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No difratômetro de raios X, os acessórios de medição integrados multifuncionais são componentes cruciais que aumentam muito a funcionalidade e a flexibilidade do instrumento. Usado para análise de filmes em placas, blocos e substratos, e pode executar testes como detecção de fase de cristal, orientação, textura, estresse e estrutura no plano de filmes finos. Visão geral básica de acessórios de medição integrados multifuncionais: Definição: É um termo geral para uma série de dispositivos ou módulos adicionais usados ​​no difratômetro de raios X para expandir as funções do instrumento, melhorar a precisão e a eficiência da medição. Objetivo: Esses acessórios visam permitir que o difratômetro de raios X atenda a uma gama mais ampla de necessidades experimentais e forneça informações mais abrangentes e precisas sobre a estrutura do material. As características funcionais dos acessórios de medição integrados multifuncionais: Realizar testes de diagrama polar usando métodos de transmissão ou reflexão; O teste de estresse pode ser conduzido usando o método de inclinação paralela ou o mesmo método de inclinação; Teste de película fina (rotação da amostra no plano). Características técnicas dos acessórios de medição integrados multifuncionais: Alta precisão: eles normalmente usam tecnologia de detecção avançada e sistemas de controle para garantir alta precisão e repetibilidade das medições. Automação: Muitos acessórios oferecem suporte a operações automatizadas e podem ser perfeitamente integrados ao host do difratômetro de raios X para obter medições com um clique. Design modular: facilita aos usuários a seleção e a combinação de diferentes módulos de acessórios de acordo com suas necessidades reais. Áreas de aplicação de acessórios de medição integrados multifuncionais: Amplamente utilizado em áreas como ciência dos materiais, física, química, biologia e geologia; Avaliação de estruturas metálicas de montagem, como chapas laminadas; Avaliação da orientação cerâmica; Avaliação da orientação de prioridade de cristais em amostras de filmes finos; Ensaios de tensão residual de vários materiais metálicos e cerâmicos (avaliação da resistência ao desgaste, resistência ao corte, etc.); Testes de estresse residual de filmes multicamadas (avaliação de descascamento de filme, etc.); Análise de oxidação de superfície e filmes de nitreto em materiais supercondutores de alta temperatura, como filmes finos e placas metálicas; Vidro Si、Análise de filmes multicamadas em substratos metálicos (filmes finos magnéticos, filmes de endurecimento de superfícies metálicas, etc.); Análise de materiais de galvanoplastia, como materiais macromoleculares, papel e lentes. Os acessórios de medição integrados multifuncionais no difratômetro de raios X são a chave para melhorar o desempenho do instrumento. Eles não apenas melhoram a funcionalidade do instrumento, mas também melhoram a precisão e a eficiência da medição, fornecendo aos pesquisadores métodos de análise de materiais mais abrangentes e aprofundados. Com o avanço contínuo da tecnologia, esses acessórios continuarão a desempenhar um papel importante na promoção da pesquisa científica em campos relacionados para alcançar mais avanços.

Os acessórios de difratômetro de ângulo pequeno são acessórios importantes usados ​​em difratômetros de raios X. Os acessórios de difratômetro de ângulo pequeno permitem que medições de difração de raios X sejam feitas dentro de uma faixa de ângulo muito pequena, de 0° a 5°, para testes de espessura de nanofilmes multicamadas. Desempenha um papel importante em campos como ciência de materiais, física, química e biologia. Tipos e características comuns: Acessório de filme fino de luz paralela: Este acessório pode gerar feixes de raios X paralelos e é adequado para medições de difração de ângulo pequeno de amostras de filme fino. Ele pode melhorar a precisão e a resolução das medições, reduzir erros de medição causados ​​pela divergência do feixe e se adaptar melhor a amostras de filme fino de diferentes espessuras e propriedades. Estágio de amostra multifuncional: equipado com acessórios de difração de pequeno ângulo, o estágio de amostra multifuncional pode fornecer vários ambientes de teste para amostras, como aquecimento in situ, resfriamento, alongamento, etc. Isso torna mais conveniente estudar as mudanças estruturais de materiais sob diferentes condições externas e permite a observação em tempo real da resposta estrutural dos materiais durante mudanças de temperatura, estresse e outras. Os acessórios do difratômetro de pequeno ângulo desempenham um papel importante em vários campos, como ciência dos materiais, física, química e biologia, ao alcançar difração de pequeno ângulo e medição precisa da espessura do filme nano multicamadas, fornecendo aos pesquisadores uma ferramenta poderosa para exploração aprofundada de microestruturas e propriedades de materiais.

O difratômetro de raios X de bancada TDM-20 usa um novo detector de matriz de alto desempenho, e o carregamento deste detector melhorou muito o desempenho geral da máquina. O difratômetro de raios X de bancada TDM-20 é usado principalmente para análise de fase de pós, sólidos e materiais pastosos semelhantes. O difratômetro de raios X de bancada TDM-20 utiliza o princípio da difração de raios X para realizar análises qualitativas ou quantitativas, análises de estrutura cristalina e outros materiais policristalinos, como amostras de pó e amostras de metal. O difratômetro de raios X de bancada é amplamente usado em indústrias como indústria, agricultura, defesa nacional, produtos farmacêuticos, minerais, segurança alimentar, petróleo, educação e pesquisa científica.

O difratômetro de raios X de alta resolução TD-3700 é equipado com uma variedade de detectores de alto desempenho, como detectores de matriz unidimensional de alta velocidade, detectores bidimensionais, detectores SDD, etc. O difratômetro de raios X TD-3700 integra análise rápida, operação conveniente e segurança do usuário. A arquitetura de hardware modular e o sistema de software personalizado alcançam uma combinação perfeita, tornando sua taxa de falha extremamente baixa, bom desempenho anti-interferência e garantindo operação estável de longo prazo de fonte de alimentação de alta tensão. O difratômetro de raios X TD-3700 pode aumentar a intensidade do cálculo de difração em dezenas de vezes ou mais, obter padrões de difração completos de alta sensibilidade e alta resolução e maior intensidade de contagem em um período de amostragem mais curto e também oferecer suporte à varredura de dados de transmissão. A resolução do modo de transmissão é muito maior do que a do modo de difração, o que é adequado para análise estrutural e outros campos. O modo de difração tem fortes sinais de difração e é mais adequado para identificação de fase de rotina no laboratório.

O difratômetro de cristal único de raios X TD-5000 é usado principalmente para determinar a estrutura espacial tridimensional e a densidade de nuvem de elétrons de substâncias cristalinas, como complexos inorgânicos, orgânicos e metálicos, e para analisar a estrutura de materiais especiais, como cristais gêmeos, não proporcionais, quasicristais, etc. Determine o espaço tridimensional preciso (incluindo comprimento de ligação, ângulo de ligação, configuração, conformação e até mesmo densidade de elétrons de ligação) de novas moléculas compostas (cristalinas) e o arranjo real de moléculas na rede; Ele pode fornecer informações sobre os parâmetros da célula cristalina, grupo espacial, estrutura molecular do cristal, ligação de hidrogênio intermolecular e interações fracas, bem como informações estruturais, como configuração e conformação molecular. O difratômetro de cristal único de raios X é amplamente usado em pesquisas analíticas em cristalografia química, biologia molecular, farmacologia, mineralogia e ciência dos materiais. O difratômetro de raios X de cristal único é um produto de alta tecnologia do Projeto Nacional de Desenvolvimento de Equipamentos e Instrumentos Científicos do Ministério da Ciência e Tecnologia, liderado pela Dandong Tongda Technology Co., Ltd., preenchendo a lacuna no desenvolvimento e produção de difratômetro de raios X de cristal único na China.

O difratômetro de raios X de pó é usado principalmente para análise qualitativa e quantitativa de fase, análise de estrutura de cristal, análise de estrutura de material, análise de orientação de cristal, determinação de tensão macroscópica ou microscópica, determinação de tamanho de grão, determinação de cristalinidade, etc. de amostras de pó, bloco ou filme. O difratômetro de raios X TD-3500 produzido pela Dandong Tongda Technology Co., Ltd. adota controle PLC Siemens importado, o que faz com que o difratômetro de raios X TD-3500 tenha as características de alta precisão, alta precisão, boa estabilidade, longa vida útil, fácil atualização, fácil operação e inteligência, e pode se adaptar flexivelmente a análises de teste e pesquisa em vários setores!

O difratômetro de raios X TD-3700 é um difratômetro de raios X multifuncional e de alto desempenho produzido pela Dandong Tongda Technology Co., Ltd. As principais características são detectores de alto desempenho, diversos métodos de varredura, operação conveniente e segura, desempenho estável e confiável. Para detalhes específicos, consulte o site da Dandong Tongda Technology Co., Ltd.

O difratômetro de raios X de mesa TDM-20 oferece 1200 W de potência em um design compacto, superando os padrões internacionais de 600 W. Com linearidade de ±0,01° e repetibilidade de 0,0001°, permite análises de fase precisas para pesquisa de materiais e controle de qualidade industrial. Seu sistema de refrigeração integrado e compatibilidade global com acessórios o tornam uma solução ideal e econômica para laboratórios internacionais.

A Dandong Tongda Science and Technology Co., Ltd. é líder do setor, focada em pesquisa e desenvolvimento e inovação em tecnologias-chave, como análise de difração. Por meio de colaborações com instituições acadêmicas, desenvolve produtos de alta eficiência com propriedade intelectual própria, rompendo com monopólios internacionais. A empresa constrói sua marca com base na integridade e no profissionalismo, seguindo o princípio de que "A excelência define o padrão, a integridade constrói a marca", visando aumentar a competitividade e contribuir para o setor de instrumentos científicos da China.

O difratômetro de raios X de alta resolução TD-3700 oferece desempenho analítico excepcional graças à tecnologia inovadora do detector e aos modos de varredura dupla. Com aquisição de dados rápida, operação intuitiva e segurança aprimorada, ele permite análises precisas de materiais em aplicações de pesquisa e industriais, estabelecendo novos padrões para instrumentos científicos chineses.