Incidência rasante significa que o raio X é exposto ao filme em um ângulo de incidência muito pequeno (< 5°), which greatly reduces the penetration depth in the film.At the same time, the low incidence Angle increases the irradiation area of the X-ray on the sample

XRD de feixe paralelo de cristais ópticos de raios X foi aplicado com sucesso na análise de filmes finos, avaliação de textura de amostra, monitoramento de fase e estrutura cristalina, etc.

O difratômetro de raios X é usado principalmente para caracterização de fase, análise quantitativa, análise de estrutura cristalina, análise de estrutura de material, análise de orientação cristalina de amostras de pó, bloco ou filme fino, etc.

Pesquisadores da instalação de radiação síncrotron SPring-8 do Instituto de Pesquisa RIKEN no Japão e seus colaboradores desenvolveram uma maneira mais rápida e simples de realizar análises de segmentação, um processo importante na ciência dos materiais.

Os pesquisadores desenvolveram uma técnica de imagem de raios X que produz imagens detalhadas de organismos em doses de raios X muito mais baixas do que era possível anteriormente.

O nome completo de XRD é difração de raios X, que usa o fenômeno de difração de raios X no cristal para obter as características do sinal de raios X após a difração e obtém o padrão de difração após o processamento.

O espalhamento de raios X de pequeno ângulo (SAXS) é uma tecnologia que coleta sinais dispersos gerados por raios X que passam através de uma amostra para estudar as informações estruturais de uma amostra na faixa de 1 ~ 100 nm.

A difração de raios X é um meio importante para as pessoas compreenderem e explorarem a natureza, especialmente na física da matéria condensada, na medicina da vida, na história e em muitos outros campos que desempenham um papel ativo.

Na pesquisa e desenvolvimento de medicamentos, a pesquisa de cristais passa por todas as etapas, desde a triagem dos compostos principais até a comercialização final do medicamento.

Os estudos petrológicos muitas vezes requerem a identificação de composições minerais nas rochas, especialmente aquelas menos abundantes. Portanto, a análise qualitativa de minerais é a aplicação mais importante da difração de raios X no estudo da petrologia mineral.

O novo espectrômetro de raios X de imagem de grande área e alta resolução angular revelará os impulsionadores fundamentais da evolução galáctica que deixam sua marca no plasma quente que os cosmólogos acreditam existir no espaço intergaláctico

Um difratômetro de raios X é um instrumento usado para medir a tensão residual dentro de um material. Ao analisar o padrão de difração de raios X do material, a distribuição de tensões residuais dentro do material é calculada.