A difração de raios X (XRD) é atualmente um método poderoso para estudar a estrutura cristalina (como o tipo e distribuição de localização de átomos ou íons e seus grupos, formato e tamanho das células, etc.).

Com base na Lei de Bragg, a difração de raios X in-situ (XRD) pode ser usada para monitorar a mudança de fase e seus parâmetros de rede no eletrodo ou na interface eletrodo-eletrólito em tempo real durante o ciclo de carga-descarga de um bateria.

O difratômetro de raios X é usado principalmente para caracterização de fase, análise quantitativa, análise de estrutura cristalina, análise de estrutura de material, análise de orientação cristalina de amostras de pó, bloco ou filme fino.

O difratômetro de raios X, também conhecido como difratômetro de cristal de raios X, abreviado XPD ou XRD, é um instrumento para estudar a microestrutura interna da matéria. O difratômetro de raios X tem as vantagens de alta precisão, alta estabilidade e operação conveniente.

A Difração de Raios-X (XRD) é um método importante para estudar a fase e a estrutura cristalina de uma substância. Quando uma substância (cristal ou não cristalina) é analisada por difração, a substância é irradiada por raios X para produzir diferentes graus de fenômeno de difração, composição do material, tipo de cristal, modo de ligação intramolecular, configuração molecular, conformação e outras características do material determinam o padrão de difração específico da substância.