Este guia detalha o planejamento de experimentos XAS, enfatizando a preparação uniforme da amostra (por exemplo, moagem, diluição, manuseio inerte) e o controle preciso da medição (por exemplo, intervalos de varredura, parâmetros do feixe, média de dados). A execução adequada garante dados confiáveis ​​sobre a estrutura atômica local, vitais para a pesquisa em catálise e materiais energéticos.

A XAS, uma técnica avançada baseada em radiação síncrotron, analisa a absorção de raios X para revelar estados eletrônicos locais em escala atômica e estruturas geométricas (via XANES e EXAFS) de forma não destrutiva, sendo amplamente utilizada em pesquisas de materiais e energia.

Um cristal único de qualidade para difração de raios X requer a escolha ideal do solvente (solubilidade/volatilidade moderada), um método de crescimento adequado (evaporação/difusão), alta pureza da amostra e um ambiente livre de vibrações para garantir uma morfologia bem definida e defeitos mínimos.

Este artigo detalha uma estratégia abrangente de três frentes para eliminar a interferência de difração de ordem superior na análise de monocristais por raios X. Os métodos envolvem filtragem de hardware na fonte usando monocromadores e fendas, otimização de parâmetros durante a coleta de dados para suprimir a detecção e algoritmos de correção de software para efeitos residuais no processamento de dados. Essa abordagem combinada garante a determinação de alta precisão da estrutura cristalina, controlando os erros de intensidade.

Os analisadores de difração de raios X (XRD) utilizam a Lei de Bragg para medir os ângulos de difração, permitindo a decodificação não destrutiva de fases cristalinas, constantes de rede, tamanho de grão e tensão a partir de mudanças no espaçamento interplanar.

Fundamentos físicos do difratômetro de raios X (para medição de tensão): Derivação detalhada da geometria de difração e da relação tensão-deformação

A nova geração de HR-XRD reduz o consumo de energia por meio de atualizações de hardware, controles inteligentes e gerenciamento completo do ciclo de vida, mantendo a precisão e, ao mesmo tempo, reduzindo custos e emissões para laboratórios sustentáveis.

Este guia detalha a manutenção essencial para sistemas de difração de raios X de bancada, abrangendo geração de raios X, óptica, detectores e segurança. A manutenção regular garante precisão, previne falhas e prolonga a vida útil do equipamento. O sistema de difração de raios X de bancada TDM-20 da Dandong Tongda Technology atende a todas as suas necessidades analíticas.

A manutenção de equipamentos de difração de raios X segue o princípio de "Prevenção em Primeiro Lugar, Inspeção Regular". Os protocolos de segurança exigem "Proteção como Prioridade, Procedimentos Padronizados". As principais práticas incluem controle ambiental, cuidado com os componentes, verificações de segurança rigorosas e desligamento adequado. A adesão a esses princípios garante a longevidade do instrumento, a segurança do operador e a confiabilidade dos dados.

Os difratômetros de bancada permitem a identificação rápida de fases no local. Seu tamanho compacto e operação simples superam as limitações tradicionais da difração de raios X, aumentando a eficiência no controle de qualidade, pesquisa e desenvolvimento e aplicações de campo, como triagem e análise de materiais.

A eficiência de um difratômetro de pó pode ser duplicada otimizando-se a preparação da amostra (moagem, carregamento), os parâmetros do instrumento (faixa/velocidade de varredura) e adotando-se o processamento em lote e a manutenção de rotina. Essas etapas garantem dados de alta qualidade, reduzindo significativamente o tempo experimental e a necessidade de retrabalho.

A difração de raios X (DRX) permite a quantificação precisa da fase TiO2, crucial para a qualidade do produto. Os difratômetros da série TD da Dandong Tongda, com programas especializados, garantem análises precisas de rutilo/anatásio (<0.2% error).