O difratômetro de cristal único de raios X é usado principalmente para determinar a estrutura espacial tridimensional e a densidade da nuvem de elétrons de substâncias cristalinas, como complexos inorgânicos, orgânicos e metálicos, e para analisar a estrutura de materiais especiais, como cristais gêmeos, não proporcionais, quasicristais, etc. Determinar o espaço tridimensional preciso (incluindo comprimento de ligação, ângulo de ligação, configuração, conformação e até mesmo densidade de elétrons de ligação) de novas moléculas compostas (cristalinas) e o arranjo real de moléculas na rede; Pode fornecer informações sobre os parâmetros da célula cristalina, grupo espacial, estrutura molecular do cristal, ligação de hidrogênio intermolecular e interações fracas, bem como informações estruturais, como configuração e conformação molecular. É amplamente utilizado em pesquisa analítica em cristalografia química, biologia molecular, farmacologia, mineralogia e ciência dos materiais.

está comprometida com a pesquisa e desenvolvimento, produção e vendas de difratômetros de raios X. A empresa atualmente possui difratômetros de raios X, difratômetros de mesa de raios X, difratômetros de cristal único de raios X, analisadores de cristal de raios X e outros produtos, que são vendidos tanto no mercado interno quanto internacional e receberam elogios unânimes da indústria.

O analisador de cristais de raios X da série TD é um instrumento analítico de larga escala usado para estudar a microestrutura interna de materiais. É usado principalmente para orientação de produto único, inspeção de defeitos, determinação de parâmetros de rede, determinação de tensões residuais, estudo da estrutura de placas e hastes e investigação da estrutura de substâncias desconhecidas e discordâncias de cristal único.

O uso do detector de pixel híbrido pode atingir a melhor qualidade de dados, garantindo baixo consumo de energia e baixo resfriamento. Este detector combina as principais tecnologias de contagem de fótons únicos e pixels híbridos, e é aplicado em vários campos, como radiação síncrotron e fontes de luz de laboratório convencionais, eliminando efetivamente a interferência de ruído de leitura e corrente escura. A tecnologia de pixel híbrido pode detectar raios X diretamente, facilitando a distinção de sinais, e o detector pode fornecer dados de alta qualidade com eficiência.

O instrumento de medição de ângulo multifuncional de alta precisão da Tongda Technology pode não apenas medir amostras de pó convencionais, mas também testar amostras líquidas, coloidais, viscosas, pós soltos e grandes amostras sólidas.

A Dandong Tongda Technology Co., Ltd. realiza um evento de formação de equipe todo verão para focar na sobrevivência e desenvolvimento dos funcionários, implementar cuidados humanísticos que cuidem, valorizem e respeitem as pessoas e estimulem a coesão, entusiasmo e vitalidade dos funcionários. A Tongda Technology Company é uma fabricante profissional de instrumentos de análise de raios X. A empresa atualmente possui difratômetros de raios X da série TD, difratômetros de cristal único de raios X, difratômetros de mesa de raios X, analisadores de cristais de raios X e outros produtos. O difratômetro de raios X é usado principalmente para análise qualitativa e quantitativa de fase, análise de estrutura de cristal, análise de estrutura de material, análise de orientação de cristal, determinação de estresse macroscópico ou microscópico, determinação de tamanho de grão, determinação de cristalinidade, etc. de amostras de pó, bloco ou filme.

O difratômetro de raios X é usado principalmente para análise qualitativa ou quantitativa de fases de amostra, análise de estrutura cristalina, determinação de cristalinidade, etc. Vários acessórios funcionais especiais e software de controle e aplicação correspondentes podem ser instalados de acordo com as necessidades reais para formar um sistema de difração com funções especiais. O difratômetro de raios X é um instrumento analítico de laboratório com alta precisão.

O padrão de difração de raios X serve como a base mais confiável para determinar padrões policristalinos, e o padrão de difração de raios X é frequentemente considerado como a "impressão digital" de padrões cristalinos.

A estrutura cristalina dos filmes de perovskita modificados pelo líquido iônico (ILs) BMIMAc sob vários tempos de recozimento foi caracterizada por difração de raios X.