XRD, é a abreviação de difração de raios X, como pessoa material, não importa qual material seja feito, XRD é o meio mais comumente usado, o meio mais básico de caracterização.

Quando um feixe de raios X extremamente fino passa através de um material com uma densidade eletrônica irregular de tamanho nanométrico, os raios X se espalharão em uma pequena região angular próxima à direção do feixe original, esse fenômeno é chamado de pequeno ângulo X. - espalhamento de raios.

O espalhamento de raios X de pequeno ângulo é o espalhamento difuso de elétrons em raios X na faixa de ângulo pequeno próximo ao feixe original. O espalhamento de pequeno ângulo ocorre em todos os materiais com densidade eletrônica não uniforme na escala nanométrica.

A difração de raios X de pequeno ângulo (SAXD) é usada principalmente para determinar o espaçamento de faces cristalinas muito grandes ou a estrutura de filmes finos.

O uso de raios X para estudar a estrutura dos cristais principalmente através do fenômeno de difração de raios X no cristal.

A técnica de difração de raios X é um método analítico usado para estudar a estrutura de uma substância. Ele determina a estrutura de um cristal medindo o ângulo de difração de raios X no cristal.

XRD in situ, também conhecido como difração de raios X in situ, é uma técnica para fazer medições de difração de raios X durante uma estrutura ou transição de fase. Esta tecnologia pode monitorar a mudança dinâmica da estrutura do material sob força externa em tempo real.

XRD in-situ é uma das técnicas de caracterização avançada mais populares e desenvolvidas para estudar sistemas de baterias de íons de lítio e íons de sódio em processos eletroquímicos.

A tecnologia XRD desempenha um papel importante na pesquisa e desenvolvimento de materiais cerâmicos. Ele fornece uma base científica confiável para a síntese, otimização do processo de preparação, melhoria de desempenho e popularização de aplicações de materiais cerâmicos.

É difícil quantificar as fases amorfa e cristalina dos materiais cimentícios devido à complexidade das fases minerais na mistura e aos picos sobrepostos significativos. Excelentes resultados podem ser obtidos pelo refinamento Rietveld da amostra medida usando configurações de medição padrão.

Na pesquisa em ciência de materiais, a difração de raios X (XRD) é um método experimental importante. Através dos dados de XRD, podemos obter informações como tamanho de grão, distorção da rede e densidade de discordância.