O difratômetro de raios X é um dispositivo que utiliza o princípio da interação entre os raios X e as substâncias para obter informações como estrutura cristalina e constante de rede das substâncias, medindo o ângulo de difração e a intensidade dos raios X nas substâncias.

Métodos de caracterização de catalisadores monoatômicos de cobre são frequentemente usados ​​para determinar sua estrutura e propriedades, e a seguir estão vários métodos de caracterização comuns.

A tecnologia de difração de raios X é amplamente utilizada na pesquisa de baterias de íons de lítio. XRD é um método convencional para análise qualitativa e quantitativa de fases em materiais.

A aplicação de novas tecnologias e novos produtos, como 5G, big data e inteligência artificial, trará uma enorme demanda ao mercado de semicondutores, e os gastos globais com equipamentos de semicondutores entraram em um ciclo ascendente.

O difratômetro de raios X (XRD) pode ser dividido em difratômetro de pó de raios X e difratômetro de cristal único de raios X, o princípio físico básico dos dois é o mesmo.

XRD é um meio de pesquisa que consiste na difração por difração de raios X de um material para analisar seu padrão de difração para obter informações como a composição do material, a estrutura ou forma dos átomos ou moléculas dentro do material.

A difração de raios X de incidência pastosa (GI-XRD) é um tipo de técnica de difração de raios X, que se diferencia do experimento XRD tradicional, principalmente por alterar o ângulo de incidência dos raios X e a orientação da amostra.

A difração de raios X (XRD) é atualmente um método poderoso para estudar a estrutura cristalina (como o tipo e distribuição de localização de átomos ou íons e seus grupos, formato e tamanho das células, etc.).

Com base na Lei de Bragg, a difração de raios X in-situ (XRD) pode ser usada para monitorar a mudança de fase e seus parâmetros de rede no eletrodo ou na interface eletrodo-eletrólito em tempo real durante o ciclo de carga-descarga de um bateria.

O difratômetro de raios X, também conhecido como difratômetro de cristal de raios X, abreviado XPD ou XRD, é um instrumento para estudar a microestrutura interna da matéria. O difratômetro de raios X tem as vantagens de alta precisão, alta estabilidade e operação conveniente.

A Difração de Raios-X (XRD) é um método importante para estudar a fase e a estrutura cristalina de uma substância. Quando uma substância (cristal ou não cristalina) é analisada por difração, a substância é irradiada por raios X para produzir diferentes graus de fenômeno de difração, composição do material, tipo de cristal, modo de ligação intramolecular, configuração molecular, conformação e outras características do material determinam o padrão de difração específico da substância.