news

O difratômetro de raios X de mesa TDM-20 é um dispositivo de mesa compacto usado principalmente para análise de fase de materiais e pesquisa de estrutura cristalina. 1. As principais funções do difratômetro de raios X de mesa TDM-20 Análise de fase do TDM-20: O TDM-20 pode realizar análises qualitativas/quantitativas em amostras policristalinas, como pós, sólidos e materiais pastosos. Análise da estrutura cristalina do TDM-20: Com base no princípio da difração de raios X, o TDM-20 suporta a análise de estruturas cristalinas de amostras metálicas, minerais, compostos, etc. 2. Características técnicas do difratômetro de raios X de mesa TDM-20 Alta potência e desempenho do TDM-20: utilizando fonte de alimentação de alta frequência e alta tensão, a potência é aumentada para 1600 W. Equipado com novos detectores de matriz de alta velocidade ou detectores proporcionais para melhorar a eficiência e a precisão da aquisição de dados. Operação conveniente do TDM-20: O dispositivo é pequeno em tamanho e leve, adequado para espaços compactos de laboratório; Suporta calibração e testes rápidos, com controle de circuito simples e fácil instalação e depuração. A precisão e estabilidade do TDM-20: a repetibilidade do ângulo é de até 0,0001 °, e a linearidade do ângulo de difração do espectro total é de ± 0,01 °. Escalabilidade do TDM-20: O TDM-20 pode ser equipado com um trocador de amostra automático de 6 dígitos, um estágio de amostra rotativo, um sistema de resfriamento de baixa temperatura e acessórios de alta/média baixa temperatura in-situ para atender a diversas necessidades de teste. 3. Cenários de aplicação do difratômetro de raios X de mesa TDM-20 Os campos de pesquisa do TDM-20 incluem caracterização da estrutura cristalina e análise de transição de fase em ciência dos materiais, geologia e pesquisa farmacêutica. Aplicações industriais do TDM-20: avaliação de consistência de medicamentos na indústria farmacêutica, identificação de minerais, análise de catalisadores petroquímicos, testes de segurança alimentar (como determinação da composição de cristais). Educação e Defesa Nacional do TDM-20: Identificação Rápida de Fase em Experimentos de Ensino Universitário e Desenvolvimento de Material de Defesa Nacional. 4. Fabricantes e acessórios do TDM-20 Fabricante: Dandong Tongda Technology Co., Ltd. Acessórios opcionais: detector de matriz unidimensional, detector proporcional, trocador automático de amostras de 6 dígitos, estágio de amostra rotativo, monocromador de cristal curvo de grafite, etc. No geral, o TDM-20, com sua alta potência, alta precisão e design compacto, tornou-se uma ferramenta eficiente para análise de fase de laboratório e é amplamente utilizado em pesquisas científicas, indústria e campos de ensino.

O difratômetro de raios X TD-3500 (TD-3500XRD) é um instrumento analítico de alto desempenho produzido pela Dandong Tongda Technology Co., Ltd. Ele é usado principalmente para análise de estrutura cristalina, composição de fase e propriedades de materiais. 1. Parâmetros técnicos principais do difratômetro de raios X TD-3500 Fonte de raios X do difratômetro TD-3500: Permite a seleção do material alvo Cu K α ou Mo K α, com faixa de tensão de tubo ajustável de 10 a 60 kV e faixa de corrente de tubo de 2 a 80 mA, suportando geradores de estado sólido de alta frequência e alta tensão ou geradores de frequência de potência. Equipado com um sistema de controle PLC Siemens importado, realiza comutação automatizada de porta de luz, regulação de pressão/fluxo de tubo e funções de treinamento de tubo de raios X com alta estabilidade. Sistema de medição de ângulo do difratômetro de raios X TD-3500: Adotando uma estrutura vertical θ -2 θ com um raio de círculo de difração de 185 mm (ajustável para 285 mm), ele suporta testes de amostras líquidas, solúveis, em pó e em bloco. A resolução angular atinge 0,0001 grau, a precisão do passo é de 0,0001 grau e a faixa de medição de ângulo é de -5° a 165° (2 θ), adequada para análises de cristais de alta precisão. Detector do difratômetro de raios X TD-3500: Detector proporcional (PC) ou detector de cintilação (SC) opcional, com faixa linear de contagem ≥ 700.000 cps e ruído de fundo ≤ 1 cps. Equipado com tecnologia de monocromador de cristal duplo, que suprime eficazmente o componente K α 2 e melhora a monocromaticidade da radiação. Controle e software do difratômetro de raios X TD-3500: Um sistema de interação homem-máquina baseado em CLP importado e tela sensível ao toque em cores reais, suportando configuração de parâmetros, monitoramento em tempo real e diagnóstico de falhas. O software tem funções como correspondência de diagrama de fase, análise de tensão e cálculo de tamanho de grão, e pode gerar relatórios padronizados. 2. Características técnicas e vantagens do difratômetro de raios X TD-3500 Alta precisão e estabilidade do difratômetro de raios X TD-3500: O instrumento de medição de ângulo utiliza rolamentos importados de alta precisão e um sistema de servoacionamento de malha totalmente fechada, com correção automática de erros de movimento e repetibilidade superior a 0,0006°. O design modular do CLP possui forte capacidade antiparasitária, suporta operação sem falhas a longo prazo e pode expandir diversos acessórios funcionais. Segurança e proteção do difratômetro de raios X TD-3500: O dispositivo eletrônico de intertravamento da porta de chumbo proporciona dupla proteção, com a comporta de luz e a porta de chumbo intertravadas para garantir uma operação segura. Equipado com um sistema de resfriamento por água circulante (dividido ou integrado), ele controla automaticamente a temperatura da água e monitora a temperatura do tubo de raios X para evitar bloqueios. Operação inteligente do difratômetro de raios X TD-3500: A tela sensível ao toque exibe o status do instrumento em tempo real, suporta configurações de parâmetros (como faixa de varredura, tamanho do passo, tempo de amostragem) e diagnóstico remoto de falhas. Modos de varredura predefinidos (θ -2 θ, difração de cristal único, análise de filme fino) para atender a diferentes requisitos de amostra. 3. As principais áreas de aplicação do difratômetro de raios X TD-3500 Análise de materiais do difratômetro de raios X TD-3500: Análise qualitativa/quantitativa de fases, identificação da estrutura cristalina, determinação do tamanho de grão e cristalinidade. Composição de fases e análise de tensões de materiais como semicondutores, cerâmicas, metais, polímeros, etc. Experimento de pesquisa do difratômetro de raios X TD-3500: Análise de orientação de filme, pesquisa de transição de fase de materiais de catalisadores/baterias e caracterização de estruturas de nanomateriais. Cristais biológicos, medição de estresse macroscópico/microscópico e análise da evolução da temperatura do material (exigindo o uso de um analisador térmico). Caso de uso típico do difratômetro de raios X TD-3500: Universidade de Tecnologia de Wuhan (Pesquisa de Nova Estrutura de Materiais), Instituto de Tecnologia de Pequim (Pesquisa de Transformação de Fase de Semicondutores de Óxido), Universidade de Tongji (Análise de Estrutura de Liga de Titânio), etc. 4. Pontos-chave para operação e manutenção do difratômetro de raios X TD-3500 Processo de operação do difratômetro de raios X TD-3500: Inicialização e pré-aquecimento por 10 a 15 minutos → Preparação e fixação da amostra → Definição dos parâmetros de varredura (como faixa de 2 θ, largura do passo, pressão/fluxo do tubo) → Início da varredura → Análise de dados. Suporta a combinação de SEM e EDS para obter a caracterização abrangente de micro/nanoestruturas e componentes. Amplamente utilizado em ciência dos materiais, química, física e outras áreas, é a ferramenta preferida para análise de estrutura cristalina e de fases.

O difratômetro de raios X TD-3700 é um dispositivo de análise de raios X de alto desempenho e alta resolução, caracterizado por análise rápida, operação conveniente e alta segurança. 1. Características técnicas do difratômetro de raios X TD-3700 (1) Configuração central do difratômetro de raios X Equipado com um detector de matriz unidimensional de alta velocidade ou detector SDD, utilizando tecnologia de contagem mista de fótons, não há interferência de ruído e a velocidade de aquisição de dados excede em muito a dos detectores de cintilação tradicionais (com um aumento de velocidade de mais de cem vezes), além de possuir alta faixa dinâmica (24 bits) e excelente resolução de energia (687 ± 5 eV). Equipado com um controlador lógico programável (CLP) importado, ele alcança controle automatizado, baixa taxa de falhas, forte capacidade antiparasitária e garante operação estável da fonte de alimentação de alta tensão para tubos de raios X. (2) Sistema de medição de ângulo do difratômetro de raios X Adotando uma estrutura de instrumento de medição de ângulo vertical θ/θ, a amostra é posicionada horizontalmente e suporta testes de diversos tipos de amostras, como líquido, sol, pó e bloco, para evitar que as amostras caiam no mancal e causem corrosão. A faixa de varredura do ângulo θ 2 é de -110° a 161°, com um passo mínimo de 0,0001°, uma repetibilidade de ± 0,0001° e uma linearidade angular de ± 0,01°, adequada para análises estruturais de alta precisão. Suporta tanto o modo de reflexão convencional quanto o modo de transmissão, sendo este último de maior resolução e adequado para amostras de traços (como pós com baixo rendimento) e análises estruturais. (3) O sistema de geração de raios X do difratômetro de raios X A potência nominal pode ser selecionada entre 3 kW ou 5 kW, com uma faixa de tensão do tubo de 10 a 60 kV, uma corrente do tubo de 2 a 80 mA e uma estabilidade de ≤ 0,005%. Material alvo padrão Cr/Co/Cu, adequado para diferentes requisitos de análise de materiais. 2. Software e controle do instrumento de difração de raios X TD-3700 (1) Software de controle para difratômetro de raios X Interface totalmente em chinês, compatível com o sistema Windows XP, regula automaticamente a pressão do tubo, o fluxo do tubo e o interruptor de luz, além de função de treinamento de envelhecimento do tubo de raios X. O software aplicativo oferece funções de processamento como busca de pico, subtração de fundo, stripping de K α 2 , cálculo de integração, comparação de espectro, etc. Suporta inserção de anotações de texto e diversas operações de escala. (2) Segurança operacional do difratômetro de raios X Sistema de proteção dupla (conexão de porta de luz e porta de chumbo), taxa de vazamento de raios X ≤ 0,1 μ Sv/h, em conformidade com os padrões nacionais. Equipado com sistema de refrigeração circulante (split ou integrado), controle automático de temperatura e monitoramento da vazão de água, pressão do refrigerante, etc., para evitar bloqueio do tubo de raios X. 3. Cenários de aplicação do difratômetro de raios X TD-3700 (1) A função principal do difratômetro de raios X Análise qualitativa/quantitativa de fases, análise da estrutura cristalina, determinação do tamanho de grão e cristalinidade. Detecção de tensões macroscópicas/microscópicas, análise da orientação de materiais (como filmes finos, amostras a granel). (2) Campos aplicáveis do difratômetro de raios X Ciência dos Materiais: Cerâmicas, Metais, Polímeros, Materiais Supercondutores, etc. Meio ambiente e geologia: solo, rochas, análise de minerais e registro de petróleo. Química e Farmacêutica: Identificação de Ingredientes Farmacêuticos, Teste de Cristalinidade de Produtos Químicos. Outros: inspeção de alimentos, materiais eletrônicos, materiais magnéticos, etc. 4. Vantagens do produto do difratômetro de raios X TD-3700 (1) Design modular: O sistema de hardware é modular e suporta vários acessórios (como acessórios ópticos e software de função especial) que são plug and play, sem a necessidade de ajustar manualmente o caminho óptico. (2) Equilíbrio eficiente e seguro: a operação com um clique simplifica o processo, ao mesmo tempo que reduz o risco de falha por meio do controle PLC, sistema de proteção e funções de alarme automático (como proteção contra sobrecorrente e aviso de superaquecimento). (3) Avanço na localização: a série TD é o único equipamento XRD na China que usa tecnologia de controlador programável, com desempenho comparável aos modelos importados (como o D8 ADVANCE) e taxas de falhas significativamente reduzidas. O difratômetro de raios X TD-3700 é um difratômetro de raios X potente e amplamente utilizado. Seu detector de alto desempenho, sistema preciso de medição de ângulos, funções de software potentes e ampla gama de campos de aplicação o tornam uma ferramenta importante na pesquisa científica e na produção industrial.

The TD-5000 X-ray single crystal diffractometer is a high-performance analytical instrument developed and produced by Dandong Tongda Technology Co., Ltd. The following is a detailed introduction to the instrument: 1. Structure and technical characteristics of single crystal diffractometer (1) Core technical support Adopting the four circle concentric angle measuring instrument technology ensures that the center position of the angle measuring instrument remains constant during rotation, improving data integrity and accuracy. Equipped with a hybrid pixel detector, combined with single photon counting and hybrid pixel technology, it achieves low noise and high dynamic range data collection, suitable for challenging sample analysis. High power X-ray generator (3kW or 5kW), supporting the selection of Cu/Mo and other target materials, with a focal size of 1 × 1mm and a divergence of 0.5~1 mrad, meeting different experimental requirements. (2) Modularization and operational optimization The whole machine adopts PLC control technology and modular design to achieve plug and play of accessories, reducing the calibration process. The touch screen monitors the instrument status in real-time, and the one click acquisition system simplifies the operation process. The electronic lead door interlocking device provides dual protection, with X-ray leakage ≤ 0.12 µ Sv/h (at maximum power). 2. Technical parameters of single crystal diffractometer (1) Accuracy and repeatability 2 θ angle repeatability accuracy: 0.0001 ° Minimum step angle: 0.0001 ° Temperature control range: 100K~300K, control accuracy ± 0.3K. (2) Detector performance Sensitive area: 83.8 × 70.0 mm ² Pixel size: 172 × 172 μ m ², pixel spacing error<0.03% Maximum frame rate: 20 Hz, readout time of 7 ms, energy range of 3.5~18 keV. (3) Other key parameters X-ray tube voltage: 10~60 kV (1 kV/step), current 2~50 mA or 2~80 mA. Liquid nitrogen consumption: 1.1~2 L/hour (low-temperature experiment). 3. Application fields of single crystal diffractometer (1) Main research direction Crystal structure analysis: Analyze the atomic arrangement, bond length, bond angle, molecular configuration, and electron cloud density of single crystal materials. Drug crystallography: Study the crystal morphology of drug molecules, evaluate stability and biological activity. New material development: Analyze the three-dimensional structure of synthesized compounds to support material performance optimization. Nanomaterials and Phase Transition Research: Exploring the Characteristics of Nanocrystals and the Mechanism of Material Phase Transition. (2) Typical users Escola de Ciência e Tecnologia de Materiais da Universidade de Ciência e Tecnologia de Huazhong, Universidade de Zhejiang, Universidade de Ciência e Tecnologia da China e outras universidades. Instituições de pesquisa como a Corporação de Ciência e Tecnologia Aeroespacial da China e a Corporação da Indústria de Construção Naval da China. 4. Serviço pós-venda de difratômetro de cristal único Fornece peças de reposição originais, manutenção domiciliar, diagnóstico remoto e serviços de atualização de software. Serviços regulares de calibração (em conformidade com os padrões internacionais) e treinamento operacional e de aplicação para os usuários. 5. Acessórios e funções estendidas para difratômetro de cristal único (1) Anexos opcionais Lente de foco de filme multicamadas (divergência de 0,5~1 mrad). Dispositivo de baixa temperatura (resfriamento por nitrogênio líquido). (2) Dispositivos compatíveis Ele pode ser usado em conjunto com espectrômetro de fluorescência de raios X (XRF), microscópio eletrônico de varredura (SEM), etc. para obter análises de materiais em várias escalas. Overall, as a high-end single crystal diffractometer, the performance of TD-5000 has approached international standards, making it particularly suitable for universities, research institutes, and high-end material development needs. For more details, please refer to the official website of Dandong Tongda Technology Co., Ltd.

O acessório de medição óptica paralela para filmes da Dandong Tongda é um componente especializado para difratômetros de raios X, que melhora significativamente o desempenho na análise de amostras de filmes finos. Seu design de grade alongada suprime eficazmente a interferência de espalhamento, aumentando a nitidez do sinal para filmes ultrafinos e nanomulticamadas. O acessório suporta análise de difração de baixo ângulo (0°–5°), permitindo a medição precisa da espessura do filme e das estruturas da interface. Compatível com os difratômetros TD-3500, TD-5000, TD-3700 e TDM-20, garante desempenho consistente em todas as plataformas. Amplamente utilizada na inspeção de semicondutores, avaliação de revestimentos ópticos e pesquisa de materiais para novas energias, esta ferramenta resolve desafios como sinais fracos e ruído de fundo. Com o avanço das indústrias de nanomateriais e semicondutores, o acessório está prestes a desempenhar um papel cada vez mais crucial na pesquisa de ponta e no controle de qualidade.

O difratômetro de raios X de alta potência TDM-20 (XRD de bancada) é usado principalmente para análise de fase de pós, sólidos e materiais pastosos semelhantes. O princípio da difração de raios X pode ser usado para análise qualitativa ou quantitativa, análise de estrutura cristalina e outros materiais policristalinos, como amostras de pó e amostras de metal. O XRD de bancada é amplamente usado em indústrias como indústria, agricultura, defesa nacional, produtos farmacêuticos, minerais, segurança alimentar, petróleo, educação e pesquisa científica. 1、Principais características do difratômetro de raios X de bancada TDM-20 (XRD de bancada): O carregamento do novo detector de matriz de alto desempenho melhorou muito o desempenho geral do dispositivo, com um tamanho pequeno e peso leve; A máquina inteira é integrada ao tamanho da área de trabalho (geralmente ≤ 1m³), economizando espaço e adequada para pequenos laboratórios ou ambientes de ensino; A potência de trabalho da fonte de alimentação de alta frequência e alta tensão pode chegar a 1600 W; Análise rápida, capaz de calibrar e testar amostras rapidamente; Ao usar detectores de alto desempenho (como detectores bidimensionais) e otimizar o caminho óptico, a varredura da amostra pode ser concluída em poucos minutos; Controle de circuito simples, fácil de depurar e instalar; A repetibilidade do ângulo pode chegar a 0,0001; Baixo consumo de energia e segurança, usando tubos de raios X de baixa potência (como ≤ 50 W), equipados com proteção contra radiação múltipla, sem necessidade de salas de blindagem especiais; Fácil de usar, equipado com software de automação, suportando operação com um clique, visualização de dados em tempo real e comparação de banco de dados padrão (como ICDD PDF). 2. Cenários típicos de aplicação do difratômetro de raios X de bancada TDM-20 (XRD de bancada): Ciência dos materiais do difratômetro de raios X (XRD de bancada): identificação rápida da estrutura cristalina e composição de fases (como metais, cerâmicas, polímeros). Ciência dos materiais do difratômetro de raios X (XRD de bancada): Testes em locais industriais da pureza de cristais de matérias-primas ou produtos acabados (como produtos farmacêuticos e materiais de bateria). Ciência dos materiais do difratômetro de raios X (XRD de bancada): Ensino experimental de graduação, demonstrando visualmente o princípio de difração de Bragg. Ciência dos materiais do difratômetro de raios X (XRD de bancada): Análise da composição mineral de relíquias culturais ou triagem preliminar de amostras de campo. 3. Parâmetros técnicos do difratômetro de raios X de bancada TDM-20 (XRD de bancada): Projeto: intervalo de parâmetros Fonte de raios X: alvo Cu (λ = 1,54 Å), alvo Mo opcional Tensão/corrente: 10-50 kV/0,1-2 mA Faixa do instrumento de medição de ângulo: 0-90 ° 2θ (alguns modelos podem ser estendidos) Resolução de ângulo: ≤ 0,01 ° Tipo de detector: detector de superfície linear unidimensional ou bidimensional Tamanho da amostra: Pó (miligramas), filme ou bloco 4. Vantagens e limitações do difratômetro de raios X de bancada TDM-20 (XRD de bancada): Vantagens: Baixo custo (cerca de 1/3-1/2 de XRD grande), fácil manutenção. Suporte para análises não destrutivas e preparação simples de amostras (como colocação direta de pó). limitações: A resolução e a sensibilidade são ligeiramente inferiores às de dispositivos de última geração e podem não ser adequadas para análises estruturais ultrafinas. Testes em condições extremas (como experimentos in situ de alta temperatura/alta pressão) geralmente não são viáveis.

O difratômetro de raios X TD-3500 é usado principalmente para análise qualitativa e quantitativa de fase, análise de estrutura de cristal, análise de estrutura de material, análise de orientação de cristal, determinação de tensão macroscópica ou microscópica, determinação de tamanho de grão, determinação de cristalinidade, etc. de amostras de pó, bloco ou filme. O difratômetro de raios X TD-3500 produzido pela Dandong Tongda Technology Co., Ltd. adota controle PLC Siemens importado, o que faz com que o difratômetro de raios X TD-3500 tenha as características de alta precisão, alta precisão, boa estabilidade, longa vida útil, fácil atualização, fácil operação e inteligência, e pode se adaptar de forma flexível a análises de teste e pesquisa em vários setores!   O difratômetro de raios X TD-3500 adota um gerador de raios X (gerador de estado sólido de alta frequência e alta tensão, gerador de frequência de energia opcional), que tem um alto grau de automação, taxa de falha extremamente baixa, forte capacidade anti-interferência, boa estabilidade do sistema e pode estender a vida útil de toda a máquina. O PLC e a interface do computador controlam automaticamente a abertura e o fechamento do portão de luz, controlam automaticamente a subida e a queda da pressão do tubo e do fluxo do tubo e têm a função de treinar automaticamente os tubos de raios X. Monitoramento on-line em tempo real usando uma tela sensível ao toque para exibir o status do instrumento. O difratômetro de raios X TD-3500 adota unidade de controle de gravação avançada, circuito de controle PLC, tecnologia avançada de controle PLC e tela de toque true color para obter interação humano-computador. O hardware do sistema adota conceito de design modular, aumentando muito a capacidade anti-interferência do sistema e tornando-o mais estável. Devido ao uso de circuitos de controle PLC Siemens importados com alta precisão e automação, o sistema pode operar de forma estável por um longo tempo sem nenhuma falha. O sistema de difratômetro de raios X TD-3500 tem as seguintes vantagens sobre os circuitos de microcontroladores usados ​​por outras empresas: Controle de circuito simples, fácil de depurar e instalar; Devido ao seu design modular, a manutenção do sistema é muito simples, e os usuários podem repará-lo e depurá-lo sozinhos, sem a necessidade da presença de técnicos do fabricante; Adotando tela sensível ao toque avançada em cores verdadeiras para obter interação homem-computador, com funções de proteção completas e operação muito conveniente, o design de animação altamente tridimensional é mais humanizado, intuitivo e conveniente para os operadores usarem e julgarem informações de falhas, etc.; Melhorando muito a estabilidade de contagem do sistema, aumentando assim a estabilidade geral de toda a máquina; Devido à forte capacidade de expansão do CLP, ele pode expandir facilmente vários acessórios funcionais sem a necessidade de adicionar circuitos de hardware adicionais. Detector do difratômetro de raios X TD-3500 Detector proporcional (PC) ou detector de cintilação (SC). Instrumento de medição de ângulo de alta precisão para difratômetro de raios X TD-3500 O instrumento de medição de ângulo da série TD adota transmissão de rolamento importada de alta precisão, e o controle de movimento é completado por um servo sistema de acionamento vetorial de malha totalmente fechada de alta precisão. O acionamento inteligente inclui um microprocessador RISC de 32 bits e um codificador magnético de alta resolução, que pode corrigir automaticamente erros de posição de movimento extremamente pequenos, garantindo alta precisão e exatidão dos resultados de medição. A reprodutibilidade do ângulo pode atingir 0,0001 graus, e ângulos de passo menores podem atingir 0,0001 graus. Áreas de aplicação do difratômetro de raios X TD-3500: Ciência dos Materiais: Usada para estudar informações importantes, como estrutura cristalina, comportamento de transição de fase e textura dos materiais. Análise química: pode ser usada para análise qualitativa ou quantitativa de compostos orgânicos, inorgânicos, poliméricos e outras substâncias. Geologia: ajuda as pessoas a entender a formação de depósitos minerais, a evolução da Terra e muito mais. Biofármacos: Determinar a estrutura cristalina de medicamentos, otimizar formulações de medicamentos e melhorar a eficácia dos medicamentos. O difratômetro de raios X é uma ferramenta analítica poderosa amplamente usada em vários campos. Ao medir com precisão o ângulo de difração e a intensidade, ele pode fornecer informações detalhadas sobre a estrutura cristalina e a composição dos materiais.

O difratômetro de raios X de alta resolução TD-3700 é um novo membro da série TD, equipado com uma variedade de detectores de alto desempenho, como detectores de matriz unidimensional de alta velocidade, detectores bidimensionais, detectores SDD, etc. Ele integra análise rápida, operação conveniente e segurança do usuário. A arquitetura de hardware modular e o sistema de software personalizado alcançam uma combinação perfeita, tornando sua taxa de falha extremamente baixa, bom desempenho anti-interferência e garantindo operação estável de longo prazo de fonte de alimentação de alta tensão. O difratômetro de raios X de alta resolução TD-3700 suporta não apenas o método convencional de varredura de dados de difração, mas também o método de varredura de dados de transmissão. A resolução do modo de transmissão é muito maior do que a do modo de difração, o que é adequado para análise estrutural e outros campos. O modo de difração tem fortes sinais de difração e é mais adequado para identificação de fase de rotina no laboratório. Além disso, no modo de transmissão, a amostra de pó pode estar em quantidades vestigiais, o que é adequado para aquisição de dados em casos em que o tamanho da amostra é relativamente pequeno e não atende aos requisitos do método de difração para preparação de amostra. O detector de matriz utiliza totalmente a tecnologia de contagem de fótons mistos, sem ruído, aquisição rápida de dados e mais de dez vezes a velocidade dos detectores de cintilação. Ele tem excelente resolução de energia e pode remover efetivamente os efeitos de fluorescência. Os detectores multicanal têm tempos de leitura mais rápidos e alcançam melhores relações sinal-ruído. Um sistema de controle de detector com gating eletrônico e disparo externo conclui efetivamente a sincronização do sistema. O princípio de funcionamento do difratômetro de raios X de alta resolução TD-3700: Ao utilizar a flutuação dos raios X, quando eles são irradiados em um cristal, átomos ou íons no cristal agem como centros de espalhamento, espalhando raios X em todas as direções. Devido à regularidade do arranjo atômico em cristais, essas ondas espalhadas interferem umas nas outras e reforçam umas às outras em certas direções, formando difração. Ao medir o ângulo de difração e a intensidade da difração, as informações estruturais do cristal podem ser obtidas. As principais características do difratômetro de raios X de alta resolução TD-3700 são: (1) Fácil de operar, sistema de coleta de um clique; (2) Design modular, acessórios de instrumento plug and play, sem necessidade de calibração; (3) Monitoramento on-line em tempo real usando tela sensível ao toque para exibir o status do instrumento; (4) Dispositivo de intertravamento eletrônico de porta de chumbo, proteção dupla, garantindo a segurança do usuário; (5) Gerador de raios X de alta frequência e alta tensão, com desempenho estável e confiável; (6) Unidade de controle de gravação avançada com forte capacidade anti-interferência. A alta precisão do difratômetro de raios X de alta resolução TD-3700 permite uma análise de alta precisão da estrutura cristalina dos materiais, como a determinação precisa de constantes de rede, parâmetros de célula, etc. A precisão da medição do ângulo pode atingir ±0,0001°. A alta resolução do difratômetro de raios X de alta resolução TD-3700 pode distinguir claramente picos de difração adjacentes, analisar com precisão informações de difração de diferentes planos de cristal para estruturas cristalinas complexas e revelar as características da microestrutura dos materiais. A natureza não destrutiva do difratômetro de raios X de alta resolução TD-3700: ele não causará danos à amostra durante o processo de teste, e a amostra pode ser mantida em seu estado original para vários testes, o que é particularmente importante para amostras preciosas ou difíceis de obter. Análise rápida do difratômetro de raios X de alta resolução TD-3700: Os difratômetros de raios X modernos de alta resolução têm recursos de detecção rápida e podem concluir o teste de amostra em um curto período de tempo, melhorando a eficiência do trabalho. 3. Áreas de aplicação do difratômetro de raios X de alta resolução TD-3700: Materiais semicondutores: usados ​​para detectar a qualidade do cristal de materiais semicondutores de cristal único e filmes finos epitaxiais, analisar incompatibilidade de rede, defeitos e outras informações, o que ajuda a otimizar o desempenho de dispositivos semicondutores. Materiais supercondutores: Estude a estrutura cristalina e o processo de transição de fase de materiais supercondutores para fornecer uma base para otimizar as propriedades supercondutoras. Nanomateriais: Analisar o tamanho do grão, a estrutura cristalina, a deformação microscópica, etc. dos nanomateriais ajuda os pesquisadores a entender melhor suas propriedades e aplicações. Outros campos: Também é amplamente utilizado em pesquisa e controle de qualidade de materiais metálicos, materiais cerâmicos, materiais poliméricos, biomateriais e outros campos. O difratômetro de raios X de alta resolução é um instrumento analítico rápido, não destrutivo, de alta precisão e alta resolução, com importante valor de aplicação em muitos campos.

1. Função do difratômetro de cristal único: O difratômetro de cristal único de raios X TD-5000 é usado principalmente para determinar a estrutura espacial tridimensional e a densidade de nuvem de elétrons de substâncias cristalinas, como complexos inorgânicos, orgânicos e metálicos, e para analisar a estrutura de materiais especiais, como cristais gêmeos, não proporcionais, quasicristais, etc. Determine o espaço tridimensional preciso (incluindo comprimento de ligação, ângulo de ligação, configuração, conformação e até mesmo densidade de elétrons de ligação) de novas moléculas compostas (cristalinas) e o arranjo real de moléculas na rede; O difratômetro de cristal único de raios X pode fornecer informações sobre os parâmetros da célula cristalina, grupo espacial, estrutura molecular do cristal, ligação de hidrogênio intermolecular e interações fracas, bem como informações estruturais, como configuração e conformação molecular. O difratômetro de cristal único de raios X é amplamente usado em pesquisas analíticas em cristalografia química, biologia molecular, farmacologia, mineralogia e ciência dos materiais. O difratômetro de cristal único de raios X é um produto de alta tecnologia financiado pelo Projeto Nacional de Desenvolvimento de Equipamentos e Instrumentos Científicos Principais do Ministério da Ciência e Tecnologia da China, liderado pela Dandong Tongda Technology Co., Ltd., preenchendo a lacuna no desenvolvimento e produção de difratômetros de cristal único na China. 2. Características do difratômetro de cristal único: Toda a máquina adota tecnologia de controle de controlador lógico programável (PLC); Fácil de operar, sistema de coleta de um clique; Design modular, acessórios plug and play, sem necessidade de calibração; Monitoramento online em tempo real por meio de tela sensível ao toque, exibindo o status do instrumento; Gerador de raios X de alta potência com desempenho estável e confiável; Dispositivo eletrônico de intertravamento de porta de chumbo, proteção dupla. 3. Precisão do difratômetro de cristal único: 2 θ precisão de repetibilidade do ângulo: 0,0001 °; Ângulo mínimo do passo: 0,0001 ° Faixa de controle de temperatura: 100K-300K; Precisão de controle: ± 0,3K 4. Instrumento de medição de ângulo usado em difratômetro de cristal único: O uso da técnica de quatro círculos concêntricos garante que o centro do instrumento de medição de ângulo permaneça inalterado independentemente de qualquer rotação, atingindo o objetivo de obter os dados mais precisos e obter maior completude. Quatro círculos concêntricos são uma condição necessária para a varredura convencional do difratômetro de cristal único. 5. Detector bidimensional de alta velocidade usado em difratômetro de cristal único de raios X: O detector combina as principais tecnologias de contagem de fótons únicos e tecnologia de pixel misto para atingir a melhor qualidade de dados, garantindo baixo consumo de energia e baixo resfriamento. Ele é aplicado em vários campos, como radiação síncrotron e fontes de luz de laboratório convencionais, eliminando efetivamente a interferência de ruído de leitura e corrente escura. A tecnologia de pixel misto pode detectar raios X diretamente, tornar o sinal mais fácil de distinguir e fornecer dados de alta qualidade com eficiência. 6. Equipamento de baixa temperatura usado em difratômetro de cristal único de raios X: Os dados coletados por meio de equipamentos de baixa temperatura produzem resultados mais ideais. Com a ajuda de equipamentos de baixa temperatura, condições mais vantajosas podem ser fornecidas para permitir que cristais indesejáveis ​​obtenham resultados ideais, bem como cristais ideais para obter resultados mais ideais. Faixa de controle de temperatura: 100K~300K; Precisão de controle: ± 0,3K; Consumo de nitrogênio líquido: 1,1~2 litros/hora; 7. Acessório opcional, lente de foco de filme multicamadas: Potência do tubo de raios X: 30 W ou 50 W, etc; Divergência: 0,5 ~ 1 mrad; Material do alvo do tubo de raios X: alvo Mo/Cu; Ponto focal: 0,5~2 mm.

O suporte de amostra rotativo em um difratômetro de raios X é um componente-chave usado para ajuste preciso e fixação da posição da amostra, a amostra pode girar dentro de seu próprio plano, o que é benéfico para erros causados ​​por grãos grossos. Para amostras com textura e cristalografia, o suporte de amostra rotativo garante boa reprodutibilidade da intensidade de difração e elimina a orientação preferencial. Princípio de funcionamento do suporte de amostra rotativo: Quando o difratômetro de raios X está funcionando, raios X de alta energia gerados pela fonte de raios X são irradiados na amostra fixada no estágio de amostra rotativo. Devido à estrutura cristalina específica e aos parâmetros de rede da amostra, os raios X sofrerão fenômenos de espalhamento, absorção e difração ao interagir com a amostra, onde os fenômenos de difração ocorrem de acordo com os requisitos da equação de Bragg. O suporte de amostra rotativo pode girar em ângulos menores de acordo com a configuração, permitindo que a amostra receba irradiação de raios X em ângulos diferentes, obtendo assim padrões de difração em ângulos diferentes. Dessa forma, o detector pode medir a intensidade de raios X após a difração da amostra e convertê-la em um sinal elétrico a ser transmitido ao computador para processamento de dados. A principal função do suporte rotativo de amostras é: Método de rotação: eixo β (plano de amostra) Velocidade de rotação: 1~60RPM Largura do passo pequeno: 0,1 º Modo de operação: rotação de velocidade constante para varredura de amostra (etapa, contínua) Vantagens do suporte rotativo de amostras: O suporte de amostra giratório pode melhorar a precisão dos dados de difração: Para amostras com pó irregular ou formas de partículas, a característica de orientação preferencial é propensa a ocorrer durante a preparação convencional de amostra de pó, resultando em desvios na distribuição da intensidade de difração e afetando a precisão da análise do resultado de difração. Girar o estágio da amostra pode mover a amostra em uma certa forma em um espaço apropriado, eliminando a influência da orientação preferencial até certo ponto, melhorando assim a precisão dos dados de difração. O suporte de amostra rotativo pode se adaptar a várias necessidades de teste: capaz de se adaptar a diferentes tipos de instrumentos de medição de ângulo de difração de raios X, como instrumentos de medição de ângulo vertical, equipamento de difração de pó compacto de baixa potência, etc., proporcionando conveniência para diferentes necessidades de teste. E o suporte de amostra rotativo pode atender aos requisitos de várias amostras e condições de teste ajustando parâmetros como velocidade e direção. O suporte de amostra rotativo pode expandir as capacidades analíticas do instrumento: Novos tipos de estágios de amostra rotativos estão sendo constantemente desenvolvidos e aplicados, como alguns estágios de amostra para análise de difração de raios X eletroquímica in situ, que podem monitorar e analisar as mudanças de materiais em diferentes ambientes ou condições em tempo real, expandindo as capacidades de análise do equipamento de difração de raios X. Em resumo, o suporte giratório de amostras no difratômetro de raios X é crucial para obter com precisão informações sobre a estrutura cristalina de substâncias. O suporte giratório de amostras pode não apenas melhorar a precisão dos dados de difração, mas também se adaptar a várias necessidades de testes e expandir as capacidades analíticas do instrumento.