É necessário reduzir a tensão residual prejudicial e prever a tendência de distribuição e o valor da tensão residual. Neste artigo, é introduzido o método de teste não destrutivo de teste de tensão residual.

A difração de raios X (XRD) é atualmente um método poderoso para estudar a estrutura cristalina (como o tipo e distribuição de localização de átomos ou íons e seus grupos, formato e tamanho das células, etc.).

A cristalografia de raios X é uma técnica usada para determinar a estrutura atômica e molecular de um cristal, onde a estrutura cristalina faz com que o feixe de raios X incidente difrate em muitas direções específicas.

O teste de raios X é um método de teste não destrutivo que não danifica o objeto em si e tem sido amplamente utilizado em testes de materiais (QC), análise de falhas (FA), controle de qualidade (QC), garantia de qualidade e confiabilidade (QA/ CQ), pesquisa e desenvolvimento (P&D) e outros campos.

Três detectores de ponto único são compartilhados abaixo: contador proporcional, contador de cintilação e detector de estado sólido semicondutor.

A difração de raios X é o meio mais eficaz e mais amplamente utilizado, e a difração de raios X é o primeiro método usado por humanos para estudar a microestrutura da matéria.

A tecnologia de difração de raios X é amplamente utilizada na indústria química, pesquisa científica, produção de materiais e outros campos por causa de sua precisão de medição não destrutiva, livre de poluição, rápida e alta e grande quantidade de informações sobre a integridade do cristal.

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