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A tensão residual tem um grande impacto na estabilidade dimensional, resistência à corrosão sob tensão, resistência à fadiga, mudança de fase e outras propriedades de materiais e componentes. Sua medição tem sido amplamente preocupada pela academia e pela indústria.
Recentemente, um novo estudo fundiu com sucesso óxidos metálicos com zeólito A e revelou o mistério deste processo através da tecnologia XRD e FTIR.
A tecnologia XRD desempenha um papel importante na pesquisa e desenvolvimento de materiais cerâmicos. Ele fornece uma base científica confiável para a síntese, otimização do processo de preparação, melhoria de desempenho e popularização de aplicações de materiais cerâmicos.
É difícil quantificar as fases amorfa e cristalina dos materiais cimentícios devido à complexidade das fases minerais na mistura e aos picos sobrepostos significativos. Excelentes resultados podem ser obtidos pelo refinamento Rietveld da amostra medida usando configurações de medição padrão.
A difração de raios X em pó, como um dos métodos para o estudo do polimorfismo de fármacos, tem as vantagens de não destruir amostras e de operação simples, sendo atualmente o principal método para a análise qualitativa e quantitativa do polimorfismo de fármacos.
A fase vítrea de Bragg é uma fase cristalina quase perfeita com características vítreas que se espera que ocorra em redes de vórtices e sistemas de ondas de densidade de carga na presença de desordem.
Este artigo apresenta o conhecimento relacionado ao padrão de cristal e ao fetiche de cristal.
A técnica de difração de raios X é amplamente utilizada na análise de medicamentos. A técnica de difração de raios X é um método analítico usado para estudar a estrutura de uma substância. Esta técnica tem muitas aplicações na análise de medicamentos.
A difração de raios X em pó, como um dos métodos para o estudo do polimorfismo de fármacos, apresenta as vantagens de não haver destruição da amostra e de operação simples.
A espectroscopia de difração de raios X analisa principalmente o estado cristalino e a microestrutura dos materiais, e existem dois métodos de medição de difração de raios X para análise de cristal.