GIWAXS é uma técnica para caracterizar a microestrutura interna de amostras de filmes finos. O tamanho da estrutura correspondente está entre 10nm e 1um, por isso é amplamente utilizado para caracterizar a cristalização dentro de células solares de película fina.

O difratômetro de raios X é um dispositivo que utiliza o princípio da interação entre os raios X e as substâncias para obter informações como estrutura cristalina e constante de rede das substâncias, medindo o ângulo de difração e a intensidade dos raios X nas substâncias.

Métodos de caracterização de catalisadores monoatômicos de cobre são frequentemente usados ​​para determinar sua estrutura e propriedades, e a seguir estão vários métodos de caracterização comuns.

Aglutinante é um composto polimérico usado na fabricação de eletrodos para aderir a substância ativa ao fluido coletor. A principal função é unir e manter substâncias ativas.

Neste artigo, uma série de materiais de carbono duro com estrutura ajustável foram preparados utilizando quitosana como fonte de carbono, e a relação entre a evolução da estrutura do carbono duro e as propriedades de armazenamento de sódio foi analisada.

Muitos materiais através de laminação, extrusão e outros processos de deformação, ou mesmo que não sejam deformados, os grãos do policristal apresentam distribuição mais ou menos desigual estatística, essa estrutura organizacional é chamada de textura.

O método de auxiliar o estresse interno sem energia adicional proposto neste artigo fornece uma nova estratégia econômica e conveniente para melhorar a dinâmica da reação da bateria.

A tecnologia de difração de raios X é amplamente utilizada na pesquisa de baterias de íons de lítio. XRD é um método convencional para análise qualitativa e quantitativa de fases em materiais.

A aplicação de novas tecnologias e novos produtos, como 5G, big data e inteligência artificial, trará uma enorme demanda ao mercado de semicondutores, e os gastos globais com equipamentos de semicondutores entraram em um ciclo ascendente.

O difratômetro de raios X (XRD) pode ser dividido em difratômetro de pó de raios X e difratômetro de cristal único de raios X, o princípio físico básico dos dois é o mesmo.

XRD é um meio de pesquisa que consiste na difração por difração de raios X de um material para analisar seu padrão de difração para obter informações como a composição do material, a estrutura ou forma dos átomos ou moléculas dentro do material.

A difração de raios X de incidência pastosa (GI-XRD) é um tipo de técnica de difração de raios X, que se diferencia do experimento XRD tradicional, principalmente por alterar o ângulo de incidência dos raios X e a orientação da amostra.