O espectrômetro de estrutura fina de absorção de raios X (XAFS) é uma ferramenta poderosa para estudar a estrutura atômica ou eletrônica local de materiais, amplamente utilizada em campos populares como catálise, energia e nanotecnologia.

O difratômetro de raios X de mesa TDM-20 integra geração avançada de raios X, alta precisão goniométrica e detecção eficiente em um design compacto. Ele oferece análise de fase confiável para ciência de materiais, indústria farmacêutica e controle de qualidade industrial, com suporte global e certificações internacionais.

O difratômetro de raios X TD-5000 quebra o monopólio internacional em instrumentos científicos de alta tecnologia. Essa inovação chinesa oferece precisão excepcional (exatidão de 0,0001°) e recursos avançados de detecção, auxiliando pesquisadores nas áreas farmacêutica, de ciência dos materiais e química por meio de análises estruturais abrangentes.

Confiável mundialmente: o analisador de orientação de raios X da Dandong Tongda recebe certificações multinacionais No atual cenário global em rápida evolução de semicondutores, dispositivos ópticos e ciência dos materiais, a medição precisa da orientação de cristais tornou-se crucial para aprimorar a qualidade do produto e a eficiência da produção. Como desenvolvedora e fabricante especializada na área de instrumentos de análise de raios X, a Dandong Tongda Technology Co., Ltd. anuncia o lançamento de seu Analisador de Orientação de Raios X de alto desempenho. Este instrumento integra tecnologia avançada de difração de raios X com algoritmos inteligentes, fornecendo soluções de medição de orientação rápidas e precisas para indústrias relacionadas a cristais em todo o mundo. Princípio técnico: a integração perfeita da difração de raios X e da medição de precisão O Analisador de Orientação de Raios X opera com base na lei de difração de Bragg. Quando os raios X incidem na superfície do cristal, os planos atômicos regularmente dispostos dentro do cristal geram fenômenos de difração em ângulos específicos. Ao capturar esses sinais de difração com detectores de precisão e calcular os ângulos de difração, o instrumento pode determinar com precisão a orientação do cristal, fornecendo dados confiáveis ​​para corte e processamento subsequentes. Comparada aos métodos tradicionais de orientação, a tecnologia de orientação de cristais por raios X oferece vantagens significativas por ser não destrutiva, de alta precisão e altamente eficiente, garantindo resultados de medição confiáveis ​​sem danificar a amostra. O instrumento atinge uma precisão de medição de ± 30 segundos de arco (± 30″), com uma leitura mínima de 10 segundos de arco, atendendo aos requisitos de orientação da grande maioria dos materiais cristalinos. Série de produtos: Soluções abrangentes para diversas necessidades de aplicação Os analisadores de orientação de raios X da Dandong Tongda Technology incluem principalmente dois modelos básicos: o TYX-200 e o TYX-2H8. O modelo TYX-200, como versão base, apresenta um display digital com leitura mínima de 10″ e precisão de medição de ±30″, tornando-o adequado para necessidades rotineiras de orientação de materiais cristalinos. O modelo TYX-2H8 é uma atualização abrangente do TYX-200, apresentando uma estrutura de goniômetro aprimorada, trilhos de suporte de carga aprimorados e um estágio de amostra elevado. O TYX-2H8 pode medir amostras pesando de 1 a 30 kg com diâmetros de 2 a 8 polegadas. Certas configurações podem até ser estendidas para lidar com amostras pesando de 30 a 180 kg, com diâmetros de até 350 mm e comprimentos de até 480 mm. Para requisitos de pesquisa mais complexos, a empresa também oferece os Analisadores de Orientação de Raios X da série TDF, que utilizam tecnologia de controle PLC importada, oferecem uma faixa de tensão de tubo de 10 a 60 kV e permitem funcionalidades mais amplas, incluindo orientação de cristal único, detecção de defeitos e determinação de parâmetros de rede. Aplicações funcionais: uma ferramenta essencial para o processamento de cristais em vários setores O Analisador de Orientação de Raios X pode determinar com precisão e rapidez os ângulos de corte de monocristais naturais e sintéticos e, em coordenação com máquinas de corte, realizar o corte orientado. É um instrumento indispensável para a usinagem de precisão e fabricação de dispositivos de cristal. Na indústria de semicondutores, o instrumento é amplamente utilizado para inspecionar lingotes, wafers e chips, controlando processos como corte, retificação e polimento para garantir o desempenho consistente de dispositivos semicondutores. Para processamento de cristais ópticos e cristais a laser, o instrumento pode determinar com precisão a orientação dos cristais, garantindo que o desempenho óptico dos dispositivos ópticos atenda aos requisitos de projeto e melhorando o rendimento do produto. Particularmente na área de processamento de cristais de safira, o instrumento pode atender simultaneamente aos requisitos de medição para as orientações dos cristais de safira A, C, M e R, com uma faixa de medição ajustável eletricamente de 0 a 45°, adaptando-se a necessidades complexas de processamento. Na indústria de joias e pedras preciosas, o instrumento auxilia na orientação precisa de pedras preciosas, aumentando a precisão do corte e o valor dos produtos acabados, ajudando os fabricantes a maximizar os efeitos ópticos e o valor comercial das pedras preciosas. Características do produto: Design inovador que aprimora a experiência do usuário Os analisadores de orientação de raios X da Dandong Tongda Technology incorporam vários recursos inovadores que melhoram significativamente a praticidade e a confiabilidade do instrumento. Fácil operação: o instrumento pode ser operado sem conhecimento profissional ou habilidade extensa, diminuindo a barreira de uso e reduzindo o tempo de treinamento de pessoal. Visor digital: o visor digital de ângulo proporciona observação intuitiva, reduz erros de leitura e pode ser zerado em qualquer posição, facilitando a exibição direta do desvio do ângulo do wafer. Design eficiente: alguns modelos são equipados com goniômetros duplos que podem operar simultaneamente, melhorando muito a eficiência da inspeção. Precisão aprimorada: um integrador especial com amplificação de pico melhora a precisão da detecção, e uma placa de amostra de sucção a vácuo garante um posicionamento estável da amostra. Confiabilidade e durabilidade: O design integrado do tubo de raios X e do cabo de alta tensão aumenta a confiabilidade da alta tensão. O detector de alta tensão utiliza um módulo de alta tensão CC, garantindo uma operação estável a longo prazo. Proteção de Segurança: O instrumento utiliza vidro de chumbo de alta densidade e alta transmitância como escudo protetor contra raios X. A dose de radiação externa não excede 0,1 µSv/h, atendendo aos padrões internacionais de segurança. Configuração de palco de amostra: adaptação flexível a diversas necessidades de medição Para atender aos requisitos de medição de amostras de diferentes formatos e tamanhos, a Dandong Tongda Technology oferece várias configurações de estágio de amostra: Plataforma de Amostragem Tipo TA: Projetada especificamente para hastes de cristal cilíndricas, equipada com trilhos de suporte de carga. Pode medir hastes de cristal pesando de 1 a 30 kg com diâmetros de 2 a 6 polegadas (expansível para 8 polegadas) e pode medir a superfície de referência de cristais em forma de haste ou a superfície de wafers de cristal em forma de folha. Platina de amostra tipo TB: Também projetada para hastes de cristal cilíndricas, ela incorpora trilhos de suporte em forma de V e pode medir hastes de cristal de até 500 mm de comprimento, tornando-a particularmente adequada para medir as faces finais de cristais em forma de haste. Platina de Amostragem Tipo TC: Utilizada principalmente para detectar a superfície de referência da circunferência externa de wafers de cristal único, como silício e safira. Seu design aberto supera problemas de obstrução de raios X e imprecisões de posicionamento causadas por placas de sucção. Plataforma de Amostragem Tipo TD: Projetada especificamente para medições multipontos de wafers como silício e safira. A lâmina pode ser girada manualmente na plataforma (por exemplo, 0°, 90°, 180°, 270°) para atender aos requisitos específicos de medição do cliente. Mercado global: capacitando clientes internacionais a alcançar avanços tecnológicos Os produtos da Dandong Tongda Technology Co., Ltd. entraram com sucesso no mercado internacional, exportando para diversos países e regiões, incluindo Estados Unidos, Coreia do Sul, Irã, Azerbaijão, Iraque e Jordânia. Seguindo os princípios de "Cliente em Primeiro Lugar, Produto em Primeiro Lugar, Serviço em Primeiro Lugar", a empresa oferece aos usuários globais produtos de alta tecnologia e alta qualidade, além de suporte técnico abrangente. Para clientes no exterior, a empresa oferece consultoria técnica completa e serviço pós-venda, incluindo treinamento operacional, suporte de manutenção e fornecimento de peças de reposição, garantindo que os usuários não tenham preocupações. Atendendo às necessidades de clientes em diferentes regiões, a empresa também pode fornecer soluções personalizadas, incluindo projeto especial de estágio de amostra e ajustes de software de medição, garantindo que o instrumento se adapte perfeitamente a cenários de aplicação específicos. Interfaces de operação multilíngues e documentação técnica detalhada em inglês reduzem ainda mais a barreira de uso para clientes no exterior e aprimoram a experiência do usuário internacional. O Analisador de Orientação de Raios X da Dandong Tongda Technology não é apenas uma ferramenta de medição, mas um parceiro estratégico para aumentar a competitividade corporativa. Ele pode reduzir significativamente o ciclo de P&D de materiais cristalinos, otimizar os processos de produção, garantir a qualidade do produto e criar valor tangível para a indústria global de fabricação de cristais. Seja na fabricação de chips semicondutores, no processamento de componentes ópticos ou na pesquisa de novos materiais, escolher a Dandong Tongda Technology significa optar por uma solução de orientação de cristais confiável, eficiente e precisa.

Dandong Tongda Science and Technology Co., Ltd. is a high-tech enterprise specializing in the research, development, and production of X-ray analysis instruments. Its flagship product, the TD-3700 X-Ray Diffractometer , integrates rapid analysis, user-friendly operation, and robust safety features. The perfect synergy between its modular hardware and customized software systems makes it a powerful tool for research fields such as materials science, chemistry, and mineralogy. TheTD-3700 X-Ray Diffractometer demonstrates significant advantages in both detection technology and measurement modes, enabling it to meet a wide range of analytical demands. Core Technology and Performance High-Performance Detectors: The instrument can be equipped with optional high-speed 1D array detectors (e.g., MYTHEN2R), SDD detectors, or 2D detectors. Utilizing hybrid photon counting technology, it operates with no readout noise, achieves data acquisition speeds tens to hundreds of times faster than traditional scintillation detectors, and effectively eliminates fluorescence effects for excellent energy resolution. For instance, the 1D array detector features 640 channels with a remarkably short readout time of just 89 microseconds, contributing to an outstanding signal-to-noise ratio. Flexible Scanning Modes: The TD-3700 X-Ray Diffractometer supports two primary data scanning methods: conventional reflection (diffraction) mode and transmission mode. The transmission mode provides higher resolution, making it suitable for analyzing limited samples or conducting structural analysis. The reflection mode offers a stronger signal, which is more appropriate for routine phase identification in laboratory settings. This flexibility enables the instrument to handle a wide variety of sample types, ranging from trace amounts of powder and bulk solids to even liquids and viscous samples. Precision Goniometer System: It employs a θS-θd vertical goniometer where the sample remains horizontal and stationary during measurement. This design not only facilitates easier sample preparation but also helps prevent potential corrosion of the goniometer's axis system by samples, thereby extending its operational lifespan. With a wide 2θ scanning range (-110° to 161°) and exceptional repetitive accuracy of 0.0001°, it ensures highly precise and repeatable measurements. Instrument Features & Safety Assurance The TD-3700 X-Ray Diffractometer is designed with a strong emphasis on user experience and operational safety. User-Friendly Design: Effortless Operation: Features a one-click acquisition system and incorporates a touchscreen interface for real-time monitoring of instrument status. Modular Design: Components are designed for plug-and-play functionality, requiring no calibration and ensuring straightforward maintenance. Comprehensive Safety Protection: Incorporates an electronic lead door interlock system for dual-layer protection, ensuring user safety. External radiation leakage from the protection system is ≤ 0.1μSv/h, complying with stringent international safety standards. Includes multiple protective functions against excessively high/low kV, excessively high/low mA, water flow failure, and X-ray tube overheating. Stable & Reliable System: Utilizes a high-frequency, high-voltage X-ray generator known for its stable and reliable performance, with system stability ≤ 0.005%. The integrated recirculating chiller has a built-in cooling function, eliminating the need for an external water circulation unit. Applications & Global Recognition The TD-3700 X-Ray Diffractometer is widely used for qualitative/quantitative phase analysis, crystal structure analysis, materials structure research, grain size determination, and crystallinity measurement.

O Mini Difratômetro de Raios X TDM-20 é um instrumento analítico de bancada de alto desempenho desenvolvido e fabricado pela Dandong Tongda Technology Co., Ltd. É utilizado principalmente para análise de fase de materiais policristalinos, como pós, sólidos, amostras a granel e pastas. Utilizando o princípio da difração de raios X, o instrumento permite análises qualitativas e quantitativas, análise da estrutura cristalina e outras funções. Ele encontra amplas aplicações em diversos campos, incluindo indústria, agricultura, defesa, farmacêutica, mineralogia, segurança alimentar, petróleo e pesquisa educacional. O Difratômetro de Raios X de Bancada TDM-20 rompe a limitação convencional de 600 W, fornecendo uma potência máxima de saída de 1200 W para desempenho de alta potência. Além disso, incorpora uma fonte de alimentação de alta frequência e alta tensão, resultando em menor consumo geral de energia. Possui tecnologia de goniômetro de alta precisão com repetibilidade angular de 0,0001°, precisão de medição da posição do pico de difração de 0,001° e linearidade do ângulo de difração de perfil completo de ±0,010°. O instrumento incorpora um sistema de controle avançado baseado na tecnologia PLC (Controlador Lógico Programável) e um design modular para operação precisa. Para detecção, pode ser equipado com um detector proporcional ou um novo detector de matriz de alto desempenho, melhorando significativamente o desempenho geral e a velocidade de aquisição de dados. O TDM-20 também oferece opções de configuração altamente flexíveis, suportando uma variedade de acessórios, como um estágio de amostra rotativo, um detector de matriz 1D e um trocador de amostra automático de 6 posições. O Mini Difratômetro de Raios X TDM-20 se destaca ainda mais por sua significativa vantagem: ser compacto e portátil, com dimensões reduzidas e baixo peso. É reconhecido como um dos menores difratômetros de raios X de bancada do mundo, o que o torna altamente adequado para ambientes laboratoriais com espaço limitado. Além disso, o instrumento possui um esquema de proteção de isolamento triplo livre de interferências. A radiação de vazamento de raios X é mantida em ≤ 0,12 μSv/h, garantindo a conformidade com a norma de proteção GBZ 115-2002. Portanto, o uso do Mini Difratômetro de Raios X TDM-20 é comprovadamente seguro e confiável. O Mini Difratômetro de Raios X TDM-20 integra alta potência, alta precisão e design compacto em uma única plataforma. Ele transcende as limitações dos difratômetros de raios X tradicionais de grande porte, oferecendo uma solução de análise de materiais eficiente, conveniente e confiável para diversos setores. Com seu desempenho técnico avançado, suporte de serviço abrangente e operação flexível, o TDM-20 serve como uma ferramenta poderosa para análise de materiais em laboratório. Se você tiver alguma necessidade de equipamento de difração de raios X, convidamos você a escolher os produtos da Dandong Tongda Science and Technology Co., Ltd.

O trocador automático de amostras adota um acionamento por motor de passo importado e um controlador lógico programável (CLP) como sistema de controle central. A seleção desses dois componentes principais garante significativamente a precisão, a estabilidade e a confiabilidade a longo prazo da operação do equipamento. O fluxo de trabalho do trocador automático de amostras foi projetado para ser simples e eficiente: O operador pré-carrega até seis amostras sequencialmente em posições designadas do trocador de amostras. Após definir os parâmetros de medição por meio do sistema de controle, o trocador de amostras inicia a operação. Seguindo as instruções do programa, ele entrega automaticamente e com precisão cada amostra em sequência para a posição de medição do difratômetro de raios X. Assim que a medição de uma amostra é concluída, o dispositivo a remove automaticamente e entrega rapidamente a próxima amostra até que todas as amostras sejam medidas. Os dados de medição são salvos automaticamente, facilitando a revisão e análise subsequentes e reduzindo erros de registro que podem surgir de operações manuais. Todo o processo não requer intervenção manual, permitindo que o operador libere tempo para outras tarefas e evitando possíveis erros relacionados à fadiga decorrentes de operação prolongada. Além da função básica de troca automática de amostra, o equipamento também possui vários recursos dignos de nota: Aumento da eficiência: permite a medição automática contínua e autônoma, tornando-o particularmente adequado para triagem rápida de amostras em lote ou análise sequencial por longos períodos. Consistência de dados: o processo automatizado reduz a intervenção humana, ajudando a melhorar a repetibilidade e a comparabilidade dos dados de medição. Facilidade de operação: O sistema de controle baseado em CLP é normalmente estável e fácil de usar, reduzindo o limite operacional. Aplicação flexível: usada principalmente em áreas como proteção ambiental, eletrônicos/baterias e outras áreas que exigem tecnologias de análise de materiais. Este trocador automático de amostras atende principalmente ao campo de aplicação de análise de difração de raios X (XRD). A Dandong Tongda Science and Technology Co., Ltd. acumulou experiência na área de instrumentos analíticos. Sua série TD de instrumentos analíticos e equipamentos de ensaios não destrutivos é aplicada em diversos campos de pesquisa de materiais. Este trocador automático de amostras de 6 (ou 12) posições reflete a abordagem da empresa de integrar tecnologia de automação em equipamentos de ensaio tradicionais para aumentar a eficiência geral. Como acessório funcional, ele funciona em coordenação com difratômetros de raios X, aprimorando as capacidades de automação do instrumento hospedeiro.

O Difratômetro de Raios X de Cristal TD-5000 é um instrumento de alto desempenho desenvolvido pela Dandong Tongda Technology. Aprovado no âmbito do Projeto Nacional de Desenvolvimento de Instrumentos e Equipamentos Científicos Chave da China, ele preenche uma lacuna crítica no mercado doméstico neste campo. Sua função principal é determinar a estrutura espacial tridimensional e a distribuição da densidade eletrônica de substâncias cristalinas — incluindo compostos inorgânicos, compostos orgânicos e complexos metálicos —, além de analisar estruturas de materiais especiais, como cristais geminados, estruturas moduladas incomensuravelmente e quasicristais. Ele mede com precisão a estrutura espacial tridimensional precisa de novos compostos cristalinos (incluindo comprimentos de ligação, ângulos de ligação, configuração, conformação e densidade eletrônica de ligação) e o arranjo real das moléculas dentro da rede cristalina. O sistema fornece informações estruturais abrangentes, como parâmetros de célula unitária, grupo espacial, estrutura molecular, ligações de hidrogênio intermoleculares e interações fracas, e configuração/conformação molecular. É amplamente utilizado em pesquisas analíticas em cristalografia química, biologia molecular, farmacologia, mineralogia e ciência dos materiais. Tecnologia de núcleo: uma dupla revolução em precisão e inteligência (1) O “Olho Mecânico” com Posicionamento em Nível Atômico Difratômetro concêntrico de quatro círculos: supera as limitações tradicionais de deslocamento mecânico, mantendo um centro rotacional constante para garantir que os erros de coordenadas do ponto de difração permaneçam abaixo do nível nanométrico. Detector PILATUS: Combina tecnologia de contagem de fótons individuais com pixels ultrafinos de 172 μm. Alcança taxas de quadros de até 20 Hz, com capacidade de supressão de ruído 3 vezes maior do que os detectores CCD convencionais. (2) Fluxo de trabalho de circuito fechado totalmente inteligente Controle PLC One-Touch: automatiza todo o processo, desde o posicionamento do cristal até a aquisição de dados, reduzindo o tempo de operação manual em 90%. Sistema de aprimoramento criogênico: possui controle de temperatura de precisão de ±0,3 K (100K–300K), aumentando a intensidade do sinal para cristais de difração fraca em 50% com consumo de nitrogênio líquido de apenas 1,1–2 L/h. (3) Dupla garantia: segurança e expansibilidade Intertravamento de porta de chumbo + proteção contra vazamentos (≤0,12 µSv/h), excedendo os padrões nacionais de segurança. Óptica de foco multicamadas opcional (alvo duplo Mo/Cu), permitindo análise em larga escala, desde produtos farmacêuticos de pequenas moléculas até minerais com grandes células unitárias. O advento do Difratômetro de Raios X de Cristal TD-5000 representa mais do que um avanço instrumental — ele marca a era em que os equipamentos de pesquisa científica de ponta da China alcançam oficialmente a definição de precisão autônoma. Até 2025, este sistema já havia atendido mais de 30 instituições líderes em áreas como química, ciência dos materiais e aeroespacial. À medida que os cristais revelam os segredos da vida sob o olhar investigativo de instrumentos desenvolvidos internamente, o "olho científico que discerne a essência da matéria" da China agora brilha com uma clareza impressionante.

Destaque do produto: Soluções de análise de cristais por raios X da Dandong Tongda A Dandong Tongda Science and Technology apresenta seu avançado equipamento de análise de cristais por raios X, oferecendo precisão e confiabilidade para aplicações industriais. O analisador de cristais por raios X da série TDF combina recursos analíticos avançados com confiabilidade de nível industrial. Com quatro janelas operacionais e tecnologia de controle PLC, ele atende a setores de manufatura de ponta, incluindo inspeção de wafers semicondutores, avaliação de tensão em componentes aeroespaciais e processamento de cristais a laser. Nossos Orientadores de Cristal por Raios X (TYX-200/TYX-2H8) permitem a medição rápida e precisa dos ângulos de corte de cristais com exatidão de até ±30 segundos de arco. Capazes de manusear amostras de até 30 kg, esses instrumentos suportam o corte direcional de cristais piezoelétricos, ópticos, a laser e semicondutores. Ambas as linhas de produtos utilizam tecnologia de difração de raios X não destrutiva, substituindo os métodos radioativos tradicionais e, ao mesmo tempo, melhorando a eficiência e a precisão do processamento para pesquisa e fabricação de materiais cristalinos.

O analisador de cristais de raios X da série TDF é um instrumento analítico de larga escala usado para estudar a microestrutura interna de substâncias. É usado principalmente para orientação de cristais simples, inspeção de defeitos, determinação de parâmetros de rede, determinação de tensões residuais, estudo da estrutura de placas e hastes, estudo da estrutura de substâncias desconhecidas e deslocamentos de cristais simples.

O difratômetro de raios X de alta potência TDM-20 (XRD de bancada) é usado principalmente para análise de fase de pós, sólidos e materiais pastosos semelhantes. O princípio da difração de raios X pode ser usado para análise qualitativa ou quantitativa, análise de estrutura cristalina e outros materiais policristalinos, como amostras de pó e amostras de metal. É amplamente usado em indústrias como indústria, agricultura, defesa nacional, produtos farmacêuticos, minerais, segurança alimentar, petróleo, educação e pesquisa científica.

O difratômetro de raios X é usado principalmente para análise qualitativa e quantitativa de fase, análise de estrutura de cristal, análise de estrutura de material, análise de orientação de cristal, determinação de tensão macroscópica ou microscópica, determinação de tamanho de grão, determinação de cristalinidade, etc. de amostras de pó, bloco ou filme. Produzido pela Dandong Tongda Technology Co., Ltd. adota controle PLC Siemens importado, o que faz com que o difratômetro de raios X TD-3500 tenha as características de alta precisão, alta precisão, boa estabilidade, longa vida útil, fácil atualização, fácil operação e inteligência, e pode se adaptar flexivelmente a análises de teste e pesquisa em vários setores!