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O difratômetro de raios X de alta potência TDM-20 (XRD de bancada) é usado principalmente para análise de fase de pós, sólidos e materiais pastosos semelhantes. O princípio da difração de raios X pode ser usado para análise qualitativa ou quantitativa, análise de estrutura cristalina e outros materiais policristalinos, como amostras de pó e amostras de metal. É amplamente usado em indústrias como indústria, agricultura, defesa nacional, produtos farmacêuticos, minerais, segurança alimentar, petróleo, educação e pesquisa científica.

O difratômetro de raios X é usado principalmente para análise qualitativa e quantitativa de fase, análise de estrutura de cristal, análise de estrutura de material, análise de orientação de cristal, determinação de tensão macroscópica ou microscópica, determinação de tamanho de grão, determinação de cristalinidade, etc. de amostras de pó, bloco ou filme. Produzido pela Dandong Tongda Technology Co., Ltd. adota controle PLC Siemens importado, o que faz com que o difratômetro de raios X TD-3500 tenha as características de alta precisão, alta precisão, boa estabilidade, longa vida útil, fácil atualização, fácil operação e inteligência, e pode se adaptar flexivelmente a análises de teste e pesquisa em vários setores!

O difratômetro de raios X de alta resolução da série TD-3700 é um novo membro da série TD, equipado com uma variedade de detectores de alto desempenho, como detectores de matriz unidimensional de alta velocidade, detectores bidimensionais, detectores SDD, etc. Ele integra análise rápida, operação conveniente e segurança do usuário. A arquitetura de hardware modular e o sistema de software personalizado alcançam uma combinação perfeita, tornando sua taxa de falha extremamente baixa, bom desempenho anti-interferência e garantindo operação estável de longo prazo de fonte de alimentação de alta tensão.

O difratômetro de cristal único de raios X TD-5000 é usado principalmente para determinar a estrutura espacial tridimensional e a densidade de nuvem de elétrons de substâncias cristalinas, como complexos inorgânicos, orgânicos e metálicos, e para analisar a estrutura de materiais especiais, como cristais gêmeos, não proporcionais, quasicristais, etc. Determine o espaço tridimensional preciso (incluindo comprimento de ligação, ângulo de ligação, configuração, conformação e até mesmo densidade de elétrons de ligação) de novas moléculas compostas (cristalinas) e o arranjo real de moléculas na rede; Ele pode fornecer informações sobre os parâmetros da célula cristalina, grupo espacial, estrutura molecular do cristal, ligação de hidrogênio intermolecular e interações fracas, bem como informações estruturais, como configuração e conformação molecular. É amplamente usado em pesquisas analíticas em cristalografia química, biologia molecular, farmacologia, mineralogia e ciência dos materiais.

Originalmente, o Battery Accessory é um dispositivo usado para pesquisa de sistema eletroquímico, pertencente aos acessórios do difratômetro de raios X, que permite monitoramento e análise dinâmicos e em tempo real da bateria sob condições específicas. Amplamente usado em sistemas eletroquímicos contendo carbono, oxigênio, nitrogênio, enxofre, complexos metálicos incorporados, etc.

O monocromador de cristal curvo de grafite é instalado na frente do detector de raios X, que monocromatiza os raios X que passam pela fenda receptora e detecta apenas os acessórios do difratômetro de raios X característicos K α do espectro de raios X. Ao usar este dispositivo, raios X contínuos, raios X característicos K β e raios X fluorescentes podem ser completamente eliminados, permitindo uma análise de difração de raios X de alta relação sinal-ruído. Quando tubos de raios X de cobre alvo são usados ​​em conjunto com monocromadores correspondentes, raios X fluorescentes gerados a partir de amostras baseadas em Mn, Fe, Co, Ni podem ser eliminados, tornando-os adequados para análise de várias amostras.

O acessório de medição integrado multifuncional é um acessório de instrumento que pode medir vários parâmetros. É um acessório de medição para difratômetro de raios X, usado principalmente para melhorar a eficiência da medição, aumentar as funções de medição e melhorar a manutenção do instrumento. Usado para análise e teste de vários materiais em campos como engenharia química, máquinas, geologia, minerais, metalurgia, materiais de construção, cerâmica, petroquímicos, farmacêuticos, etc. Os acessórios de medição integrados multifuncionais desempenham um papel importante em vários campos, fornecendo forte suporte para pesquisa científica e produção industrial.

Os acessórios do difratômetro de pequeno ângulo são acessórios importantes usados ​​em instrumentos de difração de raios X, principalmente para medir os parâmetros nanométricos de materiais. Os acessórios correspondentes podem ser configurados para difração de pequeno ângulo, e a faixa de ângulo de 0° a 5° pode ser usada para testes de espessura de nanofilmes multicamadas. Ao medir os parâmetros nanométricos de materiais, ferramentas poderosas foram fornecidas para pesquisa em campos como ciência de materiais, biologia e química.

O difratômetro de raios X TDM-20 é usado principalmente para análise de fase de pós, sólidos e materiais pastosos semelhantes. O difratômetro de raios X pode ser usado para análise qualitativa ou quantitativa, análise de estrutura cristalina e outros materiais policristalinos, como amostras de pó e amostras de metal. O difratômetro de raios X é amplamente usado em indústrias como indústria, agricultura, defesa nacional, farmacêutica, minerais, segurança alimentar, petróleo, educação e pesquisa científica. Benchtop XRD é um equipamento experimental usado para analisar a estrutura cristalina de materiais. Benchtop XRD determina a estrutura cristalina, parâmetros de rede e composição de fase do material emitindo raios X e medindo o ângulo de difração e a intensidade após sua interação com a amostra.

O difratômetro de raios X é usado principalmente para análise qualitativa e quantitativa de fase, análise de estrutura de cristal, análise de estrutura de material, análise de orientação de cristal, determinação de tensão macroscópica ou microscópica, determinação de tamanho de grão, determinação de cristalinidade, etc. de amostras de pó, bloco ou filme. O difratômetro de raios X TD-3500 produzido pela Dandong Tongda Technology Co., Ltd. adota controle PLC Siemens importado, o que faz com que o difratômetro de raios X TD-3500 tenha as características de alta precisão, alta exatidão, boa estabilidade, longa vida útil, fácil atualização, fácil operação e inteligência, e pode se adaptar flexivelmente a análises de teste e pesquisa em vários setores! É uma ferramenta analítica poderosa amplamente usada em campos como ciência de materiais, química, física e geologia.