Os principais indicadores dos materiais poliméricos incluem o tipo de polímero ou sua cristalinidade. Os polímeros também exibem microestruturas diferentes, o que também pode afetar as propriedades mecânicas dos materiais poliméricos.

Um indicador importante de XRD é que existe uma fonte de luz de raios X muito boa. A chamada boa fonte de luz de raios X geralmente se refere a alta intensidade, alto paralelismo e alta pureza. Este artigo apresentará uma das principais tecnologias do neoconfucionismo, o caminho óptico CBO.

O XRD pode medir amostras a granel e em pó e tem requisitos diferentes para diferentes tamanhos e propriedades de amostras.

O difratômetro global de raios X (XRD) tem se desenvolvido continuamente nos últimos anos e a China é um mercado com grandes perspectivas de desenvolvimento.

Tomando a escala de deposição como exemplo, este artigo apresenta como usar o difratômetro de raios X para fase qualitativa e análise quantitativa.

A aplicação de novas tecnologias e novos produtos, como 5G, big data e inteligência artificial, trará uma enorme demanda ao mercado de semicondutores, e os gastos globais com equipamentos de semicondutores entraram em um ciclo ascendente.

XRD de alta resolução (HR-XRD) é um método comum para medir a composição e espessura de semicondutores compostos, como SiGe, AlGaAs, InGaAs, etc.

O difratômetro de raios X (XRD) pode ser dividido em difratômetro de pó de raios X e difratômetro de cristal único de raios X, o princípio físico básico dos dois é o mesmo.

XRD é um meio de pesquisa que consiste na difração por difração de raios X de um material para analisar seu padrão de difração para obter informações como a composição do material, a estrutura ou forma dos átomos ou moléculas dentro do material.

A difração de raios X de incidência pastosa (GI-XRD) é um tipo de técnica de difração de raios X, que se diferencia do experimento XRD tradicional, principalmente por alterar o ângulo de incidência dos raios X e a orientação da amostra.

A difração de raios X (XRD) é atualmente um método poderoso para estudar a estrutura cristalina (como o tipo e distribuição de localização de átomos ou íons e seus grupos, formato e tamanho das células, etc.).

Com base na Lei de Bragg, a difração de raios X in-situ (XRD) pode ser usada para monitorar a mudança de fase e seus parâmetros de rede no eletrodo ou na interface eletrodo-eletrólito em tempo real durante o ciclo de carga-descarga de um bateria.