetro 15 mm (personalizável), espessura 0,1 mm (personalizável), usada para penetração de raios X ou observação óptica. 2. Melhoria técnica dos acessórios originais da bateria: Montagem formal: substitui métodos invertidos tradicionais, simplifica o processo de operação e reduz o impacto da compressão nos materiais do separador e do eletrodo positivo. Resfriamento e aquecimento: a tampa de isolamento inferior integra um canal de refrigeração ou tubulação de fio de resistência, suportando controle de temperatura de -400℃. Design de vedação: A mola borboleta comprime e fixa o eletrodo inferior e coopera com o fluxo de ar do assento de instalação para soprar e evitar a formação de gelo e geada. Próxima、Vantagens técnicas dos acessórios de bateria originais 1. Operação conveniente de acessórios de bateria originais: A estrutura formal reduz o tempo de operação dentro do porta-luvas e diminui a complexidade da montagem. O design modular dos componentes (como janelas de berílio substituíveis e mangas de isolamento) melhora a eficiência da manutenção. 2. Parâmetros de desempenho: Faixa de teste: Faixa de temperatura de 0,5-160 ℃, resistência à temperatura de até 400 ℃. Vedação: Suporta armazenamento estável de eletrólito a longo prazo para evitar vazamentos. Compatibilidade: Adequado para difratômetros de raios X e outros equipamentos.

1、 Principais funções e aplicações dos acessórios de fibra: Acessórios de fibra do difratômetro de raios X: usando o método de difração de raios X (transmissão), a orientação e a estrutura cristalina da amostra são testadas analisando a cristalinidade, a largura de meio pico e outros dados da fibra. Acessórios de fibra para espectrômetro infravermelho de transformada de Fourier: incluindo microscópio, reflectância difusa, reflectância total atenuada (ATR) e outros acessórios, usados ​​para identificação de composição de fibra, determinação de taxa de mistura, análise de fibra única, etc. Por exemplo, o microinfravermelho pode identificar fibras únicas de dois componentes, e os acessórios ATR são adequados para análise de estrutura de superfície sem a necessidade de preparação de amostra. 2. Tipos e características comuns de acessórios de fibra: Acessórios específicos para difratômetros de raios X: como acessórios para difração de pequeno ângulo, acessórios para filme fino de luz paralela, acessórios para alta/média baixa temperatura in situ, etc., adequados para diferentes requisitos de teste. Alguns instrumentos suportam funções como trocadores automáticos de amostras e mesas de amostra rotativas para melhorar a eficiência do teste. Acessórios para espectrômetro infravermelho: incluindo ferramentas de amostragem de transmissão (como dispositivo de compressão de brometo de potássio), acessórios microinfravermelhos (para análise de fibra única), andaimes de reflexão difusa (adequados para fibras opacas) e acessórios ATR (para testes rápidos não destrutivos), etc. 3、 Cenários típicos de aplicação de acessórios de fibra: Pesquisa de materiais: Analisar a estrutura cristalina e a orientação molecular de fibras naturais (algodão, linho, etc.) e fibras químicas (poliéster, acrílico, etc.). Inspeção de qualidade industrial: usada para determinar a proporção de mistura de têxteis e otimizar a tecnologia de processamento de fibras (como monitoramento de orientação de tração). Área de pesquisa: Estudo do dicroísmo de polímeros, orientação de estiramento de microáreas de fibras, etc. Em resumo, os acessórios de fibra são ferramentas indispensáveis ​​na análise de materiais e nos testes de fibras, e seu desenvolvimento depende de avanços na tecnologia de instrumentos (como XRD e FTIR) e da inovação no design de acessórios. A seleção específica depende dos requisitos de teste (como estrutura cristalina, identificação da composição) e do modelo do instrumento.

O acessório de medição integrado multifuncional é usado para analisar filmes em placas, blocos e substratos, e pode realizar testes como detecção de fase cristalina, orientação, textura, estresse e estrutura no plano de filmes finos. Características funcionais dos acessórios de medição integrados multifuncionais: Realizar testes de diagrama polar utilizando métodos de transmissão ou reflexão; O teste de estresse pode ser conduzido usando o método de inclinação paralela ou o mesmo método de inclinação; Teste de filme fino (rotação de amostras no plano) Áreas de aplicação de acessórios de medição integrados multifuncionais: Avaliação de estruturas metálicas de montagem, como chapas laminadas; Avaliação da orientação da cerâmica; Avaliação da orientação de prioridade de cristais em amostras de filmes finos; Ensaios de tensão residual de vários materiais metálicos e cerâmicos (avaliação da resistência ao desgaste, resistência ao corte, etc.); Teste de estresse residual de filmes multicamadas (avaliação de descascamento de filme, etc.); Análise de oxidação superficial e filmes de nitreto em materiais supercondutores de alta temperatura, como filmes finos e placas metálicas; Vidro Si、 Análise de filmes multicamadas em substratos metálicos (filmes finos magnéticos, filmes de endurecimento de superfície metálica, etc.); Análise de materiais de galvanoplastia, como materiais macromoleculares, papel e lentes. Especificações técnicas para acessórios de medição integrados multifuncionais: Eixo alfa (inclinação) distância mínima do passo: 0,001 °/passo, faixa dinâmica: - 45°-90° Passo mínimo do eixo β (rotação): 0,001 °/passo, faixa dinâmica: 0 ° -360 ° Distância mínima do passo no eixo z: 0,001 °/passo, faixa dinâmica: 0-10 mm Tamanho da amostra: diâmetro máximo de 100 mm, espessura ajustável

O espectrômetro de estrutura fina de absorção de raios X (XAFS) é uma ferramenta poderosa para estudar a estrutura atômica ou eletrônica local de materiais, amplamente utilizada em campos populares como catálise, energia e nanotecnologia. O princípio básico do espectrômetro de estrutura fina de absorção de raios X (XAFS) é que, quando a energia dos raios X ressoa com a energia de uma camada eletrônica interna de um elemento na amostra, um aumento repentino de elétrons é excitado para formar um espectro contínuo, que é chamado de borda de absorção. Próximo à borda de absorção, conforme a energia dos raios X aumenta, a taxa de absorção diminui monotonicamente conforme a profundidade de penetração dos raios X aumenta. Quando o espectro é estendido além de uma borda específica, estruturas finas podem ser observadas, onde regiões de estruturas de absorção de raios X próximas à borda (XANES) aparecem assim que picos e ombros com uma largura superior a 20 a 30 elétron-volts passam pelo ponto inicial da borda. A estrutura fina localizada no lado de alta energia da borda, onde a energia decai para várias centenas de elétron-volts, é chamada de Estrutura Fina de Absorção de Raios X (XAFS). As principais características do espectrômetro de estrutura fina de absorção de raios X (XAFS) são: Sensibilidade à ordenação de curto alcance: Depende da ordenação de curto alcance e não depende da ordenação de longo alcance, possibilitando a medição de uma ampla gama de amostras. Pode ser usada para materiais amorfos, líquidos, fundidos, centros ativos de catalisadores, proteínas metálicas, etc., bem como para estudos estruturais de átomos de impurezas em cristais. Características elementares fortes: A borda de absorção de raios X tem características elementares e, para átomos de diferentes elementos na amostra, a estrutura atômica vizinha de diferentes elementos no mesmo composto pode ser estudada ajustando a energia incidente dos raios X. Alta sensibilidade: o método de fluorescência pode ser usado para medir amostras de elementos com concentrações tão baixas quanto um milionésimo. Aquisição abrangente de informações estruturais: capaz de fornecer parâmetros que determinam a estrutura local, como a distância entre átomos absorventes e átomos vizinhos, o número e o tipo desses átomos e o estado de oxidação dos elementos absorventes. A preparação da amostra é simples: não é necessário um único cristal e, nas condições experimentais, o tempo de coleta de dados é relativamente curto. Usar uma fonte de raios X síncrotron geralmente leva apenas alguns minutos para medir uma linha espectral. As principais vantagens do espectrômetro de estrutura fina de absorção de raios X (XAFS) são: Vantagem principal: produto com maior fluxo luminoso Fluxo de fótons superior a 1.000.000 de fótons/segundo/eV, com eficiência espectral várias vezes superior à de outros produtos; Obtenção de qualidade de dados equivalente à radiação síncrotron Excelente estabilidade: A estabilidade da intensidade da luz monocromática da fonte de luz é melhor que 0,1% e a deriva de energia durante a coleta repetida é inferior a 50 meV Limite de detecção de 1%: Alto fluxo luminoso, excelente otimização do caminho óptico e excelente estabilidade da fonte de luz garantem que dados EXAFS de alta qualidade ainda possam ser obtidos quando o conteúdo do elemento medido for >1%. 4. Áreas de aplicação do espectrômetro de estrutura fina de absorção de raios X (XAFS): Campo de energia: como pesquisa sobre baterias de lítio e outros materiais de baterias secundárias, pesquisa sobre células de combustível, pesquisa sobre materiais de armazenamento de hidrogênio, etc. O XAFS pode ser usado para obter a concentração, o estado de valência, o ambiente de coordenação e as mudanças dinâmicas dos átomos do núcleo durante os ciclos de carga e descarga e reações eletroquímicas. Campo de catálise: usado para pesquisas sobre catálise de nanopartículas, catálise de átomo único, etc. Obtenha a morfologia do catalisador no suporte, a forma de interação com o suporte e suas alterações durante o processo catalítico por meio de XAFS, bem como as estruturas vizinhas de íons metálicos com conteúdo extremamente baixo. No campo da ciência dos materiais, o espectrômetro de estrutura fina de absorção de raios X (XAFS) é usado para a caracterização de vários materiais, o estudo de sistemas complexos e materiais estruturais desordenados, a pesquisa de isótopos radioativos, o estudo de propriedades relacionadas de materiais de superfície e interface, e o estudo de mudanças dinâmicas em materiais. No campo da geologia, o espectrômetro de estrutura fina de absorção de raios X (XAFS) pode ser usado para análise do estado de valência de elementos de materiais de minério em pesquisas geológicas. Campo ambiental: XES pode ser usado para análise de estado de valência de elementos Cr/As, etc. No campo da radioquímica, o espectrômetro de estrutura fina de absorção de raios X (XAFS) pode ser usado para análise do estado de valência de elementos Ce, U, etc. O espectrômetro de estrutura fina de absorção de raios X (XAFS) desempenha um papel importante na pesquisa científica moderna devido ao seu princípio de funcionamento único, características significativas e amplos campos de aplicação. Ele fornece um meio poderoso para que as pessoas obtenham uma compreensão mais profunda da microestrutura e do estado químico da matéria, promovendo o desenvolvimento e o progresso de múltiplos campos disciplinares.

O objetivo principal da máquina de teste de soldagem por raios X portátil NDT é inspecionar a qualidade do processamento e da soldagem de materiais e componentes, como cascos de navios, oleodutos, vasos de alta pressão, caldeiras, aeronaves, veículos e pontes em setores industriais como defesa nacional, construção naval, petróleo, químico, mecânico, aeroespacial e construção, bem como defeitos internos e a qualidade inerente de vários metais leves, borracha, cerâmica, etc. Princípio e aplicação da máquina portátil de teste de soldagem por raios X NDT: A máquina portátil para teste de soldagem por raios X (END) utiliza as propriedades acústicas, ópticas, magnéticas e elétricas dos materiais para detectar a presença de defeitos ou irregularidades no objeto testado sem danificar ou afetar seu desempenho. Ela fornece informações como tamanho, localização, natureza e quantidade do defeito. Comparado ao teste destrutivo, ele possui as seguintes características. A primeira é não destrutiva, pois não compromete o desempenho do objeto detectado durante o teste; a segunda é abrangente, pois a detecção é não destrutiva, sendo necessário realizar uma detecção 100% abrangente do objeto testado, o que não pode ser alcançado pela detecção destrutiva; a terceira é abrangente, e o teste destrutivo geralmente é aplicável apenas ao teste de matérias-primas, como tração, compressão, flexão, etc., comumente usados ​​em engenharia mecânica. O teste destrutivo é realizado em matérias-primas de fabricação e, para produtos acabados e itens em uso, o teste destrutivo não pode ser realizado a menos que não se pretenda continuar a servir. Por outro lado, não prejudica o desempenho do objeto testado. Portanto, ele não só pode executar testes de processo completos em matérias-primas de fabricação, processos intermediários e até mesmo produtos finais, mas também testar equipamentos em serviço. Características da máquina portátil para teste de soldagem por raios X NDT: O gerador de raios X tem um volume pequeno, com ânodo aterrado e resfriamento forçado por um ventilador; ◆ Leve, fácil de transportar e simples de operar; Trabalhar e descansar na proporção de 1:1; Bela aparência e estrutura razoável; ◆ Exposição retardada para garantir a segurança do operador; Faixa de inspeção visual da máquina portátil de teste de soldagem por raios X NDT 1. Inspeção de defeitos superficiais em soldas. Verifique a qualidade da soldagem, como rachaduras superficiais, penetração incompleta e vazamentos na costura de solda. 2. Verificação do estado. Verifique se há rachaduras na superfície, descascamento, puxões, arranhões, amassados, saliências, manchas, corrosão e outros defeitos. 3. Inspeção da cavidade interna. Quando determinados produtos (como bombas de engrenagem helicoidal, motores, etc.) estiverem em funcionamento, realize testes endoscópicos de acordo com os requisitos técnicos especificados. 4. Inspeção da montagem. Quando houver requisitos e necessidades, utilize o mesmo videoendoscópio industrial 3D para inspecionar a qualidade da montagem. Após a conclusão da montagem ou de um determinado processo, verifique cada componente. Se a posição de montagem dos componentes atende aos requisitos dos desenhos ou especificações técnicas; Se há algum defeito de montagem. 5. Inspeção de itens excedentes. Verifique se há resíduos, objetos estranhos e outros detritos dentro da cavidade do produto.

O irradiador de raios X WBK-01 gera raios X de alta energia para irradiar células ou pequenos animais. O irradiador de raios X é utilizado em diversas pesquisas básicas e aplicadas. Ao longo da história, irradiadores de isótopos radioativos têm sido utilizados, exigindo o transporte de amostras para uma instalação central de irradiação. Hoje, irradiadores de raios X menores, mais seguros, mais simples e de menor custo podem ser instalados em laboratórios para irradiação rápida e conveniente de células. Diversas amostras podem ser irradiadas diretamente no laboratório sem afetar a fertilidade ou a segurança. O irradiador de raios X é fácil de usar para profissionais sem treinamento profissional em raios X, e não há pedidos de licença caros ou custos de segurança ou manutenção da fonte de radiação. Este dispositivo é fácil de operar, seguro, confiável e econômico, podendo substituir fontes de isótopos radioativos. 1. Princípio do irradiador de raios X: O tubo de raios X no irradiador de raios X gera elétrons de alta energia, que produzem raios X ao colidir com o material alvo (geralmente tungstênio). Os elétrons são acelerados através de um campo elétrico de alta voltagem para obter energia suficiente para gerar o comprimento de onda e a intensidade de raios X necessários. Em seguida, os raios X são ajustados e otimizados por meio de uma série de colimadores, filtros e outros dispositivos e, finalmente, irradiados na amostra. Os principais componentes de um irradiador de raios X são: O irradiador de raios X inclui principalmente tubos de raios X, geradores de alta tensão, circuitos de controle, sistemas de resfriamento, dispositivos de proteção de segurança e salas de amostra. Entre eles, o tubo de raios X é o componente principal responsável pela geração de raios X; o gerador de alta tensão fornece a alta tensão e corrente necessárias para o tubo de raios X; o circuito de controle é usado para controlar parâmetros como a geração, a intensidade e o tempo de irradiação dos raios X; o sistema de resfriamento garante que o equipamento não seja danificado devido ao superaquecimento durante a operação; o dispositivo de proteção de segurança garante a segurança dos operadores e do ambiente de uso. 3. Áreas de aplicação do irradiador de raios X: O irradiador de raios X pode ser usado no campo da biologia: pode ser usado para cultura de células e pesquisa de inibição de divisão, indução de mudança genética, pesquisa com células-tronco, irradiação de pequenos animais, pesquisa com células de tuberculose, pesquisa com células sanguíneas, irradiação de transplante de medula óssea, imunidade de transplante, terapia imunossupressora, pesquisa de sensibilidade à radiação, pesquisa de danos ao DNA, etc. O irradiador de raios X pode ser usado na área médica: no tratamento de tumores, ele pode ser usado para irradiar localmente o local do tumor, matar células cancerígenas ou inibir seu crescimento; O irradiador de raios X também pode ser usado como um diagnóstico auxiliar para certas doenças, como ajudar a determinar a condição observando as alterações de imagem de tecidos e órgãos por meio de raios X. O irradiador de raios X pode ser usado na indústria alimentícia: ele pode ser usado para preservação de alimentos por irradiação, matando microrganismos em alimentos por meio da irradiação de raios X, inibindo a atividade enzimática, estendendo assim a vida útil dos alimentos, mantendo seu sabor original e conteúdo nutricional. O irradiador de raios X pode ser usado no campo industrial: pode ser usado para testes de desempenho e modificação de materiais, como tratamento de reticulação de materiais poliméricos para melhorar sua resistência e estabilidade; também pode ser usado para testes não destrutivos para detectar defeitos e rachaduras dentro dos materiais. Em resumo, o irradiador de raios X é um importante dispositivo científico e industrial com amplas perspectivas de aplicação e valor.

O orientador de cristais de raios X é um instrumento indispensável para usinagem de precisão e fabricação de dispositivos de cristal. O orientador de cristais de raios X utiliza o princípio da difração de raios X para determinar com precisão e rapidez o ângulo de corte de monocristais naturais e artificiais (cristais piezoelétricos, cristais ópticos, cristais de laser, cristais semicondutores) e está equipado com uma máquina de corte para corte direcional dos cristais mencionados. O orientador de cristais de raios X é amplamente utilizado nas indústrias de pesquisa, processamento e fabricação de materiais cristalinos. 1. Princípio do orientador de cristal de raios X: O orientador de cristais de raios X utiliza o princípio da difração de raios X para determinar com precisão e rapidez o ângulo de corte de monocristais naturais e artificiais (cristais piezoelétricos, cristais ópticos, cristais de laser e cristais semicondutores). Equipado com uma máquina de corte, o orientador de cristais de raios X pode ser usado para corte direcional dos cristais mencionados acima, sendo um instrumento indispensável para usinagem de precisão e fabricação de dispositivos de cristal. O instrumento de orientação de cristais de raios X possui uma precisão de medição de ± 30 polegadas, com modo de exibição digital e uma leitura menor de 10 polegadas. Pode medir amostras com diâmetros de 1 a 30 kg e 2 a 8 polegadas. Exibição de ângulo: modo digital, precisão de medição de ± 30 polegadas. 2. Características do orientador de cristal de raios X: Fácil de operar, sem necessidade de conhecimento profissional ou habilidades avançadas. O ângulo do visor digital é fácil de observar e reduz erros de leitura. O monitor pode ser zerado em qualquer posição para facilitar a exibição dos valores de desvio do ângulo do chip. O instrumento de medição de ângulo duplo pode trabalhar simultaneamente, aumentando a eficiência. O orientador de cristal de raios X possui um integrador especial com amplificação de pico, o que melhora a precisão da detecção. A integração do tubo de raios X e do cabo de alta tensão aumenta a confiabilidade da alta tensão. O detector de alta tensão adota um módulo de alta tensão CC e uma placa de amostra de sucção a vácuo, o que melhora a precisão e a velocidade da medição do ângulo. Os principais componentes de um orientador de cristal de raios X são: Tubo de radiação: Normalmente, um alvo de cobre é usado como ânodo e aterrado, enquanto o resfriamento por ar forçado é empregado para resfriamento. Fonte de alimentação de alta tensão: fornece alta tensão e corrente estáveis ​​para tubos de raios X e é um dos principais componentes de todo o sistema. Detector: usado para receber fótons de raios X difratados e convertê-los em sinais elétricos para processamento e análise subsequentes. Goniômetro: usado para medir com precisão o ângulo de rotação de amostras de cristal, determinando assim as informações de orientação do plano de difração. Sistema de processamento de dados: processa, analisa e armazena os sinais emitidos pelo detector para obter informações sobre a estrutura cristalina. 4. Áreas de aplicação do orientador de cristal de raios X: Ciência dos Materiais: Usada para estudar as estruturas cristalinas de vários materiais, incluindo metais, cerâmicas, semicondutores, etc. Geologia: usada para identificar tipos de minerais, analisar estruturas rochosas, etc. Química: usada para estudar a estrutura e as mudanças dos cristais moleculares. Física: usada para explorar a microestrutura e as propriedades físicas da matéria. Em resumo, com o progresso contínuo e a inovação da ciência e da tecnologia, acredita-se que haverá mais novos materiais e tecnologias aplicados em vários campos no futuro, promovendo o desenvolvimento contínuo da sociedade humana.

O analisador de cristais de raios X da série TDF é um instrumento analítico de larga escala utilizado para estudar a microestrutura interna de substâncias. É utilizado principalmente para orientação de cristais individuais, inspeção de defeitos, determinação de parâmetros de rede, determinação de tensões residuais, estudo da estrutura de placas e barras, estudo da estrutura de substâncias desconhecidas e discordâncias de cristais individuais. Um analisador de cristais de raios X é um instrumento de precisão que utiliza o princípio da difração de raios X para analisar e determinar a estrutura interna e a composição de substâncias. 1. O princípio de funcionamento do analisador de cristais de raios X: O analisador de cristais de raios X baseia-se na Lei de Bragg, que afirma que, quando raios X são irradiados sobre um cristal, a difração ocorre em um ângulo específico, formando pontos ou picos de difração. Medindo os ângulos e as intensidades dessas difrações, é possível inferir a estrutura interna e a composição do cristal. 2. Componentes do analisador de cristais de raios X: (1) Fonte de raios X do analisador de cristal de raios X: um dispositivo que gera raios X, geralmente um tubo de raios X, consistindo de um filamento, um material alvo e uma fonte de alimentação de alta tensão. Tubo de raios X do analisador de cristal de raios X: Potência nominal: 2,4 kW; Tamanho do foco (mm2): Foco pontual (1 × 1) Foco linear (1 × 10); Materiais alvo: Cu, Co, Fe, Cr, Mo, W, etc. Gerador de alta tensão do analisador de cristais de raios X (controlado por CLP importado): Tensão do tubo: 10-60KV; Corrente do tubo: 2-60mA; Estabilidade da tensão e da corrente do tubo ≤ ± 0,005%; Potência nominal de saída: 3 kW. Cabo de alta tensão para analisador de cristais de raios X: Tensão dielétrica ≥ 100KV; Comprimento: 2M. (2) O cristal espectral do analisador de cristal de raios X: usado para separar raios X de diferentes comprimentos de onda, é um componente chave para alcançar a separação espectral. (3) Detector do analisador de cristais de raios X: usado para detectar raios X espalhados pela amostra e convertê-los em sinais elétricos para processamento subsequente. (4) Instrumento de medição de ângulo do analisador de cristal de raios X: um instrumento usado para medição precisa do ângulo de difração, que é um dos componentes importantes para garantir a precisão da medição. (5) Sistema de controle e processamento de dados do analisador de cristais de raios X: utilizado para controlar todo o processo de análise, processar e analisar os dados coletados. Os instrumentos modernos geralmente são equipados com software para simplificar o processo de análise de dados. 3. Características do analisador de cristais de raios X: O analisador de cristais de raios X da série TDF adota uma luva de tubo vertical e quatro janelas podem ser usadas simultaneamente. O analisador de cristal de raios X da série TDF adota tecnologia de controle PLC importada, com alta precisão de controle e bom desempenho anti-interferência, o que pode atingir uma operação confiável do sistema. O PLC controla o interruptor de alta tensão, elevação e tem a função de treinar automaticamente o tubo de raios X, estendendo efetivamente a vida útil do tubo de raios X e do instrumento. 4. Áreas de aplicação do analisador de cristais de raios X Ciência dos Materiais: Pesquise a estrutura cristalina, transição de fase, defeitos, etc. dos materiais para fornecer suporte importante para o desenvolvimento de novos materiais. Química: envolvendo química de cristais, química medicinal, etc., pode ser usada para analisar estruturas de compostos, estudar mecanismos de reações químicas, etc. Biologia: Usada para análise estrutural de biomoléculas, design e triagem de medicamentos, etc., é de grande importância para a compreensão dos processos vitais e mecanismos de doenças. A ciência ambiental desempenha um papel importante no desenvolvimento de catalisadores, caracterização de nanomateriais e análise de poluentes. Geologia: Identificação de minerais, pesquisa de gênese de rochas, geocronologia e outras áreas de estudo também contam com analisadores de cristais de raios X. O analisador de cristais de raios X é um instrumento analítico poderoso e amplamente utilizado, que desempenha um papel insubstituível em diversas áreas. Com o avanço contínuo da tecnologia e o desenvolvimento contínuo do mercado, seu desempenho e escopo de aplicação serão aprimorados e expandidos ainda mais.

A instrumentação de difração de raios X de mesa TDM-10 é um instrumento usado para analisar a estrutura de fase de materiais, que pode ser equipado com detectores de cintilação/proporcionais/lineares. 1. O princípio de funcionamento da instrumentação de difração de raios X de mesa TDM-10: Com base na lei de Bragg, quando um feixe de raios X monocromático incide em um cristal, se a condição de difração de Bragg for satisfeita (n λ=2dsin θ, onde λ é o comprimento de onda do raio X, d é o espaçamento interplanar e θ é o ângulo de incidência), átomos ou moléculas no cristal se espalharão e interferirão no raio X, formando um padrão de difração específico. Ao medir a intensidade de difração em diferentes ângulos, as informações estruturais do cristal podem ser obtidas. 2. Características da instrumentação de difração de raios X de mesa TDM-10: A alta resolução de uma instrumentação de difração de raios X de mesa permite a medição precisa da estrutura cristalina de substâncias, o que é crucial para estudar misturas complexas ou procurar fases policristalinas e traços de baixo teor. Análise não destrutiva de instrumentação de difração de raios X de mesa: durante o processo de teste, não causará danos à amostra, e a amostra pode permanecer em seu estado original para testes ou uso posteriores. A operação do equipamento de difração de raios X de mesa é simples: os modernos equipamentos de difração de raios X de mesa geralmente têm funções de automação e inteligência, tornando a operação mais conveniente e reduzindo os requisitos de conhecimento e habilidades profissionais do operador. A versatilidade do equipamento de difração de raios X em pó de mesa: o equipamento de difração de raios X em pó pode realizar várias análises, como análise qualitativa e quantitativa de fase, análise de constante de rede, análise de tensão, etc. 3. Parâmetros técnicos do equipamento de difração de raios X em pó de mesa TDM-10: A máquina de difração de raios X de mesa tem um pequeno volume; A fonte de alimentação de alta frequência e alta tensão reduz o consumo geral de energia da máquina; Pode calibrar e testar amostras rapidamente; Controle de circuito simples, fácil de depurar e instalar; A precisão da medição da posição do pico de difração é de 0,001 °; Detector: cintilação, proporcional, matriz linear; Faixa de 2 θ:- 10°~150° Potência: 600W; Tensão máxima: 40kV; Corrente máxima: 15mA; Tubos de raios X: tubos cerâmicos corrugados, tubos metalocerâmicos, tubos de vidro. 4. Áreas de aplicação da máquina de difração de raios X de mesa TDM-10: Ciência dos Materiais: Usada para estudar a estrutura cristalina, composição de fases, tamanho de grão, cristalinidade, etc. de metais, cerâmicas, semicondutores e outros materiais, ajudando cientistas de materiais a entender as propriedades e características dos materiais. No campo da química, a máquina de difração de raios X pode ser usada na indústria de fabricação de catalisadores, cimento, produtos farmacêuticos e outros produtos para identificar fases em amostras desconhecidas, bem como para analisar quantitativamente fases conhecidas em amostras mistas. Geologia: Realização de análises de fase em minérios, rochas, etc. para determinar sua composição mineral e estrutura. Ciência ambiental: usada para analisar a composição mineral e formas poluentes em amostras ambientais, como solo e sedimentos. Indústria alimentícia: detecção de componentes de cristais, aditivos, etc. em alimentos. A máquina de difração de raios X de mesa TDM-10 é um poderoso instrumento analítico com importante valor de aplicação em vários campos.

O difratômetro de raios X de alta potência TDM-20 (XRD de bancada) é usado principalmente para análise de fase de pós, sólidos e materiais pastosos semelhantes. O princípio da difração de raios X pode ser usado para análise qualitativa ou quantitativa, análise de estrutura cristalina e outros materiais policristalinos, como amostras de pó e amostras de metal. O XRD de bancada é amplamente usado em indústrias como indústria, agricultura, defesa nacional, produtos farmacêuticos, minerais, segurança alimentar, petróleo, educação e pesquisa científica. 1、Principais características do difratômetro de raios X de bancada TDM-20 (XRD de bancada): O carregamento do novo detector de matriz de alto desempenho melhorou muito o desempenho geral do dispositivo, com um tamanho pequeno e peso leve; A máquina inteira é integrada ao tamanho da área de trabalho (geralmente ≤ 1m³), economizando espaço e adequada para pequenos laboratórios ou ambientes de ensino; A potência de trabalho da fonte de alimentação de alta frequência e alta tensão pode chegar a 1600 W; Análise rápida, capaz de calibrar e testar amostras rapidamente; Ao usar detectores de alto desempenho (como detectores bidimensionais) e otimizar o caminho óptico, a varredura da amostra pode ser concluída em poucos minutos; Controle de circuito simples, fácil de depurar e instalar; A repetibilidade do ângulo pode chegar a 0,0001; Baixo consumo de energia e segurança, usando tubos de raios X de baixa potência (como ≤ 50 W), equipados com proteção contra radiação múltipla, sem necessidade de salas de blindagem especiais; Fácil de usar, equipado com software de automação, suportando operação com um clique, visualização de dados em tempo real e comparação de banco de dados padrão (como ICDD PDF). 2. Cenários típicos de aplicação do difratômetro de raios X de bancada TDM-20 (XRD de bancada): Ciência dos materiais do difratômetro de raios X (XRD de bancada): identificação rápida da estrutura cristalina e composição de fases (como metais, cerâmicas, polímeros). Ciência dos materiais do difratômetro de raios X (XRD de bancada): Testes em locais industriais da pureza de cristais de matérias-primas ou produtos acabados (como produtos farmacêuticos e materiais de bateria). Ciência dos materiais do difratômetro de raios X (XRD de bancada): Ensino experimental de graduação, demonstrando visualmente o princípio de difração de Bragg. Ciência dos materiais do difratômetro de raios X (XRD de bancada): Análise da composição mineral de relíquias culturais ou triagem preliminar de amostras de campo. 3. Parâmetros técnicos do difratômetro de raios X de bancada TDM-20 (XRD de bancada): Projeto: intervalo de parâmetros Fonte de raios X: alvo Cu (λ = 1,54 Å), alvo Mo opcional Tensão/corrente: 10-50 kV/0,1-2 mA Faixa do instrumento de medição de ângulo: 0-90 ° 2θ (alguns modelos podem ser estendidos) Resolução de ângulo: ≤ 0,01 ° Tipo de detector: detector de superfície linear unidimensional ou bidimensional Tamanho da amostra: Pó (miligramas), filme ou bloco 4. Vantagens e limitações do difratômetro de raios X de bancada TDM-20 (XRD de bancada): Vantagens: Baixo custo (cerca de 1/3-1/2 de XRD grande), fácil manutenção. Suporte para análises não destrutivas e preparação simples de amostras (como colocação direta de pó). limitações: A resolução e a sensibilidade são ligeiramente inferiores às de dispositivos de última geração e podem não ser adequadas para análises estruturais ultrafinas. Testes em condições extremas (como experimentos in situ de alta temperatura/alta pressão) geralmente não são viáveis.