A difração de raios X de incidência pastosa (GI-XRD) é um tipo de técnica de difração de raios X, que se diferencia do experimento XRD tradicional, principalmente por alterar o ângulo de incidência dos raios X e a orientação da amostra.

Nos últimos anos, a técnica de espalhamento de raios X de pequeno ângulo de macromoléculas biológicas tem recebido ampla atenção. Este artigo apresentará principalmente o progresso relevante da combinação de pequeno ângulo biológico e outras técnicas nos últimos anos.

É necessário reduzir a tensão residual prejudicial e prever a tendência de distribuição e o valor da tensão residual. Neste artigo, é introduzido o método de teste não destrutivo de teste de tensão residual.

Os testes não destrutivos baseiam-se no desenvolvimento da ciência e da tecnologia modernas. Com o desenvolvimento da indústria moderna, a aplicação de testes não destrutivos é cada vez mais popular.

A difração de raios X (XRD) é atualmente um método poderoso para estudar a estrutura cristalina (como o tipo e distribuição de localização de átomos ou íons e seus grupos, formato e tamanho das células, etc.).

A cristalografia de raios X é uma técnica usada para determinar a estrutura atômica e molecular de um cristal, onde a estrutura cristalina faz com que o feixe de raios X incidente difrate em muitas direções específicas.

Os raios X são um tipo de radiação eletromagnética amplamente utilizada nas áreas médica e industrial. Embora a maioria dos raios X sejam produzidos artificialmente, também existem alguns fenômenos na natureza que produzem raios X.

Com base na Lei de Bragg, a difração de raios X in-situ (XRD) pode ser usada para monitorar a mudança de fase e seus parâmetros de rede no eletrodo ou na interface eletrodo-eletrólito em tempo real durante o ciclo de carga-descarga de um bateria.

O teste de raios X é um método de teste não destrutivo que não danifica o objeto em si e tem sido amplamente utilizado em testes de materiais (QC), análise de falhas (FA), controle de qualidade (QC), garantia de qualidade e confiabilidade (QA/ CQ), pesquisa e desenvolvimento (P&D) e outros campos.

Três detectores de ponto único são compartilhados abaixo: contador proporcional, contador de cintilação e detector de estado sólido semicondutor.

Difração de raios X, através da difração de raios X de um material, a análise de seu padrão de difração, para obter a composição do material, a estrutura ou forma dos átomos ou moléculas dentro do material e outros meios de pesquisa.