O analisador de cristal de raios X da série TDF é um instrumento de raios X de larga escala usado para estudar a microestrutura interna de substâncias. Ele utiliza o princípio de interação entre raios X e cristal para determinar o arranjo atômico dentro do cristal analisando o padrão de difração de raios X. Usado principalmente para orientação de cristal único, inspeção de defeitos, determinação de parâmetros de rede, determinação de tensão residual, estudo da estrutura de placa e haste, investigação da estrutura de substâncias desconhecidas e deslocamentos de cristal único. O analisador de cristal de raio X, como um instrumento de raio X, fornece informações valiosas para pesquisa em ciência de materiais e outros campos relacionados. Com o avanço contínuo da tecnologia e a expansão de aplicações, o analisador de cristal de raio X continuará a desempenhar um papel importante na pesquisa científica e na produção industrial.

O instrumento de orientação automática de raios X é um dispositivo que usa o princípio de difração de raios X para determinar a estrutura cristalina, orientação e parâmetros de rede. Ele tem uma ampla gama de aplicações em ciência de materiais, geologia, física e química, especialmente no estudo da microestrutura e propriedades de monocristal, materiais policristalinos e materiais de filme fino. O seguinte fornecerá uma introdução detalhada ao princípio de funcionamento, aplicação e precauções operacionais do orientador de cristal de raios X. Com o avanço da tecnologia, os dispositivos de instrumentos de orientação de raios X automáticos continuam a melhorar, com maior resolução e operação mais fácil. Ao mesmo tempo, a combinação com outras técnicas analíticas, como microscopia eletrônica e análise espectroscópica, torna a análise da estrutura cristalina mais abrangente e aprofundada. Além disso, dispositivos analisadores de orientação de raios X de monitoramento portátil e online se desenvolveram gradualmente, fornecendo possibilidades para análise no local e monitoramento em tempo real. Em resumo, o analisador de orientação de raios X é uma ferramenta analítica poderosa que é crucial para entender e controlar a microestrutura de materiais. Com o desenvolvimento contínuo da tecnologia, sua aplicação em vários campos se tornará mais extensa e aprofundada.

Os acessórios de medição integrados multifuncionais são usados ​​para analisar filmes em placas, blocos e substratos, e podem executar testes como detecção de fase de cristal, orientação, textura, estresse e estrutura no plano de filmes finos. Os acessórios de medição integrados multifuncionais são normalmente projetados para aprimorar a funcionalidade do difratômetro de raios X, permitindo que eles se adaptem a necessidades de testes mais diversas. Há uma relação próxima entre os acessórios de medição integrados multifuncionais e o difratômetro de raios X. Esses acessórios não apenas aprimoram a funcionalidade e o desempenho do difratômetro de raios X, mas também melhoram sua facilidade de operação e segurança. Em aplicações práticas, os usuários podem escolher acessórios adequados de acordo com suas necessidades específicas para expandir os cenários de aplicação do difratômetro de raios X e melhorar a eficiência da medição.

Tubos de raios X projetados especificamente para instrumentos analíticos: tubos cerâmicos corrugados, tubos de cermet e tubos de vidro, adequados para vários modelos de XRD, XRF, analisadores de cristal e instrumentos de orientação no país e no exterior. Parâmetros técnicos dos tubos de raios X: 1. Tipos de materiais alvo opcionais: Cu, Co, Fe, Cr, Mo, Ti, W, etc. 2. Tipo de foco: 0,2 × 12 mm² ou 1 × 10 mm² ou 0,4 × 14 mm² (foco fino)

Originalmente acessório de bateria, faixa de teste: 0,5-160 graus, resistência à temperatura: 400 ℃, janela de berílio (filme de poliéster) tamanho: diâmetro 15 mm (personalizável); Espessura 0,1 mm (personalizável). Eles são amplamente utilizados como acessórios de difratômetro de raios X em sistemas eletroquímicos contendo carbono, oxigênio, nitrogênio, enxofre, complexos metálicos incorporados, etc. Originalmente acessório de bateria é usado para fixar todo o Originalmente bateria ​ estágio de amostra no instrumento de medição de ângulo do difratômetro de raios X, servindo como uma conexão e suporte.

O acessório de medição de filme óptico paralelo é uma ferramenta especializada para análise de difração de raios X, que filtra mais linhas dispersas aumentando o comprimento da placa de grade, reduzindo assim a influência do sinal do substrato nos resultados e aumentando a intensidade do sinal do filme fino. No campo da ciência dos materiais, o acessório de medição de filme óptico paralelo é comumente usado para estudar a estrutura cristalina, o comportamento de transição de fase e o estado de tensão de materiais de filme fino. Com o desenvolvimento da nanotecnologia, o acessório de medição de filme óptico paralelo também tem sido amplamente usado em testes de espessura e análise de difração de pequeno ângulo de filmes nano multicamadas. O design e a fabricação do acessório de medição de filme óptico paralelo buscam alta precisão para atender aos requisitos de pesquisa científica e produção industrial para precisão de dados. Durante o uso, o acessório de medição de filme óptico paralelo precisa manter um alto grau de estabilidade para garantir a confiabilidade dos resultados do teste. Com o avanço da tecnologia e o desenvolvimento da indústria, a demanda por instrumentos analíticos de alta precisão e alta estabilidade está aumentando constantemente. O acessório de medição de filme óptico paralelo, como um componente importante, também está experimentando um crescimento sustentado da demanda do mercado. Para atender à demanda do mercado e melhorar o desempenho do produto, a tecnologia do acessório de medição de filme óptico paralelo está constantemente inovando e melhorando. Por exemplo, melhorar o material e o design das placas de grade, otimizar o sistema óptico e outros meios podem aumentar o efeito de filtragem e a capacidade de aprimoramento do sinal. Em resumo, o acessório de medição de filme óptico paralelo desempenha um papel crucial na análise de difração de raios X. Com o avanço da tecnologia e o desenvolvimento da indústria, suas perspectivas de aplicação se tornarão ainda mais amplas.

Os acessórios de fibra são testados quanto à sua estrutura cristalina única usando o método de difração de raios X (transmissão). Teste a orientação da amostra com base em dados como cristalinidade da fibra e largura de meio pico. Os acessórios de fibra têm uma ampla gama de aplicações em vários campos, incluindo ciência de materiais, biomedicina, engenharia química, nanotecnologia, exploração geológica, monitoramento ambiental e muito mais.

O sistema irradiador de raios X do gabinete gera raios X de alta energia para irradiar células ou pequenos animais. Usado para várias pesquisas básicas e aplicadas. Na história, o equipamento irradiador de isótopos radioativos tem sido usado, o que requer o transporte de amostras para uma instalação de irradiação central. Hoje, dispositivos irradiadores de raios X menores, mais seguros, mais simples e de menor custo podem ser instalados em laboratórios para irradiação conveniente e rápida de células. Várias amostras podem ser irradiadas diretamente no laboratório sem afetar a fertilidade ou a segurança. Este dispositivo irradiador de raios X biológico é conveniente para pessoal sem treinamento profissional em raios X para usar, e não há aplicações de licença caras ou custos de manutenção para fontes de segurança ou radiação. O instrumento irradiador de raios X é fácil de operar, seguro, confiável e econômico, e pode substituir fontes de isótopos radioativos.

O analisador de orientação de raios X é um dispositivo que usa o princípio da difração de raios X para determinar a orientação do cristal. É amplamente usado em campos como ciência de materiais, geologia, física, etc., para estudar estrutura de cristal, parâmetros de rede, defeitos de cristal, etc. O princípio de funcionamento de um analisador de orientação de raios X é irradiar um feixe de raios X monocromático no cristal em teste. Quando o raio X interage com átomos no cristal, ocorre espalhamento. De acordo com a lei de Bragg, quando o comprimento de onda dos raios X é um múltiplo inteiro do espaçamento atômico em um cristal, a luz espalhada interferirá e formará uma série de listras brilhantes e escuras alternadas, conhecidas como reflexão de Bragg. Ao medir os ângulos e intensidades dessas reflexões de Bragg, informações como orientação do cristal e parâmetros de rede podem ser calculadas. O analisador de orientação de raios X geralmente inclui as seguintes partes principais: 1. Fonte de raios X: um dispositivo que produz raios X monocromáticos, normalmente usando um tubo de raios X ou uma fonte de radiação síncrotron. 2. Plataforma de amostra: uma plataforma usada para colocar o cristal a ser testado, que pode ajustar a posição e o ângulo do cristal. 3.Detector: usado para receber raios X dispersos e convertê-los em sinais elétricos. Detectores comuns incluem contadores de cintilação, contadores proporcionais, etc. 4.Sistema de aquisição e processamento de dados: usado para coletar sinais emitidos por detectores e executar processamento e análise de dados. Geralmente inclui analisadores multicanal, computadores e outros equipamentos. 5. Sistema de controle: usado para controlar o movimento da fonte de raios X, do estágio da amostra e do detector para obter medições de cristais em diferentes direções. Ao usar um analisador de orientação de raios X, os pesquisadores podem determinar com precisão a orientação e os parâmetros de rede dos cristais, obtendo assim uma compreensão mais profunda de sua estrutura e propriedades. Isso é de grande importância para o desenvolvimento de novos materiais, exploração geológica, crescimento de cristais e outros campos.

O difratômetro de cristal único de raios X TD-5000 é usado principalmente para determinar a estrutura espacial tridimensional e a densidade de nuvem de elétrons de substâncias cristalinas, como complexos inorgânicos, orgânicos e metálicos, e para analisar a estrutura de materiais especiais, como cristais gêmeos, não proporcionais, quasicristais, etc. Determine o espaço tridimensional preciso (incluindo comprimento de ligação, ângulo de ligação, configuração, conformação e até mesmo densidade de elétrons de ligação) de novas moléculas compostas (cristalinas) e o arranjo real de moléculas na rede; O difratômetro de raios X de cristal único pode fornecer informações sobre parâmetros de células de cristal, grupo espacial, estrutura molecular de cristal, ligação de hidrogênio intermolecular e interações fracas, bem como informações estruturais, como configuração e conformação molecular. O XRD de cristal único é amplamente usado em pesquisas analíticas em cristalografia química, biologia molecular, farmacologia, mineralogia e ciência dos materiais. O difratômetro de cristal único adota a técnica de concentricidade de quatro círculos para garantir que o centro do instrumento de medição de ângulo permaneça inalterado independentemente da rotação, atingindo o objetivo de obter os dados mais precisos e obter maior integridade. A concentricidade de quatro círculos é uma condição necessária para a varredura convencional de cristal único. O pessoal técnico da empresa concluiu a instalação e a depuração do difratômetro de raios X de cristal único estrangeiro, e os resultados dos testes satisfizeram muito os usuários estrangeiros. Ao mesmo tempo, a funcionalidade, estabilidade e serviço pós-venda do instrumento receberam elogios unânimes de usuários estrangeiros.

O difratômetro de raios X de mesa TDM-20 é usado principalmente para análise de fase de pós, sólidos e materiais pastosos semelhantes. O XRD de bancada utiliza o princípio do difratômetro de raios X para realizar análises qualitativas ou quantitativas, análises de estrutura cristalina e outros materiais policristalinos, como amostras de pó e amostras de metal. O difratômetro de raios X de mesa TDM-20 é amplamente usado em indústrias como indústria, agricultura, defesa nacional, farmacêutica, minerais, segurança alimentar, petróleo, educação e pesquisa científica. O carregamento de um novo detector de matriz de alto desempenho levou a uma melhoria significativa no desempenho do XRD de bancada. O equipamento XRD de bancada tem pequeno volume e peso leve; A potência de trabalho da fonte de alimentação de alta tensão Benchtop XRD pode chegar a 1600 watts; O XRD de bancada pode calibrar e testar amostras rapidamente; O controle do circuito XRD de bancada é simples e fácil de depurar e instalar; A repetibilidade do ângulo XRD de bancada pode chegar a 0,0001.

O difratômetro de raios X de alta resolução TD-3700, com todas as vantagens do difratômetro de raios X TD-3500, é equipado com um detector de matriz de alto desempenho. Comparado a detectores de cintilação ou detectores proporcionais, a intensidade do cálculo de difração pode ser aumentada em várias dezenas de vezes, e padrões de difração completos de alta sensibilidade e alta resolução e maior intensidade de contagem podem ser obtidos em um período de amostragem mais curto. O difratômetro de raios X de alta resolução TD-3700 suporta tanto métodos convencionais de varredura de dados de difração quanto métodos de varredura de dados de transmissão. A resolução do modo de transmissão é muito maior do que a do modo de difração, o que é adequado para análise estrutural e outros campos. O modo de difração tem sinais de difração fortes e é mais adequado para identificação de fase de rotina no laboratório. Além disso, no modo de transmissão, a amostra de pó pode estar em quantidades vestigiais, o que é adequado para aquisição de dados em casos em que o tamanho da amostra é relativamente pequeno e não atende aos requisitos do método de difração para preparação de amostra.