O difratômetro de cristal único de raios X Dandong Tongda TD-5000 ganhou o "Prêmio ACCSI2023 de Instrumento e Detecção 3i - Prêmio Anual de Novo Produto Extraordinário da Indústria de Instrumentos Científicos de 2022".

Os cristais, embora há muito admirados pela sua regularidade e simetria, não foram estudados cientificamente até o século XVII. Vamos dar uma olhada no início da história da cristalografia.

Usando o princípio da difração de raios X, o ângulo de corte de monocristais naturais e artificiais é determinado com precisão e rapidez, e a máquina de corte é equipada para corte direcional dos referidos cristais.

A tecnologia de difração de raios X é amplamente utilizada na pesquisa de baterias de íons de lítio. XRD é um método convencional para análise qualitativa e quantitativa de fases em materiais.

O Festival do Meio Outono, a celebração do festival! Dandong Tongda Technology Co., Ltd. para todos os funcionários emitirem benefícios do Festival do Meio Outono!

O difratômetro global de raios X (XRD) tem se desenvolvido continuamente nos últimos anos e a China é um mercado com grandes perspectivas de desenvolvimento.

A aplicação de novas tecnologias e novos produtos, como 5G, big data e inteligência artificial, trará uma enorme demanda ao mercado de semicondutores, e os gastos globais com equipamentos de semicondutores entraram em um ciclo ascendente.

Nos últimos anos, tem havido um interesse crescente na medição de amostras biológicas de alta pressão. Isto se reflete no desenvolvimento de novas técnicas de medição de pressão diferentes daquelas implementadas pelo DAC. Uma delas é a técnica de congelamento de cristais sob pressão.

XRD de alta resolução (HR-XRD) é um método comum para medir a composição e espessura de semicondutores compostos, como SiGe, AlGaAs, InGaAs, etc.

O difratômetro de raios X (XRD) pode ser dividido em difratômetro de pó de raios X e difratômetro de cristal único de raios X, o princípio físico básico dos dois é o mesmo.

XRD é um meio de pesquisa que consiste na difração por difração de raios X de um material para analisar seu padrão de difração para obter informações como a composição do material, a estrutura ou forma dos átomos ou moléculas dentro do material.

A difração de raios X de incidência pastosa (GI-XRD) é um tipo de técnica de difração de raios X, que se diferencia do experimento XRD tradicional, principalmente por alterar o ângulo de incidência dos raios X e a orientação da amostra.