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O analisador de cristais por raios X da série TDF oferece desempenho excepcional em análises de microestrutura, suportando orientação de monocristais, detecção de defeitos e medição de tensões. Com um design de tubo vertical, operação em múltiplas janelas e controle PLC importado, garante alta precisão e conformidade com as normas de segurança (radiação).<0.1 µSv/h), and adaptability across industries. Backed by ISO certification and global exports, this instrument empowers scientific and industrial advancements worldwide

O difratômetro de raios X de alta resolução TD-3700 oferece desempenho analítico excepcional graças à tecnologia inovadora do detector e aos modos de varredura dupla. Com aquisição de dados rápida, operação intuitiva e segurança aprimorada, ele permite análises precisas de materiais em aplicações de pesquisa e industriais, estabelecendo novos padrões para instrumentos científicos chineses.

O difratômetro de raios X TD-5000 quebra o monopólio internacional em instrumentos científicos de alta tecnologia. Essa inovação chinesa oferece precisão excepcional (exatidão de 0,0001°) e recursos avançados de detecção, auxiliando pesquisadores nas áreas farmacêutica, de ciência dos materiais e química por meio de análises estruturais abrangentes.

Dandong Tongda Science and Technology Co., Ltd. is a high-tech enterprise specializing in the research, development, and production of X-ray analysis instruments. Its flagship product, the TD-3700 X-Ray Diffractometer , integrates rapid analysis, user-friendly operation, and robust safety features. The perfect synergy between its modular hardware and customized software systems makes it a powerful tool for research fields such as materials science, chemistry, and mineralogy. TheTD-3700 X-Ray Diffractometer demonstrates significant advantages in both detection technology and measurement modes, enabling it to meet a wide range of analytical demands. Core Technology and Performance High-Performance Detectors: The instrument can be equipped with optional high-speed 1D array detectors (e.g., MYTHEN2R), SDD detectors, or 2D detectors. Utilizing hybrid photon counting technology, it operates with no readout noise, achieves data acquisition speeds tens to hundreds of times faster than traditional scintillation detectors, and effectively eliminates fluorescence effects for excellent energy resolution. For instance, the 1D array detector features 640 channels with a remarkably short readout time of just 89 microseconds, contributing to an outstanding signal-to-noise ratio. Flexible Scanning Modes: The TD-3700 X-Ray Diffractometer supports two primary data scanning methods: conventional reflection (diffraction) mode and transmission mode. The transmission mode provides higher resolution, making it suitable for analyzing limited samples or conducting structural analysis. The reflection mode offers a stronger signal, which is more appropriate for routine phase identification in laboratory settings. This flexibility enables the instrument to handle a wide variety of sample types, ranging from trace amounts of powder and bulk solids to even liquids and viscous samples. Precision Goniometer System: It employs a θS-θd vertical goniometer where the sample remains horizontal and stationary during measurement. This design not only facilitates easier sample preparation but also helps prevent potential corrosion of the goniometer's axis system by samples, thereby extending its operational lifespan. With a wide 2θ scanning range (-110° to 161°) and exceptional repetitive accuracy of 0.0001°, it ensures highly precise and repeatable measurements. Instrument Features & Safety Assurance The TD-3700 X-Ray Diffractometer is designed with a strong emphasis on user experience and operational safety. User-Friendly Design: Effortless Operation: Features a one-click acquisition system and incorporates a touchscreen interface for real-time monitoring of instrument status. Modular Design: Components are designed for plug-and-play functionality, requiring no calibration and ensuring straightforward maintenance. Comprehensive Safety Protection: Incorporates an electronic lead door interlock system for dual-layer protection, ensuring user safety. External radiation leakage from the protection system is ≤ 0.1μSv/h, complying with stringent international safety standards. Includes multiple protective functions against excessively high/low kV, excessively high/low mA, water flow failure, and X-ray tube overheating. Stable & Reliable System: Utilizes a high-frequency, high-voltage X-ray generator known for its stable and reliable performance, with system stability ≤ 0.005%. The integrated recirculating chiller has a built-in cooling function, eliminating the need for an external water circulation unit. Applications & Global Recognition The TD-3700 X-Ray Diffractometer is widely used for qualitative/quantitative phase analysis, crystal structure analysis, materials structure research, grain size determination, and crystallinity measurement.

O Mini Difratômetro de Raios X TDM-20 é um instrumento analítico de bancada de alto desempenho desenvolvido e fabricado pela Dandong Tongda Technology Co., Ltd. É utilizado principalmente para análise de fase de materiais policristalinos, como pós, sólidos, amostras a granel e pastas. Utilizando o princípio da difração de raios X, o instrumento permite análises qualitativas e quantitativas, análise da estrutura cristalina e outras funções. Ele encontra amplas aplicações em diversos campos, incluindo indústria, agricultura, defesa, farmacêutica, mineralogia, segurança alimentar, petróleo e pesquisa educacional. O Difratômetro de Raios X de Bancada TDM-20 rompe a limitação convencional de 600 W, fornecendo uma potência máxima de saída de 1200 W para desempenho de alta potência. Além disso, incorpora uma fonte de alimentação de alta frequência e alta tensão, resultando em menor consumo geral de energia. Possui tecnologia de goniômetro de alta precisão com repetibilidade angular de 0,0001°, precisão de medição da posição do pico de difração de 0,001° e linearidade do ângulo de difração de perfil completo de ±0,010°. O instrumento incorpora um sistema de controle avançado baseado na tecnologia PLC (Controlador Lógico Programável) e um design modular para operação precisa. Para detecção, pode ser equipado com um detector proporcional ou um novo detector de matriz de alto desempenho, melhorando significativamente o desempenho geral e a velocidade de aquisição de dados. O TDM-20 também oferece opções de configuração altamente flexíveis, suportando uma variedade de acessórios, como um estágio de amostra rotativo, um detector de matriz 1D e um trocador de amostra automático de 6 posições. O Mini Difratômetro de Raios X TDM-20 se destaca ainda mais por sua significativa vantagem: ser compacto e portátil, com dimensões reduzidas e baixo peso. É reconhecido como um dos menores difratômetros de raios X de bancada do mundo, o que o torna altamente adequado para ambientes laboratoriais com espaço limitado. Além disso, o instrumento possui um esquema de proteção de isolamento triplo livre de interferências. A radiação de vazamento de raios X é mantida em ≤ 0,12 μSv/h, garantindo a conformidade com a norma de proteção GBZ 115-2002. Portanto, o uso do Mini Difratômetro de Raios X TDM-20 é comprovadamente seguro e confiável. O Mini Difratômetro de Raios X TDM-20 integra alta potência, alta precisão e design compacto em uma única plataforma. Ele transcende as limitações dos difratômetros de raios X tradicionais de grande porte, oferecendo uma solução de análise de materiais eficiente, conveniente e confiável para diversos setores. Com seu desempenho técnico avançado, suporte de serviço abrangente e operação flexível, o TDM-20 serve como uma ferramenta poderosa para análise de materiais em laboratório. Se você tiver alguma necessidade de equipamento de difração de raios X, convidamos você a escolher os produtos da Dandong Tongda Science and Technology Co., Ltd.

O Difratômetro de Raios X de Cristal TD-5000 é um instrumento de alto desempenho desenvolvido pela Dandong Tongda Technology. Aprovado no âmbito do Projeto Nacional de Desenvolvimento de Instrumentos e Equipamentos Científicos Chave da China, ele preenche uma lacuna crítica no mercado doméstico neste campo. Sua função principal é determinar a estrutura espacial tridimensional e a distribuição da densidade eletrônica de substâncias cristalinas — incluindo compostos inorgânicos, compostos orgânicos e complexos metálicos —, além de analisar estruturas de materiais especiais, como cristais geminados, estruturas moduladas incomensuravelmente e quasicristais. Ele mede com precisão a estrutura espacial tridimensional precisa de novos compostos cristalinos (incluindo comprimentos de ligação, ângulos de ligação, configuração, conformação e densidade eletrônica de ligação) e o arranjo real das moléculas dentro da rede cristalina. O sistema fornece informações estruturais abrangentes, como parâmetros de célula unitária, grupo espacial, estrutura molecular, ligações de hidrogênio intermoleculares e interações fracas, e configuração/conformação molecular. É amplamente utilizado em pesquisas analíticas em cristalografia química, biologia molecular, farmacologia, mineralogia e ciência dos materiais. Tecnologia de núcleo: uma dupla revolução em precisão e inteligência (1) O “Olho Mecânico” com Posicionamento em Nível Atômico Difratômetro concêntrico de quatro círculos: supera as limitações tradicionais de deslocamento mecânico, mantendo um centro rotacional constante para garantir que os erros de coordenadas do ponto de difração permaneçam abaixo do nível nanométrico. Detector PILATUS: Combina tecnologia de contagem de fótons individuais com pixels ultrafinos de 172 μm. Alcança taxas de quadros de até 20 Hz, com capacidade de supressão de ruído 3 vezes maior do que os detectores CCD convencionais. (2) Fluxo de trabalho de circuito fechado totalmente inteligente Controle PLC One-Touch: automatiza todo o processo, desde o posicionamento do cristal até a aquisição de dados, reduzindo o tempo de operação manual em 90%. Sistema de aprimoramento criogênico: possui controle de temperatura de precisão de ±0,3 K (100K–300K), aumentando a intensidade do sinal para cristais de difração fraca em 50% com consumo de nitrogênio líquido de apenas 1,1–2 L/h. (3) Dupla garantia: segurança e expansibilidade Intertravamento de porta de chumbo + proteção contra vazamentos (≤0,12 µSv/h), excedendo os padrões nacionais de segurança. Óptica de foco multicamadas opcional (alvo duplo Mo/Cu), permitindo análise em larga escala, desde produtos farmacêuticos de pequenas moléculas até minerais com grandes células unitárias. O advento do Difratômetro de Raios X de Cristal TD-5000 representa mais do que um avanço instrumental — ele marca a era em que os equipamentos de pesquisa científica de ponta da China alcançam oficialmente a definição de precisão autônoma. Até 2025, este sistema já havia atendido mais de 30 instituições líderes em áreas como química, ciência dos materiais e aeroespacial. À medida que os cristais revelam os segredos da vida sob o olhar investigativo de instrumentos desenvolvidos internamente, o "olho científico que discerne a essência da matéria" da China agora brilha com uma clareza impressionante.

Destaque do produto: Soluções de análise de cristais por raios X da Dandong Tongda A Dandong Tongda Science and Technology apresenta seu avançado equipamento de análise de cristais por raios X, oferecendo precisão e confiabilidade para aplicações industriais. O analisador de cristais por raios X da série TDF combina recursos analíticos avançados com confiabilidade de nível industrial. Com quatro janelas operacionais e tecnologia de controle PLC, ele atende a setores de manufatura de ponta, incluindo inspeção de wafers semicondutores, avaliação de tensão em componentes aeroespaciais e processamento de cristais a laser. Nossos Orientadores de Cristal por Raios X (TYX-200/TYX-2H8) permitem a medição rápida e precisa dos ângulos de corte de cristais com exatidão de até ±30 segundos de arco. Capazes de manusear amostras de até 30 kg, esses instrumentos suportam o corte direcional de cristais piezoelétricos, ópticos, a laser e semicondutores. Ambas as linhas de produtos utilizam tecnologia de difração de raios X não destrutiva, substituindo os métodos radioativos tradicionais e, ao mesmo tempo, melhorando a eficiência e a precisão do processamento para pesquisa e fabricação de materiais cristalinos.

O difratômetro de cristal único de raios X TD-5000 é usado principalmente para determinar a estrutura espacial tridimensional e a densidade de nuvem de elétrons de substâncias cristalinas, como complexos inorgânicos, orgânicos e metálicos, e para analisar a estrutura de materiais especiais, como cristais gêmeos, não proporcionais, quasicristais, etc. Determine o espaço tridimensional preciso (incluindo comprimento de ligação, ângulo de ligação, configuração, conformação e até mesmo densidade de elétrons de ligação) de novas moléculas compostas (cristalinas) e o arranjo real de moléculas na rede; O difratômetro de raios X de cristal único pode fornecer informações sobre parâmetros de células de cristal, grupo espacial, estrutura molecular de cristal, ligação de hidrogênio intermolecular e interações fracas, bem como informações estruturais, como configuração e conformação molecular. O XRD de cristal único é amplamente usado em pesquisas analíticas em cristalografia química, biologia molecular, farmacologia, mineralogia e ciência dos materiais. O difratômetro de cristal único adota a técnica de concentricidade de quatro círculos para garantir que o centro do instrumento de medição de ângulo permaneça inalterado independentemente da rotação, atingindo o objetivo de obter os dados mais precisos e obter maior integridade. A concentricidade de quatro círculos é uma condição necessária para a varredura convencional de cristal único. O pessoal técnico da empresa concluiu a instalação e a depuração do difratômetro de raios X de cristal único estrangeiro, e os resultados dos testes satisfizeram muito os usuários estrangeiros. Ao mesmo tempo, a funcionalidade, estabilidade e serviço pós-venda do instrumento receberam elogios unânimes de usuários estrangeiros.

O difratômetro de raios X de mesa TDM-20 é usado principalmente para análise de fase de pós, sólidos e materiais pastosos semelhantes. O XRD de bancada utiliza o princípio do difratômetro de raios X para realizar análises qualitativas ou quantitativas, análises de estrutura cristalina e outros materiais policristalinos, como amostras de pó e amostras de metal. O difratômetro de raios X de mesa TDM-20 é amplamente usado em indústrias como indústria, agricultura, defesa nacional, farmacêutica, minerais, segurança alimentar, petróleo, educação e pesquisa científica. O carregamento de um novo detector de matriz de alto desempenho levou a uma melhoria significativa no desempenho do XRD de bancada. O equipamento XRD de bancada tem pequeno volume e peso leve; A potência de trabalho da fonte de alimentação de alta tensão Benchtop XRD pode chegar a 1600 watts; O XRD de bancada pode calibrar e testar amostras rapidamente; O controle do circuito XRD de bancada é simples e fácil de depurar e instalar; A repetibilidade do ângulo XRD de bancada pode chegar a 0,0001.

O difratômetro de raios X de alta resolução TD-3700, com todas as vantagens do difratômetro de raios X TD-3500, é equipado com um detector de matriz de alto desempenho. Comparado a detectores de cintilação ou detectores proporcionais, a intensidade do cálculo de difração pode ser aumentada em várias dezenas de vezes, e padrões de difração completos de alta sensibilidade e alta resolução e maior intensidade de contagem podem ser obtidos em um período de amostragem mais curto. O difratômetro de raios X de alta resolução TD-3700 suporta tanto métodos convencionais de varredura de dados de difração quanto métodos de varredura de dados de transmissão. A resolução do modo de transmissão é muito maior do que a do modo de difração, o que é adequado para análise estrutural e outros campos. O modo de difração tem sinais de difração fortes e é mais adequado para identificação de fase de rotina no laboratório. Além disso, no modo de transmissão, a amostra de pó pode estar em quantidades vestigiais, o que é adequado para aquisição de dados em casos em que o tamanho da amostra é relativamente pequeno e não atende aos requisitos do método de difração para preparação de amostra.